Лазерный способ измерения характеристик рефракционного канала

Авторы патента:


 

Изобретение относится к технической физике, в частности к измег ни характеристик рсфракшшн п. х каналов . Целыо изобретения является измерение диаметра рефракционного канала и изменения диэлектрической про.ницаемости среды на оптическо оси рефрак ционного канала но отношению к диэлектрической про;5ицасмости среды вне канала . Способ предполагает носьшку в рефракц онн - й канал одновременно nv4KOB З011диру1сщего лазерного излучения Пучки посылают под углаг И L0.0 iicr. к оптической оси рофракцнонного канала, а об искомых параметрах судят по соотношениям, пр1нзедепным Б формуле изобретения, 1 ил. /

СВОЗ ООНЕТОИИХ

СОЦМЛИСТИЧЕСН а

РЕСПУБЛИН (51)5 G 01 Il 21/47

+ 88R6IAI

iHFV ТГ1ЩЧЕИЫЯ

ОписАние изоьРетени?1е

И А ВТОРО-(ОМУ ОВИДН ЕЛЬ(. 7ЕУ

ГОСУДЛРСТНЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТИРЫТИЯМ

ПРИ П.1НТ CQCP (46) 23. 07. 92. Бюл. 12 27 (21) 4458810/25 (22) 12.07.88 (71) Институт оптики атмосферы

СО ЛН СССР (72) И.П.,11укин (53) 551.508(088,8) (56) Васильев Л.Л. Теневые методы,—

N.: Наука, 1968, с. 42;

Лвторское свидетельство СССР

112 1294091, кл, С 01 N 21/47, !985, (54) ЛЛ31,Р1111Й СПОСОБ Из;1КРН111Я - -ЛРЛ1СТЕРИСТИ1 РЕФРЛ1(ЦИОИЬБ 1<ЛНЛЛОБ (57) Изобретение относится к технической физике в частности к измереИзобретение относится к техн?1?еской физике, в частности к измерешпо параметров рефра?еционных каналов, и

HoiK07 GblTB liCiIQnu30I3GHO, циОкиОГО Определения характе?3нстllк рефракцион1п ?х каналов: диаметра д „ рефракционного канала или пучка мо;ного Оптического излучения (11ОИ)„. .,Пормирующего при своем распространении

I3 поглощающей среде рефракц??окк ейканал и измекения Я диэлектричсс2

- кой проницаемости среды на onт??чr-.ñ-кой оси рефракциокного канала пс откошени?о к диэлектрической проницаемости среды вне канала, обусловлсш?ого нагреванием среды Н9-çà поглощения энергии мощного оптического I! II@-ie ния и свяэа?шого с коэффициентом поглощепия среды, ш?тексивностью 110И и коэффициентом изменения дизлектри„.ЗО„„ I602172 А1 кию хала??c те 131?c 71?h р;-; jill)II JIB? t?!! тх ха?111лов. 11ел ?0 изобретения пв311?с? «я кз?лерев??с диаметра рефракц??Ош?ого 1 акала и из;?е??е?шя;11?з3??ектрическо;1 крош?цаемости среды на оптической оси рефракцнонного канала по отно?пени?о к диэлектрической прон??цаемости среды !3!ie канала. Способ предполагает посылку

i3 рефра? ц??окш?й какал одновремеш?о д?3,-.1 п .. ?ков зо??д??ру?ощего лазерного нз:?-;-! О?l?ln. Нучкl; посв?л:.1?от под;Г 1амн

?о.==0;l -,".- =-90 к оптической о«1: рсфрак?

1ii .онпого какао?а, а об искомых параме.! — рах судят по состцоще киям, пршзеденш? 1 в формуле изобретения. 1 ил. ческой проницаемости среды при изме" кеши? температуры.

Цель?о изобрете?к?я является иэмеронне диаметра рефракцпонкого кака- ж ла и изменение значения диэлсктричес- Э кой проницаемости среды ка оптнческОЙ Оoи p«?jlpакц?1ОH110ГО ка?lала Отно»

«II I ст?ьно ее зкачеш?я вне какала.

11а чертеже приведена схема устройства для осуществлеш?я способа, Устройство содержит исто ?ники излучения. 1 и 2 с коллиматорамн 3 и 4, приемными фокусиву?ощими линзами 5 и 6, а также экранами 7 и 8 соответ- . 2 с эвенкo, Ь

1 учок зондирующего лазерного иэ" лучения посылают от источника излучения 1 под углом Ср, =О к оптической оси 9 рефракционного канала 10, т.е. по его Оптической оси. Он проI602I72 ходит »ереэ коллиматор 3 и принимается фокусирующей линзой 5 с фокусным расстоянием P, При помощи экрана 7 определяют положение TIJIocKoc.òè резкого иэображения и измеряют расстояние, от фокальпой плоскости линзы до плоскости изображения. Второй пучок от источника 2 зондиру10щего иэлуче ия посылают в рефракционный 10

i О канал 10 под углом Р,, близким к .0 к оптической оси 9. Он проходит через коллиматор 4 и принимается фоКусирующей линзой 6 с фокусным расстоянием Г . При помощи подвижной го экрана О определяют положение плоскости резкого изображения и измеря10т расстояние от фокальной плоскости до

1 плоскости резкого изображения

По величинам 6, и судят об искомых 20

Параметрах, которыми являются диаметр рефракционного канала и — изменение диэлектрической проl ницаемости среды на оптическои оси рефракциоппого канала по отношенк0 Я дизл <:трнчсской1 проницаемости средь1 вне капала. Для этого используют следующие зависимости:

Я

4 6g г

Д ЗО Ц, г — 1 F+ 1 .2

4 L2 Fg) с T рф .- fl

1 где - расстояние От источника 35

1 излучения, посылаемого по оптической оси канала, до соответству10щей приемной

ЛИ11ЗЫ, P,.К, — фокусные расстояния прием- 40

Й g иых линз.

Схемы из,цвух пучков с(-0 и

1

: =90 позволяют искл10чить влияние аберраций (так как первый пучок распространяется в параксиальной облас-,.4 ти рефракционного канала, а второй проходит черен поперечное сечение рефракционного канала) и, используя различные механизмы влияния рефракционного канала на зондирующее излучение, получить одновременную информацию о двух параметрах рефракционного канала. формула изобретения канала, дополнительно посыле.ют зондиру.ащее лазерное излучение перпендикулярпо оптической оси рефракционноI O КанагУа»РИ 1"1МсЮГ ЕГO С ПРЕ»эаРИ-". тельной фокусировкой другой приемной фокусирующей линзой, измеряют расстояние, от плоскости резкого изображения сфокусированного излучсння до фокальной плоскости этой линзы и определя10т искомые параметры из соотноше-.

HHH

Я tit 1 р2

hg .2

FK т г й

Ьт Д л

-.. расстояние От точки посылки излучения по оптической оси рефракционного ка" нала до соответcтву1ощей приемной фокусирующей линэыр !

- фокусные расстоячия приемнья линз, 1«

Лазерный способ измерения характеристик рефракционного канала путем посылки зондирующего лазерного излучения по оптической оси ка6-ала, прие- ма прошедшего заданный путь излучения с предварительной фокусировкой приемной фокусируощей линзой, опрецеления положения плоскости резкого изображения сфокусированного. Излучения и измерения расстояния Q, от нее. до факальной плоскости линзы, о т-.. л и ч а и шийся тем, ч".7о„с целью измерений диаметра cl, рефракционного канала и изменения Я значе2 ния диэлектрической проницаемости среды.на оптической оси рефракционного канала отт1осительно ее значения вне

1602172

Составитель С.Непомнящая

Техред М.Моргентал Корректор Т.Малец

Редактор О.Стенииа

° Ф Ohd ° Ю.Заказ 2824 Тираж 464 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при .ГКНТ С СР.133035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Лазерный способ измерения характеристик рефракционного канала Лазерный способ измерения характеристик рефракционного канала Лазерный способ измерения характеристик рефракционного канала 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптике рассеивающих сред и может быть использовано для экспрессного определения объемной концентрации капельной фазы в эмульсии, в частности при определении влагосодержания нефти и нефтепродуктов, а также для определения концентрации нефтепродуктов в сточных водах промышленных предприятий

Изобретение относится к технической физике.и, в частности, к измерению характеристик рефгакщгошгыч каналов

Изобретение относится к технической физике, точнее к исследованию оптических свойств твердых слабопоглощающих сильнорассеивающих материалов

Изобретение относится к оптико-электронным средствам измерения концентрации аэрозолей

Изобретение относится к оптическому спектральному анализу веществ, нарабатываемых в малых количествах, и может быть использовано в биохимических и медико-биологических исследованиях, в фармацевтической и химической промышленности

Изобретение относится к инженерной экологии и может быть использовано для оценки состояния водной среды акватории в местах интенсивного антропогенного воздействия, преимущественно при производстве работ гидромеханизированным способом

Изобретение относится к газовому анализу и может быть использовано для измерения дымности выбросов автомобилей, самолетов, труб промышленных предприятий и т.д

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в метеорологии при исследовании атмосферных аэрозолей

Изобретение относится к измерению оптических характеристик светорассеяния и может быть использовано в коллоидной химии, геофизике для определения функции распределения по размерам и дисперсности субмикронных частиц, взвешенных в оптически прозрачных средах

Изобретение относится к области физики, к оптике, к приборостроению и может найти применение в биологии и медицине при исследовании взвесей эритроцитов, клеток, органелл

Изобретение относится к области оптических приборов, в частности к фотометрическим устройствам для измерений концентраций веществ с помощью химически чувствительных элементов

Изобретение относится к медицине и используется при исследовании взвесей эритроцитов, лейкоцитов и тромбоцитов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к способам определения малоугловой индикатрисы рассеяния, и может быть использовано при гранулометрическом анализе аэрозолей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам измерения оптических характеристик мутных сред в условиях фонового излучения, и может использоваться в устройствах, предназначенных для излучения и контроля окружающих воздушной, водной и других мутных сред

Изобретение относится к области технической физики, в частности, к способам измерения интенсивности рассеяния оптического излучения веществом, позволяющим получать локальные, а также усредненные по поверхности исследуемого объекта характеристики рассеяния

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при дистанционном лазерном зондировании элементного состава атмосферных газов

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при решении задач непрерывного контроля содержания нефти или масла в воде, экологического мониторинга, измерения концентрации эмульсий
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2013-03-28T17:49:49
Наверх