Способ определения отклонения от плоскостности и параллельности основания ракетки для настольного тенниса

 

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности. При определении отклонений от плоскостности и параллельности основание ракетки 8 распологают на установочной плите 6 и закрепляют в державке 3 так, чтобы нижняя поверхность 9 ракетки 8 была бы параллельна базовой плоскости 2. Различают оптимальные точки контроля ракетки 8 и убирают установочную плиту 6. Подводят стойку 4 с отсчетными узлами 5 к размеченным точкам и определяют расстояния от точек, расположенных на верхней 10 и нижней 9 поверхностях основания 8, лежащих на прямой, перпендикулярной базовой плоскости 2 до нее. Отклонение от плоскостности определяют по разности наибольшего и наименьшего расстояний от базовой плоскости 2 до нижней поверхности 9, а отклонение от параллельности - по разности наибольшего и наименьшего расстояний от верхней поверхности 10 до базовой плоскости 2. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ.

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

7 А1 (19) (11) (д) 4 С 01 В 5/28

ВЖЯ2;-! -

1 Г;; !

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTKPbfTHSIM

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4164953/25-28 (22) 22. 12. 86 (46) 23. 08. 89. Бюл .. Р 31 (71) Ленинградская лесотехническая академия им. С.Г1. Кирова (72) Е.Г. Зонов, М.Г. Капустин, Т.Н. Иванова, Г.В. Непочатых и Ю.Н, Кокусев (53) 531. 717 (088.8) (56) Ракетки для настольного тенниса. ОСТ 62-25-82. Лесная промышленность, 1982. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ОТ ПЛОСКОСТНОСТИ И ПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ

ОСНОВАНИЯ РАКЕТКИ ДЛЯ НАСТОЛЬНОГО

ТЕННИСА (57) Изобретение относится к измерительной технике ° Цель изобретения— повышение точности. При.определении отклонений от плоскостности и параллельности основание ракетки 8 распо»;

2 лагают на установочной плите 6 и закрепляют в державке 3 так, чтобы нижняя поверхность 9 ракетки 8 была бы параллельна базовой плоскости 2, Различают оптимальные точки контроля ракетки 8 и убирают установочную плиту 6. Подводят стойку 4 с отсчетными узлами 5 к размеченным точкам и определяют расстояния от точек, расположенных на верхней 10 и нижней 9 поверхностях основания ракетки 8, лежащих на прямой, перпендикулярной базовой плоскости 2 до нее.

Отклонение от плоскостности определяют по разности наибольшего и наименьшего расстояний от базовой плоскости 2 до нижней поверхности 9, а отклонение от параллельности - по разности наибольшего и наименьшего расстояний от верхней поверхности 10 до базовой плоскости 2. 2 ил.

Составитель В. Савельев

Техред M.äHäûw Корректор С. Черни

Редактор Н. Рогулич

Заказ 5076/52 Тираж 683 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям н открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, уд. Гагарина,lii

3 150295

Изобретение относится к измерительной технике.

Цель изобретения — повышение точности измерения. 5

На фиг. 1 представлена схема устройства реализации способа, общий вид; на фиг. 2 — шаблон дпя разметки точек измерения на ракетке.

Устройство содержит основание 1 1р с базовой плоскостью 2, на котором закреплена державка 3 и установлена подвижная стойка 4 с двумя соосно расположенными отсчетными узлами 5.

На основании 1 перед измерением ус- 15 танавливают также установочную плиту

6 на ножках 7.

Способ осуществляют следунлцим образом.

Основание ракетки 8 располагают 20 на установочной плите 6 и закрепляют в державке 3 так, чтобы нижняя поверхность 9 ракетки 8 была бы параллельна базовой плоскости 2. Раэмечают оптимальные точки контроля ракетки 8

25 и убирают установочную плиту 6. Подводят стойку 4 поочередно к размеченным точкам на основании ракетки 8 и определяют расстояния от точвк, расположенных на верхней 10 и нижней 9 поверхности основания ракетку 8, лежащих на прямой, перпендикулярной базовой плоскости 2 до нее. Отклонение от плоскости определяют по разности наибольшего и наименьшего рас- 35 стояний от базовой плоскости 2 до

7 4 нижней поверхности 9, а отклонение от параллельности по разности наибольшего и наименьшего расстояний— от верхней поверхности 10 до базовой плоскости 2.

Формула изобретения

Способ определения отклонения от плоскостности и параллельности основания ракетки для настольного тенниса, заключающийся в том, что основание ракетки устанавливают относительно базовой плоскости, изменяют расстояние между ними и по разности расстояний судят об отклонении от плоскости и параллельности, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения точности, основание ракетки закрепляют так, чтобы ее нижняя поверхность была параллельна базовой плоскости, размечают оптимальные точки контроля ракетки, измеряют расстояния от точек, расположенных на верхней и нижней поверхностях основания и лежащих на прямой, перпендикулярной базовой плоскости до базовой плоскости, отклонение от плоскостности определяют по разности наибольшего и наименьшего расстоC який нижней поверхности до базовой плоскости, а отклонение от параллельности — величиной разности наибольшего и наименьшего расстояний верхней поверхности от базовой плоскости.

Способ определения отклонения от плоскостности и параллельности основания ракетки для настольного тенниса Способ определения отклонения от плоскостности и параллельности основания ракетки для настольного тенниса 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано для измерения круглости поверхностей детали непосредственно на металлорежущем станке

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к технике измерения крупногабаритных объектов сложной криволинейной формы в авиаи судостроении

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения шероховатости и волнистости произвольно ориентированных и труднодоступных поверхностей

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при анализе структуры материала с твердыми включениями

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх