Измерительный блок фотоэлектрического дефектоскопа

 

Изобретение предназначено для использования в составе фотоэлектрического дефектоскопа поверхности изделий. Целью изобретения является повышение достоверности контроля дефектов. Измерительный блок содержит фотопреобразователь 1, неинвертирующий усилитель 2, пассивный фильтр нижних частот, образованный интегрирующим RC -звеном и повторителем 4 напряжения, резистивные делители 5, 8 и компараторы 11, 12. Коэффициент передачи обоих делителей выбирается близким к 1 (в зависимости от желаемого порога регистрации дефектов). В отсутствие дефектов сигнал на выходе делителя 5 не превышает уровня низкочастотной составляющей сигнала, выделяемой фильтром, а уровень сигнала на выходе делителя 8 ниже минимального значения выходного сигнала усилителя 2. При наличии положительного или отрицательного выброса на сигнале фотопреобразователя 1, превышающего допустимый уровень, срабатывает соответственно компаратор 11 или 12, сигнализируя о наличии "положительного" или "отрицательного" дефекта. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И) А1

151) 4 С 01 N 21/88

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГНКТ СССР

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

t (21) 4363127/24-25 (22) 12 ° 01,88 (46) 23.09 ° 89,Бюл. У 35 (75) Б,А,Борзых (53) 535 ° 24 (088.8 ) (56) Патент Великобритании

Ф 1399298, кл С 01 М 21/32, 1975.

Патент Великобритании

У 1496765, кл. G 01 N 21/32, 1978 ° (54) ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ БЛОК ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ДЕФЕКТОСКОПА (57) Изобретение, предназначено для использования в составе фотоэлектрического дефектоскопа поверхности изделий. Целью изобретения .является повышение достоверности контроля дефектов, Измерительный блок содержит фотопреобразователь 1, неинвертирующий усилитель 2, пассивный фильтр

2 нижних частот, образованный интегрирующим RC-звеном и повторителем 4 напряжения, резистивные делители 5,8 и компараторы 11,12 ° Коэффициент передачи обоих делителей выбирается близким к 1 (s зависимости от желаемого порога регистрации дефектов). В отсутствие дефектов сигнал на выходе делителя 5 не превышает уровня низкочастотной составляющей сигнала, выделяемой фильтром, а уровень сигнала на выходе делителя 8 ниже минимального значения выходного сигнала усилителя 2. При наличии положительного или отрицательного выброса на сигнале фотопреобраэователя 1, превышающего допустимый уровень, срабатывает соответственно компаратор 11 или 12, сигнализируя о наличии "положительного" или "отрицательного" дефекта. 3 ил.

3 150969

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в составе фотоэлектрического дефектоскопа поверхности иэделий, Цель изобретения — повышение достоверности контроля дефектов поверхности, На фиг ° 1 приведена схема измерительного блока фотоэлектрического дефектоскопа; на фиг.2 — осциллограммы сигналов при вьщелении импульсов от дефектов, дающих положительное приращение освещенности фотопре- 15 обраэователя; на фиг.3 — то же, для дефектов, дающих отрицательное приращение.

Устройство содержит фотопреобразователь 1, неинвертирующий усилитель 2 20 сигнала фотопреобразователя 1, пассивный фильтр нижних частот 1-го порядка, образованный интегрирующим

RC-звеном 3 и повторителем 4 напряже25 ния, имеющий постоянную времени, срав-. нимую с длительностью импульсов от возможных дефектов, и подключенный к выходу усилителя 2, два резистивных делителя напряжения. Первый делитель

5 напряжения состоит из резисторов

6 и 7, второй делитель 8 напряжения— иэ резисторов 9 и 10, Сопротивления резисторов в обоих делителях различаются примерно на порядок (конкретное значение зависит от типа контролируемых иэделий), причем меньшее сопротивление имеют резисторы 6 и 9 ° Вход первого делителя 5 подключен к выходу усилителя 2, а вход второго делителя 8 — к выходу повторителя

4 напряжения. К выходу первого делителя 5 напряжения подключен один из . входов первого компаратора ll, Второй вход компаратора 11 соединен с выходом повторителя 4 ° К выходу вто- 45 рого делителя 8 напряжения подклю чен один иэ входов второго компаратора 12. Второй вход компаратора 12 соединен с выходом усилителя 2, Компаратор 11 предназначен для регистра- 50 ции импульсов положительной полярности (относительно среднего уровня сигнала), компаратор 12 — для регистрации импульсов отрицательной полярности, 55

Измерительный блок работает следующим образом, 5 4

В процессе развертки поверхности фотопреобразователь 1 вьщает напряжение, пропорциональное фототоку, В любой момент времени это напряжение имеет только положительные значения, Выходное напряжение фотопреобразователя 1 усиливается усилителем 2.

Усиленный сигнал фотопреобразователя 1 поступает на RC-звено Э нижних частот. На выходе RC-звена выделяется постоянная (низкочастотная ) составляющая сигнала, т,е, средний его уровень ° Повторитель 4 напряжения, имеющий высокое входное сопротивление и единичный коэффициент усиления, обеспечивает согласование выхода RC-звена с нагрузкой, Усиленный сигнал фотопреобраэователя 1 и постоянная составляющая сигнала поступают на первый 5 и второй 8 делители напряжения. Последние откалиброваны таким образом, чтобы в отсутствие дефектов амплитуда сигнала на выходе делителя 5 напряжения была близка, но не превышала уровень низкочастотной составляющей на выходе

RC-звена 3, а уровень сигнала на выходе делителя 8 напряжения был близок, но лежал ниже минимального значения выходного сигнала усилителя 2. При этом на выходах компарато-..: ров 11 и 12 сохраняется нулевой уровень °

При наличии дефекта, дающего положительный выброс на сигнале фотопреобраэователя 1, превышающий по амплитуде допустимый уровень, срабатывает компаратор 11, сигнализируя о наличии положительного" дефекта. Компаратор 12 срабатывает от "отрицательного" выброса на сигнале фотопреобраэователя 1, превышающего по амплитуде допустимый уровень, и сигнализирует о наличии "отрицательного" дефекта.

Сигналы на входах компараторов 11 и

12 при наличии "положительного" и

"отрицательного" дефектов приведены на фиг,2 и 3 соответственно.

Изобретение повышает достоверность фотоэлектрического контроля дефектов поверхности за счет сохранения информации о полярности импульсов от дефектов и эа счет уменьшения погрешности пороговой обработки.

Ф ормула изобретения

Измерительный блок фотоэлектрического дефектоскопа, содержащий соеди5 1509695

6 ненные последовательно фотоэлектри- тора подключены к выходу первого и ческий преобразователь и фильтр ниж- входу второго делителей напряжения, а них частот, а также компаратор, о т- входы второго компаратора подключены л и ч а ю шийся тем, что, с к входу первого и выходу второго делицелью повышения достоверности контро- телей напряжения, при этом выходы ля, в него введены второй компаратор первого и второго компараторов являи два резистивных делителя напряжения, ются выходами устройства, раздельнывход первого из которых подключен к ми для дефектов, вызывающих соответвходу фильтра нижних частот, а вход 10 ственно положительные и отрицательвторого — к выходу фильтра нижних ные изменения освещенности на входе частот, причем входы первого компара- устройства, 8у

Рие, 2

Составитель А Грузингв

Редактор В,Данко Техред А. Кравчук Корректор В.Кабаций

Заказ 5797/36 Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Измерительный блок фотоэлектрического дефектоскопа Измерительный блок фотоэлектрического дефектоскопа Измерительный блок фотоэлектрического дефектоскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области оценки уровня технологических дефектов и исследования физико-механических свойств композитных армированных светопропускающих материалов

Изобретение относится к строительству и машиностроению, конкретно к методам дефектоскопии строительных материалов и конструкций из неметаллов, например пластиков, позволяет определять величину и положение дефекта, оценивать раскрыв и может быть использовано при контроле изделий с переменной толщиной

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности деталей

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а более конкретно к устройствам визуальной и фотометрической оценки рентгенограммы повьшенной плотности

Изобретение относится к оптическим методам контроля, в частности изменений объектов решетчатой структуры, например намотанной на решетку пряжи

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано в оптическом приборостроении при контроле качества оптического стекла

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при автоматизации визуального метода дефектоскопии

Изобретение относится к метрологии и предназначено для контроля дефектов деталей

Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано для автоматизированного определения нижнего и верхнего пределов линейности фотоприемников по освещенности

Изобретение относится к оптоэлектронной измерительной технике, где требуется высокая точность определения рассеивающих, отражающих и поглощающих свойств различных жидкостей

Изобретение относится к устройствам регистрации изменения интенсивности светового луча и может быть применено для контроля наличия объектов на ленте транспортера

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в качестве бесконтактного концевого выключателя в системах контроля регулирования и управления, например в целлюлозно-бумажной промышленности в качестве датчика оборотов, датчика обрыва бумажного полотна или для счета штучной продукции листов, пачек и т.д

Изобретение относится к строительству и машиностроению, конкретно к методам дефектоскопии строительных материалов и конструкций из неметаллов, например пластиков, позволяет определять величину и положение дефекта, оценивать раскрыв и может быть использовано при контроле изделий с переменной толщиной

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и предназначено для использования в различных измерителях оптических характеристик рассеивающих сред при исследовании быстропротекающих процессов

Изобретение относится к приборостроению и может найти применение преимущественно на аэродромах для измерения прозрачности атмосферы

Изобретение относится к приборостроению, а именно к технике измерения фотометрических параметров, и может найти применение на аэродромах для измерения оптических характеристик атмосферы при определении видимости световых ориентиров взлетно-посадочной полосы (ВПП) в ходе метеорологического обеспечения действия авиации на аэродроме
Наверх