Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности изделия

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности за счет использования одного фотоприемника для регистрации интенсивности подсвета и рассеянного поверхностью излучения. Устройство содержит источник 2 света, вращающийся модулятор 6, фотоприемник 10, размещенный внутри модулятора 6, и блок 11 синхронизации. При вращении модулятора 6 на фотоприемник 10 поочередно поступают пучок, рассеянный поверхностью, и пучок от источника 2, с помощью блока 11 сигналы, соответствующие данным пучкам, разделяются. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (192 . (И) 51 4 G 01 В 21/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTGPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРИТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4265049/24-28

I (22) 18.06.87 (46) 15.11.89. Бюл. Р 42 (71) Магнитогорский горно-металлургический"институт им. Г.И.Носова (72) В.К.Белов, В.Г.Бочкарев и А.В.Капцан (53} 531.7 (088.8) (56} Авторское свидетельство СССР

Р 815492, кл. G 01 В 11/30 1979. (54) ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ

f57} Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изоб2 ретения. — повышение точности за счет использования одного фотоприемника для регистрации интенсивности подсвета и рассеянного поверхностью излучения.

Устройство содержит источник 2 света, вращающийся модулятор 6, фотоприемник

10, размещенный внутри модулятора 6, и блок 11 синхронизации. При вращении модулятора 6 на фотоприемник 10 поочередно поступают пучок, рассеянный поверхностью, и пучок от источника

2, с помощью блока 1! сигналы, соответствующие данным пучкам, разделяются. 1 ил.

1522038

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля качества обработки поверхности.

Цель изобретения — повышение точ5 ности за счет использования одного фотоприемника для регистрации интенсивности подсвета и рассеянного поверхностью излучения.

f0

На чертеже представлена блок-схема прибора.

Прибор состоит из основания 1 с отверстием, оптически связанных расположенных последовательно на основании 1 источника 2 света, коллиматора 3, регулируемой щели 4 и полупрозрачного зеркала 5, цилиндрического модулятора 6 с четырьмя щелями, параллельными оси модулятора 6, установленного на основании 1 с возможностью вращения вокруг своей оси, объективов 7 и 8, расположенных внутри модулятора 6 таким образом, что их фокусы,совпадают и находятся на оси модулятора 6, зеркала 9, оптически связанного с зеркалом 5 и объективом

8 и расположенного вне модулятора 6, фотоприемника 10, расположенного в фокусе объективов 7 и 8, блока 11

30 синхронизации, вход которого подключен к выходу, фотоприемника 10, пиковых детекторов 12 и 13, входы которых подключены к первому и второму выходам блока 1f соответственно, бло ;ков 14 и 15 определения ширины импуль- 35 са, входы которых подключены к первому и второму выходам блока 11 соответственно, блока 16 вычислений, входы которого подключены к выходам детекторов 12 и 13, блока 17 вычислений, входы которого подключены к выходам блоков 14 — 16, и индикатора

18, входы которого подключены выходам блоков 16 и 17, причем коллиматор 3 и щель 4 расположены таким образом, что их оптические оси лежат в одной плоскости, перпендикулярной основанию 1, симметрично относительно линии, проходящей через центр отверстия в основании 1 перпендикулярно ему.

Устройство работает следующим образом.

Пучок света от источника 2, проходящий через регулируемую щель 4, разделяется с помощью зеркала 5 на два 55 пучка, первый из которых рассеивается поверхностью контролируемого изделия и попадает на фотоприемник f0 через объектив 7, второй попадает на фотоприемник 10 через зеркало 9 и объектив 8. Пучки поочередно сканируются щелями вращающегося модулятора 6. Сигналы с фотоприемника 10 поступают на вход блока 11, на первом выходе которого появляется сигнал, соответствующий первому пучку, а на втором выходе — сигнал, соответствующий второму пучку. В детекторах

12 и 13 определяются максимальные значения интенсивностей пучков, в блоках 14 и 15 - ширины диаграмм рассеяния пучков ° В блоках 16 и 17 вычисляется высотный параметр шероховатостей RÄ и число пересечений микропрофилем базовой линии на единице длины h по формулам: (b()„ь g(ср ) iRà где 3 aq асср

b(раь i 6 О ср максимальная интенсивность первого пучка; максимальная интенсивность второго пучка; ширины диаграмм первого и второго пучков соответственно.

Формула изобретения

Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности иэделия, содержащий источник параллельного пучка света, два объектива, фотоприемник, оптически связанный с первым объективом, оптические оси источника и первого объектива лежат в одной плоскости, и схему измерения, выход которой подключен к выходу фотоприемника, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, он ( снабжен оптически связанными с источником параллельного пучка света и вторым объективом полупрозрачным зеркалом и отражающим зеркалом и ци.- -.. линдрическим модулятором, установленным с возможностью вращения вокруг своей.оси и выполненным не менее чем с одной щелью, параллельной этой оси, объективы и фотоприемник расположены внутри модулятора, второй объектив оптически связан с фотоприемником, а схема измерений выполнена B виде блока синхронизадии,, Составитель M.Êóçíåöoâ

Корректор М.Шароши

Редактор JI.Ï÷îëèíñêàÿ

Техред M.Дидык

Заказ 6949(38 Тираж 683 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, l01

5 1522038 6 вход которого является входом схемы пульса подключены к первому выходу измерений-, двух пиковых детекторов блока синхронизации, а входы второго и двух блоков измерения ширины импуль. пикового детектора и второго блока са, входы первого пикового детектора измерения ширины импульса подключены

5 и первого блока измерения ширины им- к второму выходу блока синхронизации.

Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности изделия Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности изделия Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности изделия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области акустических методов неразрушающего контроля

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля децентровки оптических поверхностей при изготовлении линз в оптическом приборостроении

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения механических дефектов на деталях с оптически грубой поверхностью

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам для измерения формы и перемещений поверхности объекта

Изобретение относится к способу и устройству для измерения плоскостности полосы в шахте моталки стана для горячей прокатки полос

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к измерению параметров движущихся поверхностей

Изобретение относится к области приборостроения и цифровых оптических устройств и может быть использовано для бесконтактного определения качества изделий, имеющих средние и низкие классы чистоты обрабатываемых поверхностей в пределах Ra=0,8÷100 мкм

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим способам измерения высоты микрорельефа поверхностей интерференционным методом

Изобретение относится к прецизионной измерительной технике, а именно к оптическим способам контроля шероховатости поверхности, и может быть использовано в различных отраслях науки и техники, в частности в ювелирной промышленности для оценки чистоты огранки алмазов
Наверх