Способ контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала

 

Изобретение касается физических измерений. Цель изобретения - обеспечение определения удельной поверхности материала, сорбирующего влагу, и энергии взаимодействия молекул жидкости с поверхностью материала. Определяют диэлектрическую проницаемость ε материала-жидкости для всех измеренных величин влажности. По полученным значениям ε в зависимости от влажности исследуемого материала строят соответствующие графики и по ним фиксируют точки с максимальным изменением крутизны и определяют его значение, а удельную поверхность исследуемого материала и энергию взаимодействия молекул влаги с поверхностью материала определяют по формулам. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 С 01 N 13/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

PQ ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЬГИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4241273/24-09 (22) 07.05.87 (46) 15.09.89, Бюл, ? "- 34 (71) Московский текстильный институт им. А.Н. Кос! тина (72) О, В, Удачин, А.И. Кобляков и С.И. Федотов (53) 621 . 317. 89 (088. 8) (56) Методы исследования целлюлозы/ Под ред. В,П. Карливана и др, Рига:

Зинатне, 1981, с. 56-61.

Авторское свидетельство СССР

Р 842492, кл. G 01 N 13/00, 1979. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОТНОСИТЕЛЬНОГО

ИЗМЕНЕНИЯ СМАЧИВАЕМОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА (57) Изобретение касается физических измерений, Цель изобретения — обесИзобретение относится к физическим измерениям, в частности к определению удельной поверхности, и может быть использовано в материаловедении при создании и оценке свойств материалов с различной сорбционной способностью, Цель изобретения — обеспечение определения удельной поверхности материала, сорбирующего влагу и энергии взаимодействия молекул жидкости с поверхностью материала, На фиг. 1 приведена структурная электрическая схема устройства контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала, реализующего способ контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала; на фиг, 2 — зависи„,80„„15О 4 А 1

2 лечение определения удельной поверхности материала, сорбирующего влагу, и энергии взаимодействия молекул жидкости с поверхностью материала. IIoc тавленная цель достигается тем, что определяют диэлектрическую проницаемость Е материала — жидкости для всех измеренных величин влажности. Go полученным значениям Е в зависимости от влажности исследуемого материала строят соответствующие графики и по ним фиксируют точки с максимальным изменением крутизны и определяют его значение, . а удельную поверхность исследуемого материала и энер- . гию взаимодействия молекул влаги с поверхностью материала определяют по формулам. 2 ил. мости диэлектрической проницаемости различных материалов от изменения влажности.

Устройство контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала содержит генератор 1 СВЧ, измерительную волноводную линию 2, стрелочный прибор 3, отрезок волновода 4 с исследуемым материалом, аналитические весы 5, Устройство контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала работает следующим образом.

Образцы исследуемых материалов эамачивают в дистиллированной воде до больших влажностей W (,- 1007), далее при помощи измерительной волноводной линии 2 измеряют смещение узла стоя1508134 чей волны 1 что пропорционально диэлектрической проницаемости Е) при помещении в отрезок волновода 4 исследуемых образцов материала по мере их высыхания при нормальных условиях, 5 влажность при этом контролировалась на аналитических весах 5. По полученным значениям Е в зависимости от влажности исследуемого материала 10 строят графики E=f (W).

На зависимости E. =К (W) фиксируют точки с максимальным изменением крутизны и определяют значение влажности

WÄ, соответствующее этому значению, кр а удельную поверхность исследуемого материала S ä определяют по формуле

2 6 . где S — - удельная поверхность, сорбирующая влагу;

У„ - влажность в точке перегиба диэлектрической проницаемости материала от влажности;

1 — толщина граничного слоя воды; 25 р — плотность воды, г/см .

Энергию взаимодействия молекул влаги с поверхностью материала определяют по формуле

° р. сЕ

ДП О=К-Т 1п — (Дж1„

". p-б где P — время релаксации молекул

Р. св

Влаги находящихся в гра ничномслое с

1.ру, — время релаксации молекул влаги вне граничного слоя с

К вЂ” постоянная Больцмана;

Т вЂ” абсолютная температура.

При этом времена релаксации моле40 кул влаги находятся из формул Дебая:

I s E(f)s l E -E Е

"рв в Д в ввo E f) (3) где f — частота внешнего электромаг- 45 нитного поля, Гц; — диэлектрическая проницаемость

S свободной влаги при 2=О;

Я вЂ” диэлектрическая проницаемость свободной влаги при 1, 50

В случае 1=8,5 10 (Гц) Es=80s Я=5, при этом для свободной воды Е(й ) 55.

Для связанной воды, находящейся в граничном слое, E(f) находится, по формуле 55

Е()„= 2 (1)+ (4) где А=9 Е„. С „-ЗС „,. (-2P с„„, + (f ) мв )+P (E (f) 6+2 мввт) () + Kìþò1

В 2 7 Е м С,р+18С кр Р F > +3(g(f )б— м );

С -9С „р (E(f)в 2E„„)+Зр((f) +

+2 Е,) +3 (Е (К) — Ем„,) 1 я — диэлектрическая проницае мость исследуемого сухого материала;

С „-11

W — +1

Гмат

Кр в где W„. — влажность исследуемого сухого материала; материала в точке перегиба экспериментальной крьпзой; плотность исследуемого сухого матер ала;

g - плотность воды.

В формуле (4}, кроке основного параметра Ъ „, используется также

t:go( параметр Р=, представляющий соЕ8Р бой отношение тангенсов углов наклона экспериментальной кривой S=f(W) после и до точки максимального изменения крутизны. формула изобретения

Способ контроля относительного изменения смачив аемос ти поверхности материала, включающий облучение материала-жидкости СВЧ электромагнитным сигналом, прием пров заимодейс твующего с материалом-жидкостью СВЧ электромагнитного сигнала и определение диэлектрической проницаемости материала-жидкости, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью определения удельной поверхности материала сорбирующего жидкость и энергии взаимодействия молекул жидкости с поверхностью материала, в качестве жидкости используют воду, измерение провзаимодействующего с материалом-жидкостью СВЧ электромагнитного сигнала проводят при изменении влажности W материала от нормальной до полного влагопоглощения, определяют диэлектрическую проницаемость материалажидкости для всех измеренных величин . влажности, а значение удельной поверхности материала, сорбирующего

I жидкость $"„, рассчитывают по форуды муле

1508134

15 поля, 5

W кр см

Я м J4 ).p Г где 1 — толщина граничного слоя воды в сантиметрах; рв — плотность воды, г/см ;

W — значение максимального иэкр меиения крутизны зависимости диэлектрической проницаемости материал-жидкость для всех значений влажности, а энергию взаимодеиствия dU молекул воды с поверхностью материала — по формуле P.ñâ 1 11 с в =К - - 1.п - — в . Дж ю

Рв где К вЂ” постоянная Больцмана;

Т - абсолютная температура;

1

P> f f f в-Е

1 Ев Е св

"Р св () с. с — значение диэлектрической проницаемости свободной воды при

f eo и ЕО соответственно;

f — частота электромагнитного

6 (f) - значение диэлектрической проницаемости свободной воды в нормальных условиях, 5

1)+

9 м4 С кр 3С мр(2Р ме + (в 2F г)"

+Р((й) +2 Е )-E(f)„+ Е -27 „, Скр+18С.рРс„,+3((f) - F,„,„);

С -9С «р(Е(Е) b -2сwe )+ЗР(Е(Е)в+3Ем„,,)+

+3 (Е (f ) в м, ) 1

8кр ю ему +1 кр

E., — значение диэлектрической проницаемости исследуемого материала;

20 у „ вЂ” плотность исследуемого материала, г/смз; ta(tgp

tgg tg P- значение углов наклона

25 ветвей графика на зависимости Kf (W) в точке, соответствующей значению М

1508134 о м во

Вломиоеть. il% I

РОГ. 2

Составитель Е. Ежов

Редактор Н. Горват Текред M.Моргентал Корректор M. Кучерявая

Заказ 7822/ДСП Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5, Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала Способ контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала Способ контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала Способ контроля относительного изменения смачиваемости поверхности материала 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к экспрессному контролю качества поверхностного состояния твердых тел и позволяет повысить точность определения энергии ионизации и сократить время измерения тех же параметров

Изобретение относится к устройствам для физико-химических исследований поверхности зубов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в физической химии, газовой динамике, вакуумной технике для определения коэффициентов прилипания молекул водорода к поверхности металла, в том числе коэффициентов прилипания, близких по своей величине к единице, в широком диапазоне давлений водорода и температур металла

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к способам исследования химических и физических свойств веществ, и может быть использовано для определения объемной диффузии примеси в порошковых материалах, в отраслях промышленности, выпускающей керамику, например ферритовую, и радиокерамику, в порошковой металлургии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к изучению процессов массопереноса в растворах, например диффузионных, и может быть использовано для определения коэффициентов диффузии биополимеров в биохимии, биофизике и др

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для определения физико-химических характеристик твердого тела ,в частности, его поверхностного натяжения, и может быть использовано, например, в физической химии, металлургии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к способам изучения диффузионных процессов в жидкостях, и может быть использовано при испытании и выборе материалов для ремонта асфальто-бетонных покрытий методом "омолаживания" пластифицирующими реагентами

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для исследования физического состояния металлов при наводораживании, а именно для контроля процесса гидридообразования в металлах преимущественно Va группы и сплавах на их основе, в металлургии, материаловедении для неразрушающего контроля состояния вещества

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей
Изобретение относится к области физики поверхностей

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей
Наверх