Устройство для исследования электрических неоднородностей высокоомных образцов

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования и контроля неоднородностей электропроводности, диэлектрической проницаемости или толщины образцов высокоомных материалов. Цель изобретения - повышение экспрессности исследований. Устройство содержит источник переменного напряжения, плоский измерительный конденсатор, внутрь которого помещают исследуемый образец, причем один из электродов конденсатора прозрачный и покрыт слоем фотолюминофора. Цель достигается за счет возможности визуального наблюдения неоднородностей. 2 ил.

!

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 5 (01 N 27/22

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н д ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Устройство состоит иэ источника переменного напряжения 1 и конденсаторной системы, в состав которой входят два электрода 2 и 3, по край" ней мере один из которых, например 2, прозрачный, разрядный воздушный зазор

4 и достаточно тонкий (толщиной в один " два зерна люминофора, т.е. до

100 мкм) фотолюминесцирующий слой ; 5. Испытуемый образец 6 вводится в зазор между электродами для исследо- . вания. Если используется прозрачный электрод, то он не должен быть слишком толстым (толщина выпускаемых промышленностью стекол 2-3 мм с проводящим слоем двуокиси олова удовлетворяГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4227096/27-25 (22) 13.04,87 (46) 15.02.90. Бюл. н 6 (71) Московский институт инженеров железнодорожного транспорта (SU)

Институт инженеров транспорта и свя" зи, г. Хилина (CS) (72) И.К. Верещагин (SU), Иван Турек (CS), С М. Кокин (Su) и Иван

Баяк (СВ) (53) 551.508.7(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N 229413, кл. 4 01 N 27/22, 1980.

Авторское свидетельство СССР

Ю 497507, кл. С 01 N 21/66, 1963.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено для исследования и контроля однородности электропроводности, диэлектрической проницаемости или толщины отдельных участков образцов высокоомных материалов.

Цель изобретения - повышение экспрессности исследований, На фиг. 1 показано расположение слоя фотолюминофора перед прозрачным электродом (внутри конденсаторной системы); на фиг. 2 - то же, за прозрачным электродом (в местах, где электрические поле, накладываемое на систему, отсутствует).

„„SU„„1543331 А1

2 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ ВЫСОКООМНЫХ

ОБРАЗЦОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь" зовано для исследования и контроля неоднородностей электропроводности, диэлектрической проницаемости или толщины образцов высокоомных материалов. Цель изобретения — повышение экспрессности исследований. Устройст" во содержит источник переменного нап" ряжения, плоский измерительный конденсатор, внутрь которого помещают исследуемый образец, причем один иэ электродов конденсатора прозрачный и покрыт слоем фотолюминофора. Цель достигается за счет возможности визуального наблюдения неоднородностей.

2 ил.

1543331

Формула изобретения

Составитель B. Немцев

Техред Й.Ходвяич Корректор Т. МалецРедактор М, Недолуженко

Заказ 397 Тираж 510 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета па изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина,101 ет этому требованию). Величину воздушнаго зазора между прозрачным электродам и образцом выбирают исходя из тех саображений, что при малых толщинах воздушного слоя (менее 10 м) электроны не успевают набрать энергию, достаточную для начала газового разряда, в то же время при слишком больших зазорах, во-первых, возрастает напряже- 10 ние, требуемое для работы устройства, и, во-вторых, может упасть разреше1 1 нее получаемой картины. В частности, эттпирически показано, что для получения удовлетворительного разрешения достаточно, чтобы толщина d зазора не превышала величины d = 7а, где а расстояние между двумя "дефектными" участками образца . На практике. толщину зазора выбирают равной 0,1-0,5.мм 0 Пример. Используют источник переменного напряжения (импульсы длительностью 20- 0 мкс и частотой повторения 20-100 Гц, амплитудой 0,5- 2g

5,кВ) и конденсаторную систему, состоящую из медного и прозрачного (пленка двуокиси олова на стеклянной подложке, имеющей толщину 3 мм) электродов. На прозрачный электрод (пленка двуокиси олова находится внутри конденсаторной структуры) нанесен (например, методом накатки) слой ZnS,Ñè люминофора (суспензия порошкового люминофора в лаке BC-530), толщина слоя

0,1., При большом удельном сопротивлении образца (больше 109 Ом.см) для возбуждения свечения требуется большое напряжение на конденсаторной системе, при этом возможен пробой устройства. B случае низкоомных образцов з (10 OM.ñè. и ниже) неудовлетворительным оказывается контраст получаемой картины. Таким образом, устройство позволяет исследовать образцы, имеющие удельное сопротивление от 10 до з

10 Ом.см.

Устройство для,исследования электрических неоднородностей высокоомных образцов, содержащее источник переменного напряжения, плоский измерительный конденсатор, расстояние между измерительными электродами которого превышает толщину исследуемого образца не менее чем на О,1 мм, причем один иэ электродов прозрачный и оба электрода соединены с источником питания, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения экспрессности исследований, на прозрачный электрод нанесен слой фотолюминофора.