Патент ссср 158801

Авторы патента:

G03C5/02 - сенситометрия, например определение светочувствительности, цветочувствительности, градации, зернистости, плотности светочувствительных материалов; изготовление сенситометрических клиньев

Класс G 01п; 57с, 4

N 15880!

СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Х1. ОЮЗНМ

1 и и т110тлнопс«дд

Подписная группа М 285! пи0ТЕ1 д

В. А. Реэбен, A. Д. Яагосильд и В. И. Кийс"вЂ”

ФОТОЭЛЕКТРИЧГСКИЙ ДЕНСИТОМЕТР ДЛЯ ГРАФИЧЕСКОГО

ПОСТРОЕНИЯ КРИВОЙ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЩЕСТВА

ПО ЭЛЕКТРОФОРЕГPAMMi . ИЛ И ХРОМАТОГРАММЕ

Заявлено 8 января 1968 r.."à М 812674/26-10 в Комитет по делам изобретений и от;<рыти11 ири Совете Министров СССР

Опубликовано в «Гиоллетеие пзобрс EHll. t и товарнь1х знаков» Хв 22 за 1968 r. известные фотоэлектпические денситоме1ры для графического построения кривой распределения вещества по электрофореграмме или хроматограмме, основанные на сканировании изображения лучом, не позволяют повысить чувствительность и -,î÷íîñòü измерения по основному закону абсорбционной спектрографии.

Описываемый 11>отоэлсктричеeK:Ikl eaclITovteTp дает T2KV Io B03v10>КБОсть бл агод21ря том j, что си 2 0>кен tloaopoT11011 приз мои н 1(ач 2101ци мся

Зepкaлом, формиpx 10!цнз! дзy ц";eтныit луч, cканируlощнlt и=-Обр2жение, а позади измеряемой электрофореграммы установлен фотоэлектронный умножитель, вь.ход котор го сосдинен с интегрирующим фотометром измерения логариа>ма отношения интенспвностеи луча в каждом из цветов.

На фиг. 1 приведена о-,тико-кинематическая схема поедложенного фотоэлектрическо"o денситометра; 112 фиг. 2 вЂ” электрон ;!ая схема гпlтегрирующего фотометра измерения логарифма отногцсния интенсивностей луча в двух цвез av.

Фотоэлектрич("ский денситометр содерж IT исто пшк света 1, днаl>рггму 2 с коллиматорнымн линзамч 8, поворотную призму 4 и ка latoщееся зеркало 5, формирующее двухцветный луч, сканирующий пзобра>кение, размещенное на отца>к;.011 ленте 6. Прошедш;1й через бумажьую ленту луч матоьым отра>катслсм l Ilaïðaв,-яется -1ерез камеру 8 в фстоэлсктро; ный умно>китель .9, к(выход;. 10 ко-,орого подсоса!t:,ña интегрир 10ший фо" 0 1стр (12 iepTO>t(e lie пОказан) 113>lерсния лог2рнфма отнон1ения интенc)IBktocTe луча в двух цветах. № 158801

Бумс1>кная лента б дискретно Iic",рсмсщается со скоростью 1 It>it/сек, а луч света движется по ней в поперечном награвлении возвратнопоступательно со скоростьк 7 цикла в 1 се«. Во время прохо>кдения луча по бумажной лепте в одну сторону поворотом призмы 4 включается желгый луч, которыи дает максюим поглощения для красителсй типа амидо-черный H бромфснол-синии. При обратном движении л7 1 Гlроходит по том 1 ?ке уч ас1 кд бдчм аги, и поВоротом п17изм6l 4 Включается темно-кргснь1й луч. Развертка луча в поперечном направлении п1роизводится ка 1ающГГAIcH acpi:алом J. Бумага передвигается QHcKpeTно в конце каждого никла (2 раза в 1 cell по 0,5»»t).

Интегрирование после логарифмического фотометра производится зарядом переключае.;1ого конденсатора Сд, который заряжается к Коацу цикла напряжением

Уя Уi >t. <1 >, с>к1 вЂ” log Г1>Лд dy вЂ” log ГМ, dy = log Фл, dy, Уi

У1 где ФХд и ФЛ,вЂ” све1овой поток, соответствующий длине волны.

В конце цикла заряд с конденсатора Сд переносится к запоминающему конденсатору С, и конденсатор Сд разряжается.

Предмет изобретения

Фотоэлектрический денситометр для графического построения криВОЙ распределения ВещестВа по электрсфореграыме или хроматограхlме, основанный на сканировании изэбра>кения лучом, о т л и ч а ю щ и йся тем, что, с целью повышения чувслвительности прибора и точнос-и ,измерения ilo основному закону аосopCUHoiiHQH спектрофотометрии, он снабжен поворотной призмой и кача1ошимся зеркалом, формирующими двухцветный луч, сканирующий изображение, а позади измеряемой электрофореграммы установлен фотоэлектронный умножитель, выход которого соединен с интегрирующим фотометром измерения логарифма отношения интенсивнос1ей луча в каждом из цветов.

Похожие патенты:

Патент 158207 // 158207

Патент 154133 // 154133

Етрическая линейка для определения экспозиции при киносъемке // 153653

Способ непрерывного измерения плотности фотографического изображения // 142147

Способ автоматического анализа ядерных фотоэмульсий // 133621

Оптическая насадка на объектив фото или киносъемочной камеры для сенситометрического контроля при цветных съемках // 117258

Способ определения широты (l) фотографических материалов и устройство для осуществления способа // 117114

Прибор для определения разрешающей способности фотографических материалов, применяемых для контактной печати // 115026

Устройство для непрерывного контроля степени проявления в процессе обработки фильма и сигнализации о пределах степени проявления // 113919

Способ установления режима проявления, и приспособление для осуществления способа // 113884

Способ получения резольвограмм с помощью спекл-структуры и резольвометр для его осуществления // 2147764

Изобретение относится к испытаниям светочувствительных материалов

Перестраиваемый спекл-интерферометрический резольвометр // 2184989

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, в частности к средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и обеспечивает повышение производительности получения резольвограмм, возможность автоматизации и расширение перечня тестируемых светочувствительных материалов

Способ расшифровки спекл-резольвограмм // 2223524

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, а именно к методам и средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и может быть использовано в автоматизированных системах тестирования фоторегистрирующих материалов и сред

Способ определения экспозиций при аддитивной фотопечати // 2082214

Изобретение относится к области цветной фотографии и может использоваться преимущественно при аддитивной фотопечати в профессиональной и любительской сфере

// 159307

// 160948

Устройство для измерения оптических плотностей // 170838

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407

Фотоэлектрический денситометр // 187517

// 193302