Термоэлектрическое устройство для измерения толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе

 

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины покрытий термоэлектрическими методами, и может быть использовано для контроля напыленных покрытий и поверхностных слоев металлических изделий, подвергнутых химико-термической и лазерной обработке. Цель изобретения - повышение точности за счет исключения влияния отклонений в химическом составе покрытия - достигается путем выделения термоэлектродвижущей силы пары "нагреваемый наконечник 2-покрытие". Устройство снабжено пьезоэлектрическим датчиком 4, по сигналу которого компаратор 5 формирует импульс запуска пикового детектора 7, регистрирующего максимальное значение термоЭДС с выхода дифференциального усилителя 6. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 5 С 01 В 7/06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABT0PCH0MV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (2) ) 4424215/25-28 (22) 16.05.88 (46) 15.01.90. Бюл. У 2 (71) Куйбышевский политехнический институт им. В.В.Куйбышева (72) Е.А. Кордит, В.П.Кондрашова и Ю.N.Ìàòâååâ (53) 620. 179. j 32. 6 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 383997, кл. G 01 В 7/06, 1971. (54) ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО

ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ НА ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩЕЙ

ОСНОВЕ (57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины покрытий

„„SU„„1536191 А 1

2 термоэлектрическими методами, и может быть использовано для контроля напыленных покрытий и поверхностных слоев металлических изделий, подвергнутых химико-термической и лазерной обработке. Цель изобретения — повышение точности за счет исключения влияния отклонений в химическом составе покрытия — достигается путем выделения термоэлектрадвижущей силы пары нагреваемый наконечник 2 — покрытие.

Устройство снабжено пьезоэлектрическим датчиком 4, по сигналу которого компаратор 5 формирует импульс запуска пикового детектора 7, регистрирующего максимальное значение термоЭДС с вы- а хода дифференциального усилителя 6. ил.

1536191 таве покрытия, в качестве параметра, характеризующего толшину покрытия, используют разность между начальным значением термоЭДС и значением ее на установившейся стадии.

Изобретение может быть использовано для неразрушаюшего контроля напыленных покрытий и поверхностных слоев металлических изделий, подвергнутых химико-термической и лазерной обработке.

Составитель JI. Степанов

Редактор Л. Веселовская Техред Я.Ходанич Корректор М.111ароши

Заказ 100 Тираж 492 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

II !1

Производственно-издательский комбинат Патент, г.Ужгород, ул. Га арина,101

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины покрытий термоэлектрическими методами.

Цель изобретения — повышение точ5 ности за счет исключения влияния отклонений в химическом сост-.âå поKP61THH .

На чертеже представлена схема тер- 10 моэлектрического устройства для измерения толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе.

Устройство содержит устанавливаемь|е на изделие 1 нагреваемый наконеч- 1 ник 2 с нагревателем (не показан} и .холодный наконечник 3, пьезоэлектрический датчик 4, компаратор 5 напряжею й, дифференциальный усилитель 6, пнковый вольтметр 7, логическую схему ИЛИ 8, блок 9 запуска.

Устройство работает следующим образом.

Акустический сигнал, возникающий момент касания нагреваемым наконечником 2 поверхности изделия 1 со стороны покрытия, воспринимается пьезоэлектрическим датчиком 4. Сигнал с датчика 4 переключает компаратор 5, на выходе которого формируется sa пускающий импульс. Фронт запускающего импульса проходит через логическую схему ИЛИ 8 и запускает пиковый детектор 7, который фиксирует макси— мальное значение величины, термоЭДС пары нагреваемый наконечник 2 — покрытие.

Дальнейшие измерения термоЭДС осуществляются по сигналам блока 9 запуска до установления ее постоянного

"значения после прогрева покрытия и включения термоЭДС пары покрытие основа.

Для выделения погрешности, обусловленной отклонениями в химическом сос.—

Формул а и з о б р е т е н и я

Термоэлектрическое устройство для измерения толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе, содержашее нагреваемый и холодный наконечники, нагреватель и измерительный прибор, о т л и ч a

Термоэлектрическое устройство для измерения толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе Термоэлектрическое устройство для измерения толщины электропроводящих покрытий на электропроводящей основе 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при измерении толщины материалов электромагнитными методами

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при автоматическом контроле толщины стенки металлических труб

Изобретение относится к неразрушающему контролю

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля заданного расстояния до электропроводящего изделия

Изобретение относится к области неразрушающих методов контроля и может быть использовано в различных областях промышленности для измерения толщины неферромагнитных покрытий на ферромагнитной основе

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для толщинометрии слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в емкостных первичных преобразователях перемещений

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для определения толщины защитных покрытий, нанесенных на ферромагнитную основу

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх