Контрольный образец для магнитной дефектоскопии

 

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии сварных швов и может быть использовано при контроле качества сварных швов. Целью изобретения является повышение технологических свойств контрольного образца путем расширения диапазона оценки качества двухсторонних сварных швов с переменным сечением. При контроле качества двухсторонних сварных швов штатных изделий сравнивается сигнал, обусловленный дефектом, с сигналом , обусловленным дефектом контрольного образца в том сечении, где радиус кривизны верхнего шва 3 и высоты усиления для изделия и образца одинаковы, а также одинаковы радиусы второго шва и ферромагнитного сегмента 5. При изменении величины радиуса кривизны второго шва сегмент 5 перемещают вдоль оси шва 3 на величину этого изменения. 1 з.п. ф-лы, 2 ил. (Л

СОЮЗ GOBETCHHX

РЕСПУБЛИК

091 SU 611 1 (51)5 С 01 N 27/85

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

IlO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

flPH ГКНТ СССР (61) 1388777 (21) 4656109/28 (22) 27.02.89 (46) . 15.01.91. Бюл. !1- 2 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.А.Давыдков, В.А.Романов и А.М.Шарова (53) 620;179..14(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 1388777, кл. G О! N 27/85, 1988. (54) КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ МАГНИТНОЙ

ДЕФЕКТОСКОПИИ (57) Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии сварных швов и может быть использовано при контроле качества сварных швов, Целью

2 изобретения является повышение технологических свойств контрольного образца путем расширения диапазона оценки качества двухсторонних сварных . швов с переменным сечением. При контроле качества двухсторонних сварных швов штатных иэделий сравнивается сигнал, обусловленный дефектом, с сигналом, обусловленным дефектом контрольного образца в том сечении, где радиус кривизны верхнего шва 3 и s4соты усиления для изделия и образца одинаковы, а также одинаковы радиусы второго шва и ферромагнитного сегмента 5. При изменении величины радиуса кривизны второго шва сегмент 5 Р перемещают вдоль оси шва 3 на величину этого изменения. 1 s.ï. ф-лы, 2 ил.!

620927

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и является усовершенствованием известного изобретения по авт.св. У 1388777.

Цель изобретения - повышение технологических свойств образца за счет расширения диапазона оценки качества двухсторонних швов с переменным сечением. !О

На фиг. 1 показан образец, общий вид; на фиг. 2 — то же, вид снизу. . Контрольный образец содержит планки 1 и 2, соединенные сварным швом 3 переменного сечения, и дефект 4. С обратной стороны шва под дефектом установлен ферромагнитный сегмент 5.

Сварной шов 3 и сегмент 5 выполнены переменного сечения с монотонно из,меняющейся величиной радиуса кривиэ- 20 ны поверхности.

Контрольный образец работает следующим образом, При контроле качества двухсторонних сварных швов сравнивают сигнал, 25 обусловленный дефектом, содержащимся в шве, с сигналом, обусловленным дефектом контрольного образца в том сечении, где разность радиуса R кривизны верхнего шва и высоты усиения для изделия и образца одинакоы, а также одинаковы R второго шва и ферромагнитного сегмента 5. При изменении величины радиуса кривизны второго шва 3 соответственно перемещают сегмент 5 вдоль оси шва на величину этого изменения.

Пример. Контролю магнитографическим методом подвергают два сварных изделия. Одно содержит двухсторонний сварной шов,. другое — одно40 сторонний с обратным валиком. Размеры верхних швов в обоих случаях оди наковы: R1 = R = 20 мм; .С! = С =

1,5 мм, нижний R > = 15 мм, раз мер обратного валика Ry = 6 мм. Обнаруживают сигнал, равный 25 .мВ, Затем контролируют аналогичным.образом контрольный образец, установив сегмент с 4 R и 25 мм. Контрольный образец содержит дефект величиной

15 от толщины металла. Измеряют амплитуду сигнала, обусловленную дефектом в том сечении контрольного

Образца, где К вЂ” С = R i — С (R2 — С< 18,5 мм для верхнего шва и R сегмента = 15 мм. Амплитуда сигнала равна 17 мВ. Затем устанавливают сегмент таким образом, чтобы

К сегмента = 6 мм совпадало с R-— С = 18,5 мм. Амплитуда сигнала составляет 31 мВ. Следовательно, дефект в первом изделии больше, а во втором меньше, чем дефект в контрольном образце.

Применение контрольного образца обеспечивает повышение технологичности при магнитном контроле двухсторонних сварных швов.

Формула изобретения

1, Контрольный образец для магнитной дефектоскопии по авт.св.

У 1388777, отличающийся тем, что, с целью повышения технологических свойств образца при оценке двухсторонних сварных швов переменного сечения, он снабжен ферромагнитным сегментом переменного сечения с монотонно изменяющимся радиусом кривизны его поверхности, установленным с противоположной стороны шва вдоль дефекта.

2. Контрольный образец по и. отличающийся тем, что сегмент и одна иэ планок образца выполнены со шкалами, причем деление шкалы сегмента выполнено в радиусах

его кривизны.

1620927

Составитель А. Бодров

Техред И.днд щ Корректор Т.Малей

Редактор A,Îràð

Заказ 4242 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, М-35, Раупккая наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Контрольный образец для магнитной дефектоскопии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, в частности при выявлении сквозных дефектов в процессе проверки герметичности резервуаров

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий из магнитотвердых материалов

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества сварных швов

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при расшифровке магнитограмм в процессе контроля качества изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, касается магнитографического метода дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных материалов

Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, например гибов труб, шеек коленчатых валов, фасонных изделий, несущих конструкций и т.д

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин

Изобретение относится к области неразрушающего магнитографического контроля труб и изделий трубчатой формы, в частности литых чугунных заготовок гильз цилиндров автомобилей

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных соединений
Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных швов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому контролю изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей (с коэрцитивной силой меньше 10 А/см)
Наверх