Патент ссср 159397

 

СПОСОБ ИЗМГPFÍÈß ТОЛЩИНЫ ВЫСОКОМОЛЕКУЛЯРНЫХ

МАТЕРИАЛОВ, НАПРИМЕР БУМАГИ

Известны способы измерения толщины высокомолекулярных материалов, например бумаги, преимущественно по избирательному поглощению в инфракрасной области спектра.

С целью исключения влияния влажности бумажного волокна на результаты измерений и уменьшения погрешности при измерении на нспытываемую бумагу одновременно с эталонным образцом воздействуют несколькими потоками инфракрасной р диации. Эти потоки пропускают через фильтры, выделяющие область спектра с длиной волны 3,45 мк.

После этого потоки, прошедшие через бумагу и эталонный образец, регистрируют оптикоакустнческим приемником дифференциального типа.

Толщину бумаги измеряют в следующем порядке.

Создают два одинаковых потока инфракрасной радиации. На пути потоков устанавливают фильтры, выделяющие область спектра с длиной волны 3,45 мк. Затем на пути потоков размещают эталонный и измеряемый образцы бумажного листа (при непрерывных измерениях вместо измеряемого образца размещают непрерывную бумажную ленту). Потоки инфракрасной радиации, прошедшие через образцы, регистрируются оптикоакустическим приемником дифференциального типа (могуг быть применены также балометры, термосопротивления и т. д.).

Разность полученных сигналов после их усиления характеризует степень отклонения толщины измеряемой бумаги от толщины эталонного образца.

Предмет изобретения

Способ измерения толщины высокомолекулярных материалов, например бумаги, преимущественно по избирательному поглощению в инфракрасной области спектра, о т л н ч а юшийся тем, что, с целью исключения влияния влажности бумажного полотна на результаты измерений и уменьшения их погрешности, на испытуемую бумагу одновременно с эталонным образцом воздействуют несколькими потоками инфракрасной радиации, пропущенными через фильтры, выделяющие область спектра с длиной волны, например, 3.45 мк, после чего потоки, прошедшие через бумагу и эталонный образец, регистрир ют оптикоакустическим приемником дифференциального тнпа.