Устройство для контроля дефектов поверхности цилиндрических изделий

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение достоверности за счет обеспечения съема информации о дефектах под различными углами. Устройство состоит из осветителя-коллиматора 1, объектива 2, формирующего изображение поверхности контролируемого изделия 3, линейки фотоприемников 5, расположенной в плоскости изображения поверхности контролируемого изделия 3, причем расстояние от оптической оси объектива до фотоприемников 5 определяется формулой И R-N-COS (180°-п/Х), где R - радиус контролируемого изделия; N - линейное увеличение объектива; п - порядковый номер фотоприемника; k - количество фотоприемников в линейке. При вращении контролируемого изделия 3 изображения дефектов поверхности контролируемого изделия 3 последовательно попадают в поле зрения фотоприемников 5, что обеспечивает после- g довательное визирование дефектов под различными углами. 1 ил. (Л .с 4 оо о | ел

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИ Х

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1430751 д i (s1) 4 0 01 В 21/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ! . !.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21 ) 4201209/24-28 (22) 02.03.87 (46) 15.10.88. Бюл. Ф 38 (75) Б.А.Борзых (53) 531.717(088.8) (56) Патент Великобритании

Р 2126712, кл. G 01 N 21/88, 1983, (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ИЗДЕЛий (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, Цель изобретения - повышение достоверности за счет обеспечения съема информации о дефектах под различными углами.

Устройство состоит из осветителя-кол.— лиматора 1 ° объектива 2, формирующего изображение поверхности контролируемого изделия 3, линейки фотоприемников 5, расположенной в плоскости изображения поверхности контролируемого изделия 3, причем расстояние от оптической оси объектива до фотоприемников 5 определяется формулой

H = R N cos (180 n/k), где R — радиус контролируемого изделия; N— линейное увеличение объектива; n— порядковый номер фотоприемника; количество фотоприемников в линейке, При вращении контролируемого изделия

3 изображения дефектов поверхности контролируемого изделия 3 последовательно попадают в поле зрения фотоприемников 5, что обеспечивает после- ф довательное визирование дефектов под различными углами. 1 ил.! 4307.", !

Изобретение относится к контроль Ioизмерительной технике и Может быть использовано для автоматизации дефектов цилиндрических изделии. !

Цель изобретения — повышение досто- верности за счет обеспечения съема информации о дефектах под различными углами.

На чертеже приведена схема устрой-, ства.

Устрой<ство состоит из с с-)етнтелякоэ<>11t»aтора I, установлен>:огo последовательно по ходу световь>х лучей светоце IH Tp IR 2, прецназне ч< нного для, !

5 направления световых лучей, отраженных от контролируемого из><ел<ия 3 на объектив 4, 3а объективом 4 по ходу световых лучей установлена линейка фотоприемников 5, причем;. инейка фотоп<риемников 5 расположена в плоскости изображения контролируемого

»!>äåT!èÿ 3, формируемого обьек гивом 4 (нумерация фотоприемников Hа чертеже идет снизу вверх).

К выходам фотоприемниксв 5, входящих в линейку, >подключены входи toроговых элементов 6, к выходам пос=1е><в !

IHx подключены регистры 7 сдвига (разряцность регистров 7 сдвига сов><адает с их порядковыми номерами, нумерация регистров сцвига на чертеже идет сверху вниз) ° Привод вращения издеJIH>I 3 (не показан) связан механической связью с генератором тактовых импульсов, выполненным в в >де диска

35 с> с прорезями и оптронной г<ары 9, выход которой подключен к вкоду формирователя 10 импульсов. К выходу фор-мирователя 10 импульсов подключены

<13 тактовые входы всех регистров 7 сдви-га. Выходь< последних разрядов всех регистров 7 сдвига, кроме;":-го, где

m = (к+ 1 ) /2 подключены к вход<1 и с>ло" ка 11 анализа, а выход посг>еднего

45 разряда Itl го регистра сдвига подключен к блоку 11 анализа через инвертор 12.

В состав устройства также входят пороговые элементы 6, входы которых

50 подключены к выходам фотон "иемников

5, регистры 7 сдвига, входы которых подключены к выходам пороговых элементов б (разрядность регистров 7 сдвига совпадает с их порядковыми г номерами„ нумерация регис>,ров на чертеже идет сверху вниз)„. диск 8 с прорезями, связанный с приводом вращения изделия 3, оптро:>ная пара 9, Формирователь 1:: 11мпульсов, вход которого подклк>че > к o! t Tpo«>tot паре 9, 3 выход к так . О>11>м Bxo> ам регистров

7 сдвига, блок, ан ь>>ива, все Bxo t которого, кроме oj„ 1!ol о, подключены ко всем, кроме .. .-1 о, m=(k+ ) /2>, выходам последних разрядoB регистров сдвига, инверто!> 2, вход которого

Ioдкпючен к вых< цу пос.!e>„>tet o разряца . .: —:о регистр» с>;ви1 а, а выход к б;1о— кy анализа, Устрс>йст>) > р Ii>< тает следующим образом, Привод Bp It!I

HB>t<- lHc 3 вохру< оси, изце:>ие 3 освещается широ iHit коллимированным

1>учком света «т:)светHтеля, рошедшим через свето,.>е .ите:<ьный элемент

Поверх нос ть >э.:,е >;ия 3 >tp <>eiIHpye т">! ооъектином 4 на ",Hнеику а>отопри; )t!t!tков 5. FI;1 них rlottaBaeT свет, от— нныи от I< ч.>к на поверхности из,;« ":.: 3, леж;пцих через равные углов:.1» HH Tåðè à! I! I 1(- н тральный фо топриемник ItIHTc>I в =нежном поле оста:ьii1:1< . В темном I >i! е, IIpH попадании

„.;;)фекта в поле э э ения центральногo

Фотоприемника е" o >< BEще нность умень— шает< я . Дефекты из „<ругих угловых по;1<>жений изце; ия 3 дают засветку остальнь<х фотоп<риемник:)B своими нак IQHными учас-.êàìè микрорельефа. При этом

H э Kpкие к 90 .,:;..-надь> от линейки фотоприемников 5 :1реобразуются в двоичную форму порог:ными элементами 6 и запоминают<я B регистрах 7 сдвига, Сцви: происходит ItpH поступлении каждого такт< во: о импульса с формирователя 10 т,е. при повороте изделия

3 >-а один элементарный участок контро.".>I,„ Поскольку разрядность регистров,> разная, информ>H!;êÿ на выходах их последних ра.ti»tiloB соотве-,ствуе: одному и тому же э..<емен-.арному участку контролируемой псверхности, Если количество двои.:,:<ьх чисел (е,циниц) на выходах регистров 7 Больше допустиt>oIо, это свидетел;< вЂ,вуе-, о,,ефект— ности соответствующегo элементарного участка и ;а выходе блока !! анали"-а псявляется СН1 пал,<ефекта ф о р м у л а и з о Б р е т е н и я

Устройство,»„lя ко>ITp<3.I>I д<)фектов поверхности цили>>дрических иэделий, 1430751

Н = N Н cos(180 ° (n-1)/(k-l), Составитель M.Êóçíåöoâ

Техред A.Кравчук Корректор А.Обручар

Редактор Е.Копча

Заказ 5331/41 Тираж б80 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д, 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. ужгород, ул. Проектная, 4 содержащее осветитель-коллиматор, объектив, приемник излучения, синхронизатор, блок анализа, о т л и ч а ю— щ е е с я тем, что, с целью повыше5 ния достоверности обнаружения дефектов и расширения функциональных возможностей> в устройство включены k пороговых элементов, k регистров сдвига и инвертор, причем приемник излучения выполнен в виде линейки из

k фотоприемников, расположенной на линии пересечения плоскости изображения контролируемого иэделия с плоскостью, перпендикулярной оси вращения контролируемого изделия и проходящей через оптическую ось объектива, расстояние Н от оптической оси объектива до п-го фотоприемника определяется выражением 20 где N — линейное увеличение объектива, H — радиус контролируемого иэделия; п — порядковый номер фотоприемника к выходу каждого фотоприемника подключен соответствующий пороговый элемент, к выходу каждого порогового элемента — регистр сдвига, причем разрядность регистра сдвига совпадает с его порядковым номером, синхронизатор выполнен в виде генератора TBK товых импульсов, жестко связанного с приводом вращения контролируемого изделия, выход которого соединен с тактовыми входами регистров сдвига, выходы последних разрядов k-1 регистров сдвига подключены к входам блока анализа, а последний разряд ш-го регистра сдвига, где m=(k+1)/2, подключен к блоку анализа через инвертор.