Устройство для измерения сложной поверхности

 

Изобретение касается информационно-измерительной техники, а именно измерения фасонных деталей и контроля геометрических размеров сложнофасонных деталей. Цель изобретения - повышение точности измерений посредством обеспечения возможности измерения двух координат точек измеряемой поверхности. Для этого при движении платформы, на которой закреплены два светоделителя, происходит сканирование поверхности объекта пучком излучения, сформированным светоделителями. При этом координата светового пятна на фотоприемнике от пучка, отраженного от поверхности, будет меняться пропорционально изменению кривизны поверхности объекта, а координата светового пятна другого пучка на фотоприемнике будет меняться пропорционально положению платформы со светоделителями. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (19) (И) (5)) 4 С 01 В 11/24

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

IlO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСМОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (21) 4324365/24-28 (22) 03. 11.87 (46) 15.12.89. Бюп. М 46 (71) Институт проблем сверхпластичности металлов АН СССР (72) P М. Ахметдинов, P.M. Галиулин и P.Ì; Галиулин (53) 531.781.2(088.8) (56) Рекламный проспект фирмы Ориел

"Лазерные сканирующие устройства

"Циго . Бесконтактные лазерные измерительные системы.

Патент Великобритании )Р 208 1437, кл. G 01 В 11/00, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ЛЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СЛОЖНОЙ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение касается информационно-измерительной техники, а именно измерения фасонных деталей и контИзобретение относится к информационно-измерительной технике, к измерению.фасонных деталей и для контроля геометрических размеров сложнофасонных деталей.

Цель изобретения — повышение точности измерения посредством обеспечения возможности измерения двух координат точек измеряемой поверхности.

На чертеже приведена схема устройства для измерения сложной поверхности

Устройство содержит последовательно установленные источник 1 монохроматического излучения, светоделитель

2, делящий пучок излучения на измерительный и опорный пучки, и позиционно-чувствительный фотоприемник 3, установленный в опорном пучке, вто2 роля геометрических размеров сложнофасонных деталей. Цель изобретения повышение точности измерений посредством обеспечения возможности измерения двух координат точек измеряемой поверхности. Для этого при движении платформы, на которой закреплены два светоделителя, происходит сканирование поверхности объекта пучком излучения, сформированным светоделителями. При этом, координата светового пятна на фотоприемнике от пучка, отраженного от поверхности будет меняться пропорционально изменению кривизны поверхности объекта, а координата светового пятна другого пучка на фотоприемнике будет меняться пропорционально положению платформы со светоделителями. 1 ил.

С:

I рой светоделитель 4, установленный в измерительном пучке по ходу излучения за первым светоделителем 2, платформу 5, установленную за источником

1 света по ходу излучения с воэможностью возвратно-поступательного пе- O ремещения ее вдоль оси опорного пучка, фЭ а оба светоделителя 2 и 4 установлены Я) на платформе с воэможностью поворота в плоскости расположения измерительного и опорного пучков. На поверхность

6 измеряемого объекта падает измери- р тельный пучок. Источник 1 излучения генерирует пучок 7 монохроматического излучения, светоделитель 2 формирует пучки 8 и 9 излучения, светоделитель

4, установленный на пути пучка 8, формирует пучок 10, падающий на поверхность 6 измеряемого объекта и пучок

1529038

11, фотоприемник 3 (фотодиодная или

ПЭС-линейка) установлен под острым углом к пучкам 9 и 11, регистрирует пучки 9 и 11 и пучок 12, отраженный от поверхности 6 объекта.

Устройство работает следующим образом.

При движении платформы происходит сканирование поверхностй 6 объекта пучком 10, сформированным светоделителями 2 и 4. При этом координата светового пятна на фотоприемнике 3, отраженного от поверхности пучка 12, меняется пропорционально изменению кривизны поверхности Ь объекта, а координата светового пятна пучка 11 на фотоприемнике 3 меняется пропорционально положению сканирующего пучка

10 в направлении движения платформы

5. Изменение оси пучка 7 относительно первоначального положения источника 1 в процессе работы устройства фиксируется изменением положения светового пятна пучка 9 соосного с пучком 7 на фотоприемнике 3.

Измерения поверхности 6 осуществляют следующим образом.

Выбирают на поверхности Ь объекта базовую точку 0 и направляют переме30 щением платформы 5 и поворотом светоделителя 2 вокруг своей оси пучок

10 на выбранную точку поверхности до совмещения пятна 12 на фотоприемI нике 3 с пятном от пучка 9 (точка 0 ) а поворотом светоделителя 4 направ- 35

I ляют в ту же точку пучок 11. Точка 0 является изображением базовой точки поверхности 6 объекта О, условно принимаемой за начало координат. При этом координата светового пятна пуч- 40 ка 11 на фотоприемнике 3 х пропорцио( нальна координате х произвольной -eowки А (х, у) поверхности, а координата у светового пятна пучка 12 пропор- циональна изменениям координаты у, 45 а так как координата х определяется однозначно, то сравнение х с у даj ет значейие координаты у точки A.

После завершения сканирования поверхности 6 объекта платформу 5 возвра- 50 щают в исходное положение и по степе ни смещения световых пятен пучков 9, 11 и 12 на фотоприемнике 3 относительно точки 0 вносят поправку на резуль-, тат измерения . Фиксирование изменений координаты пятна пучка 9 на фотоприемнике 3 производится в процессе всего измерения, а полученный сигнал рассогласования используется для снижения ошибки из-за смещения пучка 7 относительно первоначального направления.

Пример . Предлагаемый способ был -опробован на макете, собранном по предлагаемой схеме с применением лазера JII — 78, объектива "Индустар

50" в качестве масштабирующего элемента, прикрепленного к фотодиодной линейке ФПУ-36, двух светоделителей в виде полупрозрачных зеркал. Расстояние от лазера до фотоприемника составляло 100 см, объект измерения (профилированный диск газовой турби,ны) располагался на расстоянии около 50 см от линии, связывающей лазер и Аотодиодную линейку, последний был установлен под углом 45 к основному лучу лазера. Перемещение платформы со светоделителями осуществлялось вручную.

Формула изобретения

Устройство для измерения сложной поверхности, содержащее последовательно установленные источник монохроматического излучения, светоделитель, делящий пучок излучения на измерительный и опорный пучки, и позиционно-чувствительный фотоприемник, установленный в опорном пучке, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено вторым светоделителем, установленным в измерительном пучке по ходу излучения за первым светоделителем, платформой,,установленной за источником света по ходу излучения с возможностью возвратно-поступательного перемещения ее вдоль оси опорного пучка, а оба светоделителя установлены на платформе с воэможностью поворота в плоскости расположения измерительного и опорного пучков.

1529038

Составитель Б.Евстратов

Техред Л.Олийнык Корректор Л.Патай

Редактор Н.Горват

Закаэ 7839/35

Тираж 683

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Проиэводственно-иэдательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Устройство для измерения сложной поверхности Устройство для измерения сложной поверхности Устройство для измерения сложной поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля формы крупногабаритных вогнутых параболоидов

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при интерференционном контроле крупных астрономических зеркал

Изобретение относится к области измерительной техники, преимущественно к голографическим интерференционным устройствам для определения формы поверхности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле профиля деталей сложной формы

Изобретение относится к измери-

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения геометрических параметров отражающих объектов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх