Патент ссср 159675

 

СОЮЗ COBETCKNX

COIL ÈÀÀÈÑÒÈ× ÅÑÊÈÕ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ASTOPCKOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ № 159675

Класс

42k, 49ей

=.А

МПК

G 01п

Заявлено 08.111.1962 (№ 768050/29-14) ГОСУААРСТВЕННЫИ

КОМИТЕТ ПО АЕААМ

ИЗОБРЕТЕНИИ И ОТКРЫТИ Й

СССР

Опубликовано 1964. Бюллетень ¹ 1

УДК

t !

Г. М. Городинский

ПРИЬОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ

СТЕ

Известен способ контроля чистоты поверхности стекла по количеству рассеянного дефектами стекла света, определяемому методом «темного поля». В применяемых для этой цели измерителях видимости — фотометрах контроль осуществляется визуально, что дает лишь субъективную оценку состояния поверхности стекла. Кроме того, этот способ трудоемкий.

Предложенный прибор для контроля чистоты поверхности стекла, включающий известный измеритель видимости и осветители темного поля проходящего и отраженного света, позволяет ускорить процесс определения дефектов стекла по количеству рассеянного света путем расфокусирования изображения дефекта, полученного при помощи измерителя видимости, до полного размытия этого изобр ажения.

Действие прибора основано на измерении рассеивающих свойств дефектов (царапин) в проходящем и отраженном свете, зависящих от супермикрогеометрии царапин, их глубины и ширины.

На чертеже изображена оптическая схема предложенного прибора.

Прибор состоит из трех частей, осветителей темного поля проходящего света А и отраженного света Б и измерителя видимости В.

Осветитель темного поля проходящего света имеет лампу накаливания 1, затемняющий экран 2, параболический отражатель 8 и стоПодписная группа № 11б и Ю. В. Кудряшов !

ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНО

КЛА лик 4, на котором помещают исследуемый образец 5.

Осветитель темного поля отраженного света имеет аналогичный отражатель б, обойму

7 и ряд миниатюрных электролампочек, расположенных по окружности обоймы и закрытых прозрачным рассеивающим кольцом.

Измеритель видимости состоит из перемещае»oro вдоль оптической оси объектива 8 с отсчетной шкалой 9, матового стекла 10 и окуляра 11.

Работа на приборе производится в полузатемненном помещении. Исследуемый образец, очищенный от пыли и пятен, кладут на столик исследуемой поверхностью вниз. Перемещением объектива 8 добиваются резкого изображения нижней поверхности образца с исследуемой царапиной и снимают отсчет по шкале 9. Затем добиваются размытия изображения до полного гашения его и снова снимают отсчет по шкале, Разность между отсчетами характеризует степень годности стекла или зеркала.

Предмет изобретения

Прибор для контроля чистоты поверхности стекла по количеству света, рассеянного дефектами на стекле с измерителем видимости, состоящим из перемещаемого вдоль оптической оси объектива с отсчетной шкалой, ма№ 159675

Составитель А. А, Булыгин

Редактор Э. Н. Шибаева Техред Т. П. Курилко Корректор P. Т. Келембет

Подп. к r еч. 18iII — 64 г. Формат бум. 60Х90 /s Объем 0,23 изд. л.

Заказ 3623(4 Тираж 425 Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 тового стекла и окуляра, отличающийся тем, что, с целью ускорения контроля, он выполнен с осветителем проходящего света с затемненным источником света в параболическом отражателе, предметным столиком, осветителем отраженного света, внутри параболического отражателя которого смонтирована обойма с расположенными по окружности миниатюрными электролампочками, и смонтированного над ним измерителя видимости.

Патент ссср 159675 Патент ссср 159675 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх