Способ измерения толщины слоев

 

Изобретение относится к неразрешающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Цель изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 2 1, 2 2 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают ток силой J. Регистрируют величину H напряженности поля преобразователем 3 и, зная его геометрические параметры, определяют толщину контролируемого слоя. Для последовательного измерения толщины каждого из слоев изделия образуют электрический контур поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников 2 1...2 N и определяют контролируемую величину описанным способом. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU» 1580150 д 1 (51)5 G 01 В 7/06

К А ВТОРСНОМ .К СВИДЕТЕЛЬСТВУ д

QO

CO

С

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4413100/25-28 (22) 15.02.88 (46) 23.07.90. Бюл. № 27 (71) Львовский лесотехнический институт (72) Б. А. Аграновский, В. Г. Брандорф, Ю. Н. Кизилов и Ж. А. Ямпольский (53) 531.717.11 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1495641, 23.11.87.

Авторское свидетельство СССР № 619783, кл. G 01 В 7/06, 1977. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

СЛОЕВ (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Целью изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 21, 2> с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают ток силой . Регистрируют величину Н напряженности поля преобразователем 3 и, зная его геометрические параметры, определяют толщину контролируемого слоя.

Для последовательного измерения толщины каждого из слоев изделия образуют электрический контур поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников 2 ...2 и определяют контролируемую величину описанным способом.

1 ил.

1580150

Формула изобретения

Из (1) находим величину 12

Составитель А. Черных

Редактор С. Патрушева Техред А. Кравчук Корректор М. Пожо

Заказ 2002 Тираж 505 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям прн ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж вЂ” 35,. Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат «Патент», r Ужгород, ул. Гагарина, 101

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий.

Цель изобретения — упрощение способа, повышение точности измерения и производительности контроля путем сокращения числа одновременно работающих контуров и использования минимального количества вспомогательного оборудования.

На чертеже изображено устройство, иллюстрирующее предлагаемый способ.

Устройство содержит и-слойное изделие с толщинами слоев Ti,..., Т„,, Т„.

Между слоями и на поверхности изделий расположены линейные проводники 2ь..2, На поверхности установлен индуктивный преобразователь 3 поля и источник 4 тока.

Конструктивный размер преобразователя 3 обозначен t, расстояния от него до линейных проводников 2i — 2п обозначены соответственно t2,..., t iq, амплитуда силы тока в контуре -I.

Способ реализуется следующим образом.

Образуют электрический контур путем объединения проводников 2 и 22, в который включают источник 4 тока с силой тока 1.

Затем регистрируют величину Н напряженности поля в месте расположения преобразователя 3 поля.

Эта величина определяется уравнением,2= (2)

3— - 23/ H Ь

Из уравнения (2), зная конструктивный размер преобразователя 3, который определен заранее, находим значение t2. Из очевидного равенства определяем толщину слоя

T1=t2 11 (3) Затем образуют контур из проводников 22 и 2з, аналогично определяют толщинУ Т2.

Для последовательного измерения толщины каждого из слоев многослойного изделия нумеруют проводники последовательно от наиболее близкого к преобразователю 3 и описанным способом определяют толщины оставшихся слоев.

Предлагаемый способ измерения толщины слоев позволяет повысить точность измерения за счет отсутствия требования обеспечения синфазности токов в образуемых контурах, расширить область применения в случае, когда неизвестна заранее суммарная толщина объекта, повысить производительность контроля за счет отсутствия операции изменения тока и регистрации его измененного значения в одном из контуров пары, операции априорного определения суммарной толщины объекта другим способом.

Способ измерения толщины слоев многослойных изделий, заключающийся в том, что при изготовлении изделия между его слоями и на обеих поверхностях размещают линейные проводники так, что они находятся в одной плоскости, формируют из двух линейных проводников электрический

Зо контур, пропускают по нему переменный ток и с помощью индуктивного преобразователя, размещенного на поверхности контролируемого изделия, регистрируют значения амплитуд тока и напряженности магнитного поля, которые используют для опЗ5 ределения толщины слоев изделия, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа, повышения точности измерения и производительности контроля, электрический контур образуют поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников.