Способ измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента сканирующего акустического микроскопа

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является расширение области использования за счет измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента в случае его осевой несимметричности. Излучателем 1 формируют на рабочей частоте микроскопа плоскую ультразвуковую волну, распространяющуюся в иммерсионной среде в направлении ультразвукового элемента микроскопа. Меняя направление волнового вектора R 0 плоской волны, регистрируют выходной электрический сигнал ультразвукового элемента микроскопа. Показано, что для плоской волны по зависимости амплитуды и фазы выходного сигнала ультразвукового элемента от направления волнового вектора R 0 определяют с точностью до постоянной обобщенную апертурную функцию (ОАФ) ультразвукового элемента. Поскольку угол наклона вектора R 0 меняют в двух плоскостях, то тем самым измеряются также и азимутальные зависимости ОАФ, обеспечивая, таким образом, возможность измерения ОАФ также и в случае значительной несимметричности ультразвукового элемента относительно акустической оси, что расширяет область использования способа, обеспечивая тем самым положительный эффект. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 21 00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOfVIY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

7. ЭЮ/7ВМИ и-триада

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР

1 (21) 4395020/24-28 (22) 22.03 ° 88 (46) 07.07,90. Еаих У 25 (71) Московский институт радиотехники, электроники и автоматики (72) С,А.Титов (53) 532,534 (088 ° 8) (56) Liang К.К., Kino G .S., KhuriYakub В,Т. Ма erial characterization

by the 1пчегзх.оп of V(Z). IEEE Trans., .1985 811-32, Р 2, р. 213-224. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОБОБЩЕННОЙ АПЕРТУРНОЙ ФУНКЦИИ УЛЬТРАЗВУКОВОГО ЭЛЕМЕНТА СКАНИРУЮЩЕГО АКУСТИЧЕСКОГО МИКРОСКОПА (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, Целью изобретения является расширение области . использования за счет измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента в случае его осевой несимметричности. Излучателем 1 формируют на рабочей частоте микроскопа

„,80„„1576839 А 1

2 плоскую ультразвуковую волну, распространяющуюся в иммерсионной среде в направлении ультразвукового элемента микроскопа. Меняя направление волнового вектора плоской волны, регистрируют выходной электрический сигнал ультразвукового элемента микроскопа. Показано, что для плоской волны по зависимости амппитуды и фазы выходного сигнала ультразвукового элемента от направления волнового вектора 1 р определяют с точностью до постоянной обобщенную апертурную функцию (ОАФ) ультразвукового элемента. Поскольку угол наклона вектора R меняют в двух плоскостях, то тем самым измеряются также и азимутальные зависимости ОАФ, обеспечивая, таким образом, возможность измерения ОАФ также и в случае значительной несимметричности ультразвукового элемента относительно акустической оси, что расширяет область использования способа, обеспечивая тем самым положительный эффект. 3 ил, 1576839

Изобретение относится к контрольно-пзмерительной технике и может быть использовано для контроля качества ультразвуковых элементов микроскопов при их производстве, а также для исследования параметров акустических микроизображений.

Целью изобретения является расширение области использования за счет измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента в случае его осевой несимметричности.

На фиг..1 представлена схема измерения обобщенной апертурной функции . 15 }ультразвукового элемента; на фиг.2— функциональная схема устройства для реализации способа; на фиг.З вЂ” графи. ческие зависимости, поясняющие способ.

Способ измерения обобщенной апер". 2р турной функции (ОАФ) ультразвукового элемента сканирующего акустического микроскопа заключается в том, что формируют на рабочей частоте микроскопа ультразвуковое излучение в виде плос- 25 ких волн, распространяющееся в иммерсионной среде в направлении ультразвукового элемента, меняют направление волнового вектора плоской волны, при этом регистрируют выходной электричес-30 кий сигнал ультразвукового элемента, по полученной зависикост|| определяют

ОАФ. ца схеме измерения Oh

Плоская волна создает в фокальной плоскости (Х,Y-) распределение поля

U(Xc),Y ), представимое в виде

П(Хо, Y ) = V ехр i(k»Xo+}c„Yo) > (1) где kx =k oos 9», k =k соэ В, <| о (2) а величина Vo не зависит от координат ,у 50

При этом спектральная плотность распределения (1) определяется соотно- шением

V(f «, f ) =P(<) (X,У«)} =<««(2«(,, -<с ) « х 3 (2 о Г, -k ), (3 ) где символ Ff ) — двумерное преобразование Фурье; символ о() — дел|>та-функцию, Отклик Ь(Х„,У„) можно выразить

Фурье — образом обобщенной апертурной функции G (X,У) с помощью соотношения

t M

Ых„<> =ф(х,))} и G(x,Y>«

Г л. Хо Уп х ехр1-2»i(— Х + - Y) dXdY, И Qf ) (5) где f — фокусное расстояние ультразвукового элемента;

) — длина ультразвуковой волны в икмерсионной среде на рабочей частоте микроскопа;

Из соотношения (5) следует, что функция С (Х,Y) имеет смысл когерентной передаточной функции ультразвукового элемента микроскопа

Г(Ь(Х„У,) =К„ G (- ffx> УК „ ),(6) где К вЂ” постоянный множитель.

Тогда, с учетом соотношений (3), (4) и (6) спектральная плотность изображения V(X,УЗ): г- >ч(х), <, )} =г1) (х.,<, )} « ф (х„у, ) =к,ч с(аа„,ась ) .x

xa) (kq-2((f») Я (1< -2)) fy ) . (7)

Отсюда, для 1(Х,Y>) имеет место соотношение

V(X,Уз ) =К>G ()

+1 У,), где К вЂ” постоянный множитель.

В рассматриваемом способе используется несканирующий режим работы, поэтому можно положить Х =Y =О.Тогда, с учетом (2) из соотношения (8) сле-. дует

V(0,0) — К G(f (os(», f < osg ) . (8) Достигнув ультразвукового элемента, волна преобразуется им в электрический сигнал V который регистрируется.

Электрический сигнал V, используемый в сканирующем акустическом микроскопе для формирования иэображения образца, положение которого определяется координатами сканирования Х,Y

5 можно представить в виде свертки, (.ОО

<«(х„<)) = J j h(Q,т,)и (х,-х„<,-Y,> «

" (1Хо <>Уо ) (4) где Ь(Х,У ) — импульсный отклик ультразвукового элемента, равный выходному сигналу, вызываемому точечным источником с координатами (Х „Y,) .

1576839

Из соотношения (9) следует, что выходной сигнал ультразвукового элемента пропорционален ОАФ в точке, координата которой (f cos9» f «osQ )

3 зависит от направления распространения волны, В процессе измерения направления волнового вектора необходимо для осуществления фазовых измерений, контролировать значение фазы излучае- 1ð мой волны в фокусе ультразвукового элемента.

Таким образом, регистрируя амплитуду и фазу выходного сигнала ультразвукового элемента как функции направления волнового вектора плоской волны, определяют с точностью до постоянного множителя ОАФ.

Устройство для реализации способа содержит (фиг.2) излучатель 1 плоских 20 ультразвуковых волн (излучатель 1), состоящий из ультразвукового преобразователя 2 и звукопровода 3, генератор 4 радиоимпульсов,. выход которого соединен с входом преобразователя 2, 25 последовательно соединенные селектор

5 и приемник 6, механизм 7 поворота, на котором закреплен излучатель t, иммерсионную среду 8, предназначенную ,для обеспечения акустического контакта30 излучателя 1 с объектом исследования, Механизм 7 поворота обеспечивает возможность поворота излучателя 1 в двух плоскостях.

Перед началом измерений исследуемый объект — ультразвуковой элемент 9 микроскопа, состоящий из акустической линзы 10 и ультразвукового преобразователя 11, соединенных звукопроводом

12, устанавливают в устройстве таким 40 образом, что иммерсионная среда 8 обеспечивает акустический контакт излучателя 1 с поверхностью акустической линзы 10. Выход ультразвукового преобразователя 11 подключают к входу селектора 5. При этом для обеспечения возможности фазовых измерений ультразвуковой элемент 9 юстируется так, чтобы его фокус совпадал с пересечением осей, относительно которых осуществляется поворот излучателя 1 °

Устройство работает следующим образом, Последовательность pàäèîèìïóëüñîâ, вырабатываемая генератором 4, возбуждает ультразвуковой (пьезоэлектрический) преобразователь 2, который излучает плоские продольные волны, распространяющиеся в звукопроводе 3 и затем в иммерсионной среде 8. Далее эти волны преобразуются акустической линзой 10, проходят звукопровод 12 и принимаются ультразвуковым преобразователем 11. Полученные на его выходе импульсные радиосигналы выделяются селектором 5 на фоне электромагнитных помех и сигналов переотражения н поступают в приемник 6, где подвергаются обработке.

В качестве приемника 6 и генератора 4 могут быть использованы приемопередающие устройства микроскопа, работающего в обычном режиме, На фиг.3 представлен (кривая А) результат измерения модуля ОАФ. Ось симметрии кривой А существенно смещена относительно акустической оси ультразвукового элемента, что может вызываться, например, погрешностью взаимного расположения преобразователя и линзы. Поскольку в данном эксперименте радиус преобразователя выбран существенно. меньшим .радиуса линзы, то

ОАФ определяется, главным образом, распределением поля преобразователя ультразвукового элемента в задней фокальной плоскости акустической линзы, а не функцией зрачка последней.

На фиг.3 представлена также кривая

В, полученная расчетным путем для случая .поршневого круглого излучателя с радиусом, равным радиусу преобразователя, расположенного в акустически жестком экране.

Сравнение кривых А и В на фиг.3 приводит к выводу о вполне удовлетворительном соответствии экспериментальных и расчетных результатов °

Формула и з о б р е т е н и я

Способ измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента сканирующего акустического микроскопа, заключающийся в том,.что формируют на рабочей частоте микроскопа ультразвуковое излучение, распространяющееся в иммерсионной среде„ в направлении ультразвукового элемента, регистрируют выходной электрический сигнал ультразвукового элемента, который используют для определения обобщенной апертурной функции, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью расширения области использования за счет измерения обобщенной апертурной. функции ультразвукового элемента также и в случае его осевой несимметрич1576839

Составитель 0,Смирнов

Редактор Л,Гратилло Техред Л.Сердюкова Корректор С.Черни

Заказ 1844 Тираж 484 Подписное

ВЙИИПИ Государственного комитета по изаоретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5.

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул, Гагарина, 101 ности, ультразвуковое излучение формируют в виде плоской волны, меняют в процессе излучения направление волнового вектора плоской волны, опреде-, ляют обобщенную апертурную функцию по зависимости регистрируемого выходного сигнала ультразвукового элемента от направления волнового вектора.

Способ измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента сканирующего акустического микроскопа Способ измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента сканирующего акустического микроскопа Способ измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента сканирующего акустического микроскопа Способ измерения обобщенной апертурной функции ультразвукового элемента сканирующего акустического микроскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к сортировке мячей по высоте отскока и позволяет расширить область применения

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, техническим результатом при использовании изобретения является повышение быстродействия

Изобретение относится к области оптических измерений, а именно к интерферометрам перемещений

Изобретение относится к устройству для измерения размера периодически перемещающегося объекта, содержащему оптоэлектронный измерительный прибор, включающий в себя приемопередающие элементы, расположенные не менее чем в одной плоскости изменения, перпендикулярной продольной оси объекта, а также блок обработки, причем плоскость измерения измерительного портала ограничена не менее чем двумя измерительными балками, расположенными под заданным углом друг к другу

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий
Наверх