Устройство для контроля плоскостности поверхности деталей

 

Изобретение относится к нзмерителыюй технике и предназначено для оптического контроля плоскостности. Целью изобретения является повышение точности измерения и упрощение конструкции устройства за счет совмещения базирующей и измеряемой поверхностей , а также за счет пыполнения волоконнооптического узла, использую1цего обычные параллельно уложенные оптические волокна, полученные по типовой технологии изготовления . Устройство для контроля плоскостности поверхности деталей содержит волоконнооптический узел, выполненный в виде волоконнооптнческой планшайбы 1 и полокоппооптического блока 2, фотоприемники 3, расположенные на одном из торцпв нолоко ннооптического блока 2, блок 4 обработки электрического сигнала, источник 5 света, жестко соединенный с волоконпооптнческпм блоком 2, оптическую фокусирующую систему С. Перемещая волоконнооптичс-ский блок 2 с жестко соединенным с ним источником 5 света по волоконнооптической планшайбе 1, получают информацию о плоскостности поверхности детали 7. 1 з . п . ф-лы, 1 ил. g (/

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1627831

А1 (1)5 С Ol В 1 1/30 (, ° . (<юф. ( Д

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К А 8TOPCKOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4629014/28 (22) 30.12.88 (46) 15.0?.91. Вюл. У" 6 (71) 11елитопольский институт меха«пзации сельского xoçÿécòDD (72) В.Л.Ваганов, В.А.П«дур, A.È.ÏàII÷åIIêo и В.A Кожухлрь (53) 531. 715.? 7 (088 8) (56) Авторское CDIIJIC тел«с тно (, ГГР

N 386238, кл. Г О1 В 11/30, 1973. (54) УГТРОЙГТВ((,(ЛВ КОНТР((1Я ПЛОСКОCT80(;TH ПОВ1:РХНОГТ11 11,ТИIFÈ (57) Иэобретессие oT«ocllI к измс рительной технике и пред((лзнлче«о для оптического контроля плоскос гн«сти.

1!елью изобретения является поьчпнение точности измерения и упрощение конструкции устройстнл зл счет совмещения бл «<рующей и измеряемой поверхностей, л также за счет выполнения волоконнооптического уэла, исИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля плоскостности поверхности деталей.

11ель изобретения — IIODhllfief«fe точности измерения и упрощение ко«cT рукции зл счет совмещения базирующей и измеряемой поверхностей, а тлкже за счет выполнения волоконно-оптического узла, использующего обычные параллельно уложенные оптические волокна, полученные по типовой технологии изготовления.

На чертеже изображена приципиальная схема предлагаемого устройства пользующего обычные lisp(IJIJICJII.lio уложенные оптические волокнл, полученные по типовой технологии изготовления. Устройство для контроля плоскостности поверхности детллей со держит волоконнооптический узел, Dbi полне««ьпс н ниде н<локо«нооптической планщлйбы 1 и DoJIoKofflfoollTII(IQ ского блокл 2, AOIO»pliv>IIIIII

5 светл по нолоко«нооптической пллншайбе 1, получают и«Аормлцию о плоскостности поверхности детали 7.

1 з ° п.A-Jiff, 1 ил. для контроля плоскостности поверхности деталей. М

Устройство содержит волоконно-оптический узел, выполнен«ней н ниде волоконно-оптической г,ллншайбы 1 и волоконно-оптического блока 2, (<отоприемника 3, расположенные на торце волоконно-оптического блока 2, блок 4 обработки электрического сигнала, источник 5 света, жестко соеди- 3 ненный с волс,конно-оптическим блоком 2, и оптическую <нокусирующую систему 6. Оптические волокна в планшайбе 1 и блоке 2 уложены параллельно между собой.

16? 7831 ского блока ? свидетельствует о прилегании измеряемого участка детали

7 и волоконно-оптической планшайбы 1.

11еремег(ая волоконно-оптический блок ? с жестко соеди«енным с ним источником 5 света по волоконно-оптической пла«шайбе 1, получают информацию о неплоскостности поверхности детали 7.

Устройство работает следующим образом.

Нл контролируемую детлль 7 наклл-10

Формула изобретения

25

30 скпх в»:(окоп и интенсивность света, ffpn..o;(z!)(e! n через них, характерпЗУ(l) T От К (OIIЕ«f1 (! n T «JIOC)iOC Tf(OC Tl( пзмеряемс)й поверхности детали 7. OT сутствпе злспс )епных оптических

35 волокон «а торце волоконно-оптичеСоставитель Л.Лобэова

Техред t1.Äèäûê Корректор Н.Ревская

Редактор 1г?.Середа

Заказ 330

Тираж 383

Подписное

ВНИИ11И Государс гвен«ого ко(а(тетя по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Мс)сквя, m-35, Раушская наб., д. 4/5

Производстве«но-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101 дыв;)ют этлло««ую волоконно-оптпческуf() плл«шайбу 1, ня которую подвиж«о усглил «, «(«лют волоконно-oil тпческпй блок ? «л торце которого рлспо:(ожени i !n) of)p)lel)))f!)(f? 3. Т!учи от псточ )псл 5 светл «япрлвляют чере 3 oil тпчеcl(J))) f )olf)?cèðóèùóí) систему б «я лпипю кс птлктл подвиж«ого полоконноof??)(i)Pc)co!.n ()J«)1 ? с волоконно-оп пческой пл:1«и)лЙбОЙ 1 тлк, чтобы

ВСЯ Л)1«ИЯ КОНтЛКтЛ 6ЫЛЛ ОСВЕГ(ЕПЛ ПоД

)i Г Л О 1 (:( (г t i! с ) ) с . T л (е p P 3 о п т и ч с . с к и с- В о

1of )lo 1),)лс)ко««о-ог)т)п)еской Il:)л«шайбы (и ):eстс коптлктл плл)!шяй(.1l I ): И с;(?) ПОПЛ;)Лшт Л ПЗМЕР))сму) « «(с р::)f<)c TI jfeTOJ)II 7. ()тряжя))i ), о II. 1(р)lt (ой пс)верх«ос. и(детали

7, (учп светл срез оптические воПс КПЛ ГС:)OJ(lf )l(1(ОЛОКО««О-Онти (ЕСКОй пл, и (:.1;)сз)) 1 11 I)n)fo)n)i«o-оптического блока 2, Jc ra»n)lле«ного «я пля«шлйбе 1, и опл,(лют пл Ao To) fpllei )))f(K? 3.

Фот o!?p(fe.(ники 3 передают полученную информлl(?I))) нл б:IoK 4 обработ)..ff электрического сигнала.

Количсст«o "злсвече«ных" о?!тиче1. Устройство для контроля плоскостности поверхности деталей, содержаг(ее источник света, волоконнооптический узел, фотоприемники, расг)оложе««ые нл выходе световых лучей из узла и блок обработки сигналов, о т и и ч а ю г(е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения и упрощения конструкции, волоконноопти(еский узел выполнен в виде волоко)гно-оптической пллпшайбы, пред«лзнлче«ной для прилегяния к контролируемой поверхности, и волоконно-оптического блока, установленного с возможностью перемещения по поверхности планшайбы, а источник света установлен под острым углом к линии контакта пллншайбы с волоконно-оптическим блоком и жестко соедине« с последним.

2. Устройство по п. 1, о т л и ч а ю 1)(е е с я тем, что оптические волокна в планшайбе и блоке уложены параллельно между собой.

Устройство для контроля плоскостности поверхности деталей Устройство для контроля плоскостности поверхности деталей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной текнике и предназначено для контроля качества обработки поверхности изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения параметров шероховатости оптической поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля дефектов на поверхностях движущейся ленты при перемотке рулонов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения профиля шероховатости поверхности в машиностроении, оптическом приборостроении и т.д

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения субмикронной шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения шероховатости поверхности и эрозионного износа выходных кромок турбинных лопаток

Изобретение относится к измерительйой технике и может быть испольдля бесконтактного измерения 13.1 (71) Заявитель(и): ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ИМ.Л.В.КИРЕНСКОГО (72) Автор(ы): КАБАНОВ ИВАН СТЕПАНОВИЧ,ПОДОПРИГОРА ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ,СУРГУТАНОВ ИГОРЬ ВЛАДИМИРОВИЧ,КОРБАН НИКОЛАЙ ПАВЛОВИЧ (54) Устройство для измерения шероховатости поверхности изделий (57) Реферат: Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения двух параметров шероховатости полированных поверхностей непрозрачных и прозрачных изделий

Изобретение относится к измерительной технике в области геофизических исследований и может найти применение для решения задач профилометрии, т.е.там, где необходима информация о параметрах шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, приборостроении и оптической промышленности для бесконтактного контроля качества прецизионной обработки поверхностей изделий

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх