Патент ссср 165915

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОЬГЕтЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Рес!1ублик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Кл. 42h, 36

Заявлено 19.111.1963 (№ 825803/26-10) с присоединением заявки №

МПК С 024

Государственный комитет по делам изобретений и откРытий СССР

Приоритет

Опубликовано 26.Х.1964. Бюллетень № 20

-Дата опубликования описания 8.1.1965

УДК

Авторы изобретения Э. Х. Косаков, Г. К. Маковец, Г. А, Дорниченко и А. И. Беришвили

Заявитель

РЕФРАКТОМ ЕТР

Предмет изобретения

Подписная группа № 1б8

Рефр актометры, содержащие один источник света, плоскопараллельную пластинку, дифференциальную кювету и дифференциальное фотосопротивление, известны. Однако измерения их недостаточпо точны.

Предлагаемый рефрактометр позволит повысить точность измерений благодаря тому, что в нем установлены штриховые диафрагмы и штриховой дифференциальный клин, а поле зрения делится»а две равные части плоскопараллельной пластинкой, разделенной по линии, перпендикулярной штрихам диафрагм, причем половины пластинки повернуты одна относительно другой на некоторый угол. Эти детали .позволяют преобразовать изменение направления светового луча в изменение интенсивности освещенности фотоприемника и измерять это изменение с помощью штрихового клина.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема рефрактометра; на фиг. 2 — поле зрения после раздваивающей пластинки при равенстEB показателей преломления исследуемой и эталонной проб; на фиг. 3 — дифференциальный штриховой клин.

Луч света от источника 1 через линзы 2 и светофильтр 8 попадает на штриховую диафрагму 4, содержащую прозрачные и непрозрачные параллельные полосы. Далее поле делится пополам плоскопараллельной пластинкой 5, разделенной по линии, перпендикулярной штрихам диафрагмы, причем каждая из половин пластинки повернута на некоторый угол. Затем свет попадает на прозрач5 пое окно кюветы б, на объектив 7, на вторую диафрагму 8 и далее через штриховой клин 9, связанный со шкалой, па дифференциальный фотоприемник 10.

10 При заполнении кювет эталонной и исследуемой жидкостями происходит поперечное смещение луча, что вызывает увеличение светового потока на одну часть дифференциального фотосопротивления и уменьшение коли15 чества света, попадающего на другую его часть. Последующее уравнивание световых потоков с помошью дифференциального светового клина позволяет судить о величине смещения луча.

1. Рефрактометр, содержащий один источник света, плоскопараллельную пластинку, 25 дифференциальную кювету и дифференциальный фотоприемник, отличающийся тем, что в нем, с целью повышения точности измерений, до и после кюветы установлены штриховые диафрагмы, а перед фотоприемником

30 штриховой клин.

165915

Фыг. 7

Ф г.3

Составитель Л. Я, Гойхман

Редактор Л. М. Жаворонкова Техред т. П. Курилко Корректор Л. В. Тюняева

Заказ 3497/4 Тираж 625 Формат бум. 60)(90 /8 Объем 0,21,изд. л. Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий CCCP

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4.

Типография, пр. Сапунова, 2

2. Рефрактометр по п. 1, отличающийся тем, что в нем плоскопараллельная пластинка разделена на две равные части по линии, перпендикулярной штрихам диафрагм.

3. Рефрактометр по пп. 1 и 2, отлачаюикайся тем, что штриховой клин в нем выполнен дифференциальным, с двумя рабочими зонами, зависимости увеличения плотности от угла поворота которых противоположно

5 направлены.