Устройство контроля параметров одномерных тел

 

Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть использовано для определения координат длинномерных объектов в процессе изготовления. Целью изобретения является повышение надежности контроля измерения. Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 излучения, коллиматор 2, объектив 3, оптическую систему 4, пространственный фильтр 5, расположенный в плоскости регистрации, фотоприемник 6 и электронный блок 7. Объект располагается между объективом 3 и оптической системой 4, которая содержит набор под определенными углами расположенных отражающих поверхностей, обеспечивающих поворот создаваемой объектом теневой картины на 270° в плоскости расположения оси потока излучения и на 90° вокруг его собственной оси. В результате на анализаторе формируются два изображения теневой картины в двух взаимно перпендикулярных поверхностях. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1551987 (51)5 G 01 В 11/02

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

RO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

I — °-Н A BTGPCHGMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4386041/24-28 (22) 29.01.88 (46) 23.03.90. Бюл. № 11 (71) Одесский государственный уни-. верситет им. И.И. Мечникова (72) В.С. Версон, Г.Г. Веревкин, 10,В. Ковалев и А.В. Тараненко (53) 531. 717: 531. 14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 1240061, кл. G 01 В 2i/00, 1980. (54) УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ IIAPAIIETPOB

ОДНОМЕРНЫХ ТЕЛ (57) Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть использовано для определения координат длинномерных объектов в процессе изготовления. Целью изобретения является повышение надежности контроля измерения. Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 излучения, коллиматор 2, объектив 3, оптическую систему 4, пространственный фильтр 5, расположенный в плоскости регистрации, фотоприемник 6 и электронный блок 7.

Объект располагается между объективом 3 и оптической системой 4, которая содержит набор под определенными углами расположенных отражающих поверхностей, обеспечивающих поворот создаваемой объектом теневой картио ны на 270 в плоскости расположения оси потока излучения и на 90 вокруг о его собственной оси. В результате. на анализаторе формируются два изображения теневой картины в двух взаимно перпендикулярных поверхностях.

1 ил.

15519Я7

Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть испольформулаизобретения

Составитель О. Мамонтов

Техред JI. Сердюкова

Редактор А. 1 1андор

Корректор Э. Лончакова

Заказ 321 Тираж 491 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Мос.ква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 зовано для определения координат длинномерных объектов в процессе изготовления.

1(елью изобретения является повышение надежности конгроля измерений, На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства. 10

Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 излучения, коллиматор 2, объектив 3, освещаемой параллельным потоком, оптическую систему 4, пространственный, фильтр 5, расположенный в плоскости регистрации, фотоприемник 6 и электронный блок 7.

Устройство работает следующим образом. 20

Поток источника 1 излучения преобразуется в параллельный коллиматором

2.и, проходя через область расположения объекта, на входной грани оптической системы 4 образует теневое 25 иэображение объекта. Оптическая система 4 разворачивает поток излучения на 270 в плоскости расположения о о оси потока излучения и на 90 вокруг его собственной оси и направляет на 30 объект вторично под углом 90 к иапо равлению распространения потока на входе оптической системы 4. На пространственном фильтре 5, расположенном в плоскости регистрации, формируются

5 два теневых изображения объекта в виде пересекающихся полос, координаты центра пересечения которых однозначно связаны с координатными объектами в плоскости, параллельной оси потока 40 излучения, падающего на объект. Распределение освещенности за пространственным фильтром 5 анализируется фотоприемником 6, подключенным к электронному блоку 7.

Оптическая система 4 выполнена в виде сложной призмы, входная и выходная грани которой расположены под углом 90 . Поток излучения падает о перпендикулярно входиой грани и затем попадает на первую отражающую грань и, разворачиваясь на 90 к плоскости о расположения оси падающего пучка, попадает на вторую отражающую грань, о разворачивается также на 90 и его ось становится параллельной входной и выходной граням призмы. Далее, па-. дая на третью грань, поток поворачивается на 90 и становится перпендикулярным входной гарни, четвертая грань поворачивает поток на 90О в плоскости, перпендикулярной входной и и выходной граням, пятая грань поворачивает поток на 90 в плоскости, параллельной выходной грани, и шестая грань поворачивает пучок излучения еще на 90, направляя его перпендикулярно выходной грани. При этом ось выходящего из призмы потока излучения лежит в той же плоскости, что и ось входящего потока, и параллельна ей.

Устройство контроля параметров одномерных тел, содержащее последовательно расположенные источник излучения, коллиматор и оптическую систему, пространственный фильтр, фотоприемник и электронный блок, о тличающе еся тем, что, с целью повышения надежности контроля измерений, оптическая система выполнена в виде набора поверхностей, из которых входная и выходная поверхо ности расположены под углом 90 одна к другой, первая, третья и четвер.тая— отражающие поверхности и расположены под углом 45О к входной поверхности, а вторая и пятая †. отражающие поверхности и перпендикулярны к ней, одновременно первая, вторая, четвертая, пятая и шестая отражающие поверхности с выходной поверхностью образуют угол 45, третья отражающая поверхность перпендикулярна ей, а шестая отражающая поверхность перпендикулярна пятой.

Устройство контроля параметров одномерных тел Устройство контроля параметров одномерных тел 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных перемещений объекта

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в производстве круговых лимбов отсчетных устройств

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных перемещений по интерференционно-муаровым полосам

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения линейных перемещений

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для дистанционного измерения геометрических параметров и контроля положения объекта в труднодоступных зонах

Изобретение относится к способам измерения показателей взаимодействия подвижного состава и железнодорожного пути

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных перемещений подвижных объектов, в частности в качестве датчика обратной связи в прецизионном оборудовании

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам передачи в измерительной технике и может быть использовано для измерения перемещений объекта

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть применено для измерения линейных размеров и профилей объектов в машиностроении, приборостроении, в автоматических линиях по производству проката
Изобретение относится к гистологии, касается морфометрической оценки тучных клеток мезометриальной брыжейки крыс

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам измерения и может быть использовано для измерения перемещений объекта

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для широкого круга измерительных задач при оценке не плоскостности, не перпендикулярности, величин прогибов и др
Наверх