Способ юстировки составной сферической антенны и устройство для его осуществления

 

Изобретение относится к антенной технике и предназначено для юстировки отражающей поверхности сферического зеркала антенны (СЗА). Цель изобретения - повышение точности и удобства юстировки, повышение чувствительности и расширение диапазона измерений. Для юстировки СЗА используется устройство, состоящее из основания 1 с четырьмя опорами, одна из опор 3 подвижная и связана с измерительным механизмом, выполненным в виде оптической рычажной системы. Оптическая рычажная система состоит из выпуклого сферичесого зеркала 5, контактирующего с подвижной опорой 3, неподвижного зеркала 6, экрана 7 с перекрестием 8 и источника света 9. Для юстировки устройство устанавливают на первом элементе 10 СЗА, предварительно выставленного в поверхность сферы так, чтобы подвижная опора 3 опиралась в поверхность последующего элемента 11 СЗА. Отклонение элемента 11 СЗА определяют по положению светового луча от источника света 9 на экране 7 относительно перекрестия 8. Измерения производят в четырех точках, лежащих в вершинах прямоугольника, одна из сторон которого параллельна краю элемента 10 СЗА в плане. После измерения отклонений юстируют положение элемента 11 СЗА в радиальном и угловом направлениях до совмещения светового луча с перекрестием 8 на экране 7. Процедура юстировки последовательно повторяется для всех элементов СЗА. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

nsSUnn (51)5 С 01 В 7/32

1 98 А1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H А BTOPCHOMY ÑÎÈÄÅÒÅËÜCTBÓ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР! (21) 4626435/24-28 (22) 27.12.88 (46) 30.07.90. Бюл. !! 28 (71) Оренбургский политехнический институт (72) Н.И.Тюков, Ф,Ш,Гайсаров и С.С,Иангутов (53) 621.317.39:531.71(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР

1341493, кл. С 01 В 7/32, 1987 °

Изобретение относится к измери-. тельной технике и может быть использовано для измерения площади поверх.ности электропроводящих объектов, Цель изобретения — повышение точности измерения.

На чертеже показана функциональная схема устройства для реализации предлагаемого способа, Устройство для реализации предлагаемого способа содержит конденсатор

1, который через контакты 2 и 3 соединен с источником 4 питания, а через контакты 5 и 6 — с изделием 7.

Остаточное напряжение на обкладках конденсатора 1 измеряется при помо-. щи мостовой схемы, выполненной на .полевых транзисторах 8 ° Переключение контактов осуществляется при помощи реле переключения, В качестве электропроводящего изделия 7 используют металлический шарик.

Способ осуществляется следующим образом, 2 (54) СПОСОБ ИЗИЕРЕЕШЯ ППО!!!АДИ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕКТРОПРОВОД!!ОГО ИЗДЕЛИЯ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения площади поверхности электропроводных объектов, Целью изобретения является повышение точности измерения, Заряженный до фиксированного значения напряжения конденсатор разряжают на изделие и по остаточному напряжению на конденсаторе судят о площади изделия, 1 ил.

В начальный момент времени конденсатор 1 заряжают до напряжения источника 4 через контакты 2 и 3, в это .время шарик 7 соединяют с землей, Затем через контакты 2 и 3, 5 и 6 соединяют.конденсатор 1 с шариком 7, При этом часть заряда с конденсатора

1 уйдет на шарик ? и напряжение на конденсаторе l уменьшится пропорционально ушедшему заряду, Затем через контакты 2 и 3 подключают конденсатор 1 к измерительному мосту, который предварительно был настроен на нуль, При подключении конденсатора к затвору полевого транзистора последний, открывается,.и ток, протекающий через канал "Сток-исток", будет пропорционален напряжению, приложенному к затвору. Для выполнения этого условия необходимо, Чтобы напряжение на конденсаторе было меньше напряжения отсечки полевого . транзистора, 4

1581998 уп.едшега к объекособность объекта количество заряда ту, определяют сп осаждать на сво -й поверхности ионы металла, Таким образом, ний в воздушной с высить точность, ь воздухе мала па проведение измеререде позволяет пагак как утечка тока сравнению с утечками в электролите.

Фар мул а и з а б р е т е ни я

Составитель И.К)рьева

Техред М,Ходанич Корректор Т,Палий

Редактор Н, Киштулинец

Тираж 504

Подписное

Зак аз 2080

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

Остаточное напряжение дает численное значение напряжения, которое

IêîíäåHñaòîð потерял при подключении к металлическому шарику 7. Это напряжение пропорционально заряду, перетекшему из конденсатора 1 к шарику 7, в то же время заряд распределяет,ся по поверхности шарика, следовательно, чем больше площадь поверхности шарика 7, тем больший заряд . он накапливает, тем меньше остаточ-! ное,напряжение на конденсаторе 1. ..Если; с помощью эталонных шариков, у которых площадь поверхности извест на, проградуировать вольтметр в еди1 ницах площади, то он будет показывать непосредственно площадь поверх ности измеряемых объектов.

Предлагаемым способом можно изме(,рить также площадь поверхности тел, ( имеющих сложную форму, Измеренная при этом площадь является эффективной площадью, которую необходимо знать при гальванообработке, Измерив

Способ измерения площади поверх15 насти злектропроводнога изделия, заключающийся в .том, чта изделию сообщают электрический заряд, о тл и ч а ю шийся тем, что, с . целью повышения точности измерения, 20 заряд иэделию сообщают путем разряда на него предварительно заряженного до фиксированного значения напряжения конденсатора и по остаточному значению нагряжения на конденсаторе

25 судят а площади поверхности изделия, 1581999

Фиг. 1

Составитель А,Парщиков

Техред M.Õoäàíè÷ Корректор М.Пожо

Редактор Н,Киштулинец

Тираж 496

Подписное

Заказ 2080

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101