Способ определения деформаций объекта

 

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к приспособлениям для голографических устройств, предназначенных для измерений деформаций. Цель изобретения - повышение достоверности определения деформаций путем определения знака деформаций исследуемых объектов, удаляемых из голографической схемы в промежутке времени между экспозициями. Для этого после достижения контакта эталонного объекта с исследуемым устанавливают со стороны исследуемого объекта в контакте с эталонным объектом ограничитель перемещения эталонного объекта, перед деформированием эталонный объект удаляют, а перед повторной записью объектов на голограмму эталонный объект вновь перемещают по той же траектории до достижения контакта с исследуемым объектом или ограничителем, записывают объекты на голограмму, получают двухэкспозиционную интерферограмму и по наличию или отсутствию интерференционных полос на эталонном объекте судят о знаке деформации. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ.

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (l9) (1l) (ц 4 С 01 В 11/16

OllHCAHHE ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТМРЫТИЩ

ПРИ lHHT СССР

К А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВ У (21) 4384039/24-28 (22) 29.01.88 (46) 30.08.89. Бюл. У 32 (71) Московский институт стали и сплавов (72) В.П.Костюченко, В.Г.Бахтин, Л.М.Глухов, О.Н.Перк, В.А.Николаев, Т.А.Городнюк и Н.Ф.Городнюк (53) 531.781.2(088.8) (56) Вест Ч. Голографическая интерферометрия. М., 1982, 504 с.

Авторское свидетельство СССР

Р 1409859, кл. G 01 В 11/16, 15.08.86. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ

ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к приспособлениям для голографических устройств, предназначенных для измерений деформаций. Цель изобретения повьппение достоверности определения

Изобретение относится к измерительной технике к приспособлениям для голографических устройств, предназначенных для Измерения деформаций.

Цель изобретения — повыщение достоверности определения деформаций путем определения знака деформаций исследуемых объектов, удаляемых иэ голографической схемы в промежутке времени между экспозициями.

На фиг. 1 приведена схема устройства, реализующая способ; на фиг. 2— эталонный объект в виде планки и ограничитель перемещения планки, ус2 деформаций путем определения знака деформаций исследуемых объектов, удаляемых из голографической схемы в промежутке времени между экспозициями. Дпя этого после достижения контакта эталонного объекта с исследуемым устанавливают со стороны исследуемого объекта в контакте с эталонным объектом ограничитель переме-, щения эталонного объекта, перед деформированием эталонный объект удаляют, а перед повторной записью объектов на голограмму эталонный объект вновь перемещают по той же траектории до достижения контакта с исследуемым объектом или ограничителем, записывают объекты на голограмму, получают двухэкспозиционную интерферограмму и по наличию или отсутствию интерференционных полос на эталонном объекте судят о знаке деформации. 2 ил. тановленные в вертикальной оси с возможностью вращения вокруг нее.

Устройство, реализующее способ, содержит источник 1 когерентного излучения, расположенную по ходу излучения оптическую систему 2 формирования опорного и предметного пучков, фоторегистратор 3, держатель 4 исследуемого объекта 5, эталонный объект в виде планки 6 из ферромагнитного материала, установленной на вертикальной оси с воэможностью вращения вокруг нее, ограничитель 7 перемещения планки 6, ус1а1504499

50 ловленный с воэможностью вращения вокруг вертикальной оси и фиксации

его положения и расположенный между держателем 4 объекта 5 и планкой 6 с возможностью фиксации контакта с ней, и систему 8 перемещения планки

6, выполненную в виде электромагнита с держателем, размещенного между держателем 4 объекта 5 и ограничите- 10 лем 7.

Способ осуществляют следующим образом.

Исследуемый объект 5 закрепляют в специальном держателе 4, поэволяс ющем удалять его из голографической схемы и точно возвращать на то же место, и перемещают эталонный объект в виде планки 6 из ферромагнитного материала, установленной на верти- 20 кальной оси с возможностью вращения вокруг нее, до контакта с исследуемым объектом 5. Контакт эталонного объекта в виде планки 6 из ферромагнитного материала с исследуемым обес- 25 печивают за счет того, что ее перемещение и фиксацию контакта с исследуемым объектом 5 осуществляют с помощью системы 8 перемещения планки

6, выполненной в виде электромагни- 30 та с держателем, размещенного между держателем 4 объекта 5 и ограничителем 7. В систему 8 перемещения планки 6 входят также источник питания (сеть) и регулятор тока (не показаны). Регулятор тока позволяет регулировать силу магнитного взаимодействия электромагнита с планкой 6, что позволяет исключить возможность деформации планки или смещения . 40 объекта 5 в держателе 4 в момент контакта при слишком большой величине магнитного поля. Оптимальным является включение электромагнита при нулевой силе тока с постепенным 45 его увеличением до момента, когда сила тока станет достаточной для перемещения планки 6. При необходимости выключения электромагнита на время экспозиции выключение осуществляют путем плавного уменьшения тока в нем до нуля, при таком выключении не произойдет отхода планки от объекта 5.

После достижения контакта планки

6 с исследуемым объектом 5 устанав55 ливают со стороны исследуемого объекта 5 в контакте с планкой 6 ограничитель 7 перемещения планки 6, выполненный с возможностью вращения вокруг вертикальной оси; фиксируют его в этом положении. При этом ограничитель 7 будет расположен между исследуемым объектом 5 и планкой 6 в контакте с ней, в то время как планка 6 будет находиться в контакте с объектом 5. фиксацию ограничи" теля 7 в укаэанном положении можно осуществить разными способами, например с помощью магнита или с помощью винта.

Затем освещают объекты излучением от источника 1 когерентного излучения, прошедшим расположенную по ходу излучения систему 2 формирования опорного и предметного пучков, и записывают их голограмму на фоторегистраторе 3. Таким образом, на этой голограмме осуществлена запись недеформированного состояния исследуемого объекта 5 и находящегося с ним в контакте эталонного объекта в виде планки 6 иэ ферромагнитного материала.

После записи голограммы планку 6 перемещают от объекта (ограничитель

7 при этом остается в фиксированном положении), объект 5 удаляют из схемы (если это необходимо), деформируют его и возвращают обратно в схему, точно на то же место, планку вновь перемещают по той же траектории до достижения контакта либо с ограничителем 7, либо с исследуемым объектом 5. И повторно записывают объект 5 в планку 6 на голограмму, В результате этого получают двухэкспозиционную голограмму, восстанавливают ее, регистрируют интерференционную картину на исследуемом объекте 5 и выясняют — имеются ли интерференционные полосы на планке 6. Если полос нет, то это означает, что планка 6 при возвращении в фиксированное положение дошла до ограничителя 7, т,е, объект 5 относительно своего первоначального положения сместился в направлении от планки, если же полосы есть, то наоборот — объект сместился к планке.

Зная знак перемещений в точке контакта, можем определить знак деформаций в любой точке поверхности объекта 5 по интерференционной картине.

Составитель Б. Евстратов

Техред. М,Моргентал Корректор M. Шароши

Редактор А. Долинич

Заказ 5240/41 Тираж 683 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарин.,101

5 150449 формула изобретения

Способ определения деформаций объекта, заключающийся в том, что перемещают эталонный объект до кон5 такта с исследуемым объектом, освещают объекты когерентным излучением, записывают их на голограмму, после деформирзвания исследуемого объекта вновь записывают объект на голограмму, восстанавливают полученную двухэкспоэицнонную голограмму, регистрируют интерференционную картину и наличие полос на эталонном объекте

9 6 и по полученным данным определяют деформацию, о т л и ч а ю m и и с я тем, что, с целью повышения достоверности определения деформаций, после достижения контакта эталонного объекта с исследуемым фиксируют положение эталонного объекта, перед деформированием эталонный объект удаляют, а перед повторной записью объектов на голограмму эталонный объект возвращают по первоначальной траектории до достижения контакта с исследуемым объектом или в зафиксированное положение.