Устройство для измерения оптических плотностей

Авторы патента:

G03C5/02 - сенситометрия, например определение светочувствительности, цветочувствительности, градации, зернистости, плотности светочувствительных материалов; изготовление сенситометрических клиньев

ОП ИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 25. I I I.1964 (№ 890821/26-10) Союз Советских

Социалистических

Республик

Кл. 57с, 4 с присоединением заявки №

Государственныи комитет по делам изобретений и открытий СССР

МПК G 03d

УДК 771.531.534.5(088.8) Приоритет

Опубликовано 23.IV.1965. Ьюллетень № 9

Дата опубликования описания 12,V.19á5

Авторы изобретения

Л. М. Скобенников и И. И. Павлов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПЛОТНОСТЕЙ

ЦВЕТНЫХ КИНОФОТОМАТЕРИАЛОВ

В СТАНДАРТНЫХ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЗОНАХ

Подписная группа № 285

Известны устройства для измерения оптических плотностей цветных кинофотоматериалов в стандартных спектральных зонах, содержащие установленный перед измеряемым материалом источник света, цветные светофильтры и установленный позади измеряемого материала приемник излучения, выход которого соединен с аналоговой вычислительной схемой.

Предложенное устройство отличается от известных тем, что в качестве источника излучения использованы три пространственно совмещенных модулированных по амплитуде с разной частотой световых потока с различными спектральными характеристиками излучения, а приемником излучения служит установленный в непосредственной близости к измеряемому материалу фотоэлемент, выход которого соединен с частотно-селективным устройством, служащим входом аналоговой вычислительной схемы. Такая конструкция устройства позволяет осуществить непрерывную подачу измеряемого материала при комплексном измерении сенситометрических характеристик.

На чертеже представлена принципиальная схема описываемого устройства.

Устройство содержит источник 1 света, в качестве которого использованы три модулированных по частоте световых потока, образованных лампами 2, 8, 4, с конденсорами 5, б, 7 и светофильтрами 8, 9, 10. Световые потоки от ламп модулированы в каждом канале с,помощью модуляторов 11, 12, 18 с частотой соответственно fz, f2, f3. Все три световых потока складываются с помощью оптической системы, образованной полупрозрачными зер1О калами 14 и 15 в один измерительный луч, который с помощью конденсора lб фокусируется в .плоскости измеряемого материала 17.

15 В непосредственной близости от измеряемого материала расположен фотоэлемент 18, выход которого соединен с частотно-селективным устройством, содержащим три резонансных фильтра 19, 20, 21, настроенных, соответ20 ственно, на частоты f, f2 и f3. Это устройство служит входом аналоговой вычислительной схемы 22. Для автоматической регистрации измерений на выход аналоговой вычислительной схемы может быть включен самопишу25 щий милливольтметр 28. Неравномерность спектральной чувствительности фотоэлемента может быть скомпенсирована изменением величин световых потоков с помощью реостатов

24, 25 и 2б либо серыми балансными клинья30 ми, введенными в каждый световой поток, 170838

Предмет изобретения

Устройство для измерения оптических плотностей цветных кинофотоматериалов в стандартных спектральных зонах, содержащее установленный перед измеряемым материалом источник света, цветные светофильтры и установленный позади измеряемого материала приемник излучения, выход которого соединен с аналоговой вычислительной схемой, отличающееся тем, что, с .целью непрерывной подачи измеряемого материала при комплекСоставитель В. Ф. Ванторнн

Техред Ю. В. Баранов Корректор T. В. Муллина

Редактор Н. С. Коган

Заказ 1022/5 Тираж 625 Формат бум. 60X90 /8 Об ьем 0,16 изд. л. Цена 5 коп, ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

1 !

L сном измерении сенситометрических характеристик, в качестве источника излучения использованы три пространственно совмещенных модулированных по амплитуде с разной

5 частотой световых потока с различными спектральными характеристиками излучения, а приемником излучения служит установленный в непосредственной близости,к измеряемому материалу фотоэлемент, выход кото10 рого соединен с частотно-селективным устройством, служащим входом аналоговой вычислительной схемы.

Устройство для измерения оптических плотностей

Похожие патенты:

Патент 160948 // 160948

Патент 159307 // 159307

Патент 158801 // 158801

Патент 158207 // 158207

Патент 154133 // 154133

Етрическая линейка для определения экспозиции при киносъемке // 153653

Способ непрерывного измерения плотности фотографического изображения // 142147

Способ автоматического анализа ядерных фотоэмульсий // 133621

Оптическая насадка на объектив фото или киносъемочной камеры для сенситометрического контроля при цветных съемках // 117258

Способ определения широты (l) фотографических материалов и устройство для осуществления способа // 117114

Способ получения резольвограмм с помощью спекл-структуры и резольвометр для его осуществления // 2147764

Изобретение относится к испытаниям светочувствительных материалов

Перестраиваемый спекл-интерферометрический резольвометр // 2184989

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, в частности к средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и обеспечивает повышение производительности получения резольвограмм, возможность автоматизации и расширение перечня тестируемых светочувствительных материалов

Способ расшифровки спекл-резольвограмм // 2223524

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, а именно к методам и средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и может быть использовано в автоматизированных системах тестирования фоторегистрирующих материалов и сред

Способ определения экспозиций при аддитивной фотопечати // 2082214

Изобретение относится к области цветной фотографии и может использоваться преимущественно при аддитивной фотопечати в профессиональной и любительской сфере

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407

Фотоэлектрический денситометр // 187517

// 193302

Способ изготовления откорректированных // 198132

Всесоюзная : 1|| яашгшо- ,«|' тпхкйчгс'ая ^^ iе^{:>& л}!07т!г;,iк. а. короташ // 198134

Денситометр // 204134