Способ измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе

 

Изобретение относится к области неразрушающих методов контроля и может быть использовано в различных областях промышленности для измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе. Цель изобретения - повышение точности измерений. Сущность способа состоит в том, что с помощью приставного электромагнита (ПЭ), содержащего разомкнутый сердечник, намагничивают изделие до технического насыщения сердечника, измеряют внутреннее поле последнего и определяют толщину покрытия по формуле T=A+B<SP POS="POST">.</SP>H<SB POS="POST">I</SB>, где A, B - коэффициенты, определяемые параметрами системы ПЭ - изделие

H<SB POS="POST">I</SB> - измеренная величина внутреннего поля. Измерение внутреннего поля производят в нейтральной плоскости сердечника у поверхности последнего со стороны контролируемого изделия. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 7/06

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4368133/26-28 (22) 25.01.88 (46) 07.01.90. Бюл. № 1 (71) Физико-технический институт со специальным конотрукторским бюро и опытным производством Уральского отделения АН

СССР (72) А. В. Филиппов, В. А. Захаров и Э. С. Гаркунов (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 970068, кл. G О! В 7/06, 1982.

Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий./ Под ред. В. В. Клюева, М.: Машиностроение, 1976, с. 74.

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля, в частности к методам контроля толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе.

Цель изобретения — повышение точности измерений за счет устранения нелинейности между информативным параметром и тол щи но и по к р ыти я.

На фиг. 1 изображено устройство, реализующее способ; на фиг. 2 — зависимости величины внутреннего поля Н сердечника электромагнита при различных токах намагничивания 1. от толщины покрытия; на фиг. 3 — зависимость сигнала первичного преобразователя от его смещения относительно нейтрали.

„,ЯУ„„1534293 A 1

2 (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

НЕФЕРРОМАГНИ<ТНЫХ ПОКРЫТИЙ HA

ФЕРРОМАГНИТНОЙ ОСНОВЕ (57) Изобретение относится к области неразрушающих методов контроля и может быть использова но в различных обла стях промышленности для измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе. Цель изобретения — повышение точности измерений. Сущность способа состоит в том, что с помощью приставного электромагнита (ПЭ)< содержащего разомкнутый сердечник, намагничивают изделие до технического насыщения сердечника, измеряют внутреннее поле последнего и определяют толщину покрытия по формуле

t = а+ b Н;, где а, b — коэффициенты, определяемые параметрами системы ПЭ вЂ” изделие, Н; — измеренная величина внутреннего поля. Измерение внутреннего поля производят в нейтральной плоскости сердечника и поверхности последнего со стороны коитролируемого изделия. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

Устройство, реализующее способ (фиг. 1), состоит из приставного электромагнита 1, содержащего разомкнутый сердечник 2, замыкаемый контролируемым участком ферромагнитного изделия 3 с неферромагнитным покрытием 4, и намагничивающую обмотку из двух секций 5, размещенную на сердечнике 2. В нейтральной плоскости 6 сердечника 2 у поверхности последнего со стороны контролируемого изделия 3 располагается первичный преобразователь 7, соединенный с измерителем внутреннего поля 8. Намагничивающая обмотка 5 соединена с источником 9 тока.

Способ измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе заключается в следующем.

1534293

t=3+ b H, 25

Формула изобретения

50 з

11риставной электрОг)агн1!т (ПЭ) 1 устанавливают на контролируемый участок изделия 3, имеющий неферромагнитное покрыпгие 4 толщиной t. При этом Образуется замкнутая магнитная цепь кз серде -!ника 2 и ферромагнитной основы издели5. 3 с неферромагнитным зазором величиной 2t. Далее намагничивают магнитную систему ПЭ изделие до технического насыщения сердечника

2, путем пропускания тока 1,„от источника

9 через намагничивающую обмотку 5. В момент прохождения тока 1 r.роизводится измерение внутреннего пол5! сердечника, 2 с помощью первичного преобразователя 7 и измерителя внутреннего поля 8. Толщкну покрытия t определяют по формуле где à, b — коэффиниенты, опреде)гяемые нараметрамк системы ПЭ вЂ” -изделие;

Н вЂ” - измеренная величина внутреннего ОЛ Я.

Зависимость t(Hi) определяется предварительно для ПЭ и изделий данного типоразмера при выбранной величине тока 1:«.

После обработки зависимости вычисляют <оэффициенты а. и D, представлявшие соб)ой коэффициенты регрессии к спределяющке ап51роксимир ) 101цую прямую, florpekLikfocTh il диапазон измерения толщкны 1, определяемой при выбранных параметрах системы

ПЭ--изделие. Велкчину тока намагничивания 1 выбирают исходя и:- требуемого диапазона измерения толшин.

При,кер.

Измерения проводились с использованием приставного электромагнита, соде ржашего

1i -oáðàçíbié сердечник из армко- — железа 7 сечение 16!)(20 мм- и межпол)осных1 paccTo5k?IHP:iiI 35 vIM Bb1coToH 53 мм, с. HBM3I HH чивяюшей обмоткой о==-630 витков (ПЭВ; — 2, Р 0,75) . В качестве источника тока использовался стабилизированный источник

ТЭС--4, в качестве первичного преобразователя датчик Холла ПХЭ602117Б (возбуждение постоянным током )00 мА от источн ика ТЭС вЂ” 13), в качестве измерителя внутреннего поля — вольт:.1етр Ш68003, проградуированный в А, .м. 1-1еферрома!.н г."ное покрытие на ферромагнитной основе моделировалось с помо)ць:о прокладок из гексlo;1Hz3 на образце из стали 50РА размера15 (20)(65 мм ко:.)j)ljHTHBHQH силой

i),5 A cia. 33 f3Hc H iIoc I H Hi (t l „полученные

i P H P 1l 3. 1 И -1 Н Ь1 Х ЗНЯЧЕНИЯХ В 1 1 H I H I I bI Т 0 К 3 фиг. 2. Для Bbloopc; личины тока наhi агни !ива ни я 1н p3ссчитаны коэффициенты корреляциH H величины среднего квядоатического отклонения при линей.;Ой я н!1)!)ксил!Яниг! зависимостей для различ ..ых дн Яназонов из)кеkickIH5I олшины 0-i..

Результаты расчетов коэффициента корреляции (среднего квадратичного отклонения представлены в таблице). Высокий коэффициента корреляции для некоторого интервала 1 при токе 1. соответствует состоянию технического насыщения сердечика.

По данным таблицы выбирается величина тока IH, обеспечивающая достаточную точность измерения толщины в выбранном диапазоне изменения последней, и рассчитываются коэффициенты а и b. При выборе тока 1н=2,8 прк диапазоне изменения толщины 0 — 05 мм зависимость t(H ) может быть представлена в виде ((глм) =1,238 — 0,0115. Н (А/см) при коэффициенте корреляции 0,999, остаточная дисперсия 0,0038. Расчеты величины могут производиться как вычислениями по полученной формуле, так и путем градуировки шкалы измерительного прибора.

Исследование зависимости Hi(t) показывает, что налкчие линейной связи между

Hi u t наблюдается при измерении H в любом месте по длине сердечника 2, однако максимальная крутизна прямых Н (1), т.е. максимальная разрешающая способность при определении толщины t наблюдается при расположении первичного преобразователя 7 вблизи нейтральной плоскости 6 сердечника ПЭ.

Способ измерения толщины позволяет наряду с повышением точности измерения определять в достаточно широком диапазоне толщину неферромагнитного покрытия любого типа по ферромагнитной Основе.

1. Способ измерен) я толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе, заключающийся в перемагничивании контролируемого участка изделия с помощью приставного электромагнита с разомкнутым ферромагнитным сердечником, замыкаемым контролируемым изделием, и измерении магнитного параметра системы приставной электромагнит — изделие, по которому определяют толщину покрытия, отличающийся тем. что, с целью повышения точности измерений, перемагничивание осуществляют до технического насыщения сердечника электромагнита, а в качестве магнитного параметра используют величину внутреннего поля в сердечнике электромагнкта.

2. Способ по и. 1, отличающийся тем, что измерение внутреннего поля в сердечнике осу ще ствляют в нейтрал ь ной пл оскости сердечника у поверхности последнего со стороны конт рол ируемо го и здел ия.

1534293 (2,0

1,5

1,0,А/см

ХбО

Х2,5 А

80,ОА бО

4,0 А

Х,О

Х,5

2,8

5,5

О, 996/0, 0047

О, 999/0,0038

0, 999/0,0054

О, 999/0, 006

0,999/0,008

О, 998/О, 0233

О, 999/О, 0172 О, 997/О, 041

О, 999/0, 0166 О, 997/О, 037

О, 999/О, 01 О, 998/0, 029

0,992/0,095

0,994/0,084

0,995/0,078

1534293

75 10 5 О 5 70 75 Х,ми

Quz.5

Составитель И. Рекунова

Р(дактор С. Г1 ат ръ Ill câà Техред И. Верес Корректор Л. Патай

Заказ 34 1 и раж 492 Г!одписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производсзвенно-издательский комбинат «Патент», г. Ужгород, ул. Гагарина, 01

Способ измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе Способ измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе Способ измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе Способ измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для толщинометрии слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в емкостных первичных преобразователях перемещений

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для определения толщины защитных покрытий, нанесенных на ферромагнитную основу

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено в системах автоматического неразрушающего контроля толщины покрытий изделий

Изобретение относится к вихретоковой толщинометрии неэлектропроводящих покрытий на электропроводящих неферромагнитных основаниях

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества железобетонных конструкций и может быть использовано в автоматизированных стендах на заводах стройарматуры

Изобретение относится к неразрушаемому контролю и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий

Изобретение относится к средствам толщинометрии и может быть использовано для контроля неферромагнитных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх