Способ определения глубины наклепанного слоя на поверхности электропроводящих деталей, заключающийся в том, что возбуждают с помощью вихретокового преобразователя, включенного в контур автогенератора, вихревые токи на контролируемом участке детали, получают изменение частоты автогенератора и используют ее в качестве информационного параметра при определении глубины наклепанного слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, приводят вихретоковый преобразователь во взаимодействие также и с ненаклепанной деталью, плавно увеличивают начальную частоту автогенератора, определяют разность частот 
f, полученных при одинаковых начальных частотах fн автогенератора под воздействием наклепанной и ненаклепанной деталей, фиксируют начальную частоту fнг автогенератора, при которой f начинает изменяться, и по полученной величине fнг судят о глубине наклепанного слоя.
Похожие патенты:
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящих основаниях
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и касается измерения толщины немагнитных металлических покрытий на металлах
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения удельной электрической проводимости плоских объектов и толщины их диэлектрических покрытий
Изобретение относится к методам вихретокового контроля материалов и изделий и может быть использовано в вихретоковых дефектоскопах, применяемых в машиностроении
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для поверки и калибровки средств вихретокового контроля
Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано при визуализации дефектов в ферромагнитных изделиях
Изобретение относится к методам неразрушающего контроля диэлектрических покрытий и может быть использовано в промышленности для контроля покрытий в условиях одностороннего доступа
Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано при визуализации качества структуры изделий из ферромагнитных материалов
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий
Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий
Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия
Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката
Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
