Способ контроля качества акустического контакта при ультразвуковом контроле изделий
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для ультразвукового контроля металлических конструкций материалов. Целью изобретения является повышение точности за счет оценки положения преобразователя относительно контролируемой поверхности. Измерение среднего значения отнормированной относительно эталонной поверхности емкости между электродами ячеек матричного пьезоэлектрического преобразователя и поверхностью контролируемого изделия и дисперсии отнормированных емкостей позволяет оценить равномерность прилегания поверхности преобразователя к поверхности исследуемого изделия и однозначно оценить геометрическое расположение преобразователя относительно поверхности исследуемого материала.
СОЮЗ СОВЕтСНИХ
СОЦЕЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИК (19) Н1) щ) С 01 N 29/04
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
ПРИ CHHT СССР
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ",, К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ.
ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ НОМИТЕТ
C,, С;/С; „; (21) 4257915/25-28 (22) 03.04.87 (46) 23 ° 04 ° 90, Бюл. № 15 (71) Горьковский филиал Всесоюзного научно-исследовательского института по нормализации в машиностроении (72),В.В.Мишакин и А,Л,Углов (53) 620,179.16(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1158921, кл. С 01 Н 29/04, 1983. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА АКУСТИЧЕСКОГО КОНТАКТА ПРИ УЛЬТРАЗВУКОВОМ
КОНТРОЛЕ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к неразру шающему контролю и может быть использовано для ультразвукового контроля металлических конструкций материалов„
Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для ультразвукового контроля металлических конструкционных материалов.
Цель изобретения — повышение технологичности за счет оценки положения преобразователя относительно контролируемой поверхности.
Способ осуществляется следующим образом.
Используя пьезоэлектрический пре- . образователь матричного типа при исследовании его акустического контакта с поверхностью исследуемого материала создают между электродами ячеек матрицы пьезоэлектрического преобразователя и поверхностью исследуемого материала электрическое поле, измеряют емкости между электродами ячей2
Целью изобретения является повышение точности за счет оценки положения преобразователя относительно контролируемой поверхности. Измерение среднего значения отнормированной относительно эталонной поверхности емкости между электродами ячеек матричного пьезоэлектрического преобразователя и поверхностью контролируемого изделия и дисперсии отнормированных емкостей позволяет оценить равномерность прилегания поверхности преобразователя к поверхности исследуемого изделия и однозначно оценить геометрическое расположение преобразователя относительно поверхности исследуемого материала, ки матрицы пьезоэлектрического преобразователя и поверхностью исследуемого материала и сравнивают с емкостями между электродами ячеек матрицы пьезоэлектрического преобразователя и эталонной поверхностью материала.
При этом получают следующие параметры где С„ > — среднее значение отнормированной относительно .эталонной поверхности емкости С; ноем
1559279
Формула изобретения
Составитель В,Евстратов ,Редактор .В.Данко Техред А.Кравчук . Корректор О.Кравцова
Заказ 835 . Тираж 502 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óèãîðîä, ул. Гагарина,101 где С вЂ” емкость 1-й ячейки матрицы
1 относительно поверхности исследуемого материала;
С; - емкость i-й ячейки матрицы е относительно эталойной поверхности;
N — количество ячеек матрицы; — информативный параметр;
D -дисперсия отнормированных ноом емкостей н сн ш 1 3 смоем . идеям 7"
По величине с С ) судят о толщи не контактного слоя. При изменении толщины контактного слоя параметр
О не меняется в случае, если нет перекоса преобразователя относительно контролируемой поверхности. Пере" кос преобразователя или изменение волнистости поверхности контролируемого изделия приводит к значительному изменению величины о
Для обеспечения заданной величины погрешности измерения акустического параметра, например затухания ультразвуковых волн, которое вносит по-: верхность исследуемого материала, задаются максимально допустимые значения параметров CCq« ) и о . Определение акустического контакта по
4C„» v и О параметрам обеспечивает оценку равномерности прилегания всей поверхности преобразователя к поверхности исследуемого материала, Таким образом, способ позволяет однозначно оценивать геометрическое рас положение преобразователя относительно поверхности исследуемого материала.
Способ контроля качества акустического контакта при ультразвуковом контроле изделий, заключающийся в том, что создают между преобразователем и объектом физическое поле и определяют его параметры, по которым судят о качестве контакта, о т л ичающий с я тем, что, с целью повышения точности, используют матричный преобразователь с электрически изолированными электродами, s качестве физического поля создают электрическое поле, а в качестве параметров определяют среднее значение отнормивованной.относительно эталонной поверхности емкости между электродами ячеек .матрицы и поверхностью исследуемого материала и отношение дисперсий отнормированных емкостей к их среднему значению,
