Способ определения формы сферической поверхности изделий

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля точности изготовления изделий сферической формы, например судовых и авиационных изделий, элементов паровых котлов и реакторов, сферических зеркал и экранов кинескопов. Целью изобретения является повышение точности и производительности определения геометрических параметров и расширение области применения способа за счет выполнения разметки контролируемой поверхности и измерения площадей соответствующих участков разметки. При измерении с помощью трафарета размечают контролируемую поверхность 1 и определяют площади соответствующих участков разметки. Затем определяют отклонения δ<SB POS="POST">I</SB> контролируемой поверхности 1 от сферической поверхности 2 номинального радиуса в измеряемых точках, размещенных в центрах участков разметки. По результатам измерений определяют координаты центра о<SB POS="POST">1</SB> сферической поверхности 3, ее радиус R<SB POS="POST">ф</SB> и величины отклонений контролируемой поверхности 1 от сферической поверхности 3 в измеряемых точках. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (н)э G 01 В 5/22

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ф

Ю

° ю Ф (21) 4706366/28 (22) 15.06.89 (46) 07.08.91. Бюл. М 29 (72) А.И.Кудрин, В.В.Осипенко, С,М.Сталевич и Ю.Д.Степанов (53) 531,717 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1415031, кл. G 01 В 5/22, 1986. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОРМЫ

СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля точности изготовления изделий сферической формы, например судовых и авиационных изделий, элементов паровых котлов и реакторов. сферических зеркал и экранов кинескопов. Целью изобретения является повышение точности и проИзводиl, Ы„, 1668850 А1 тельности определения геометрических параметров и расширение области применения способа за счет выполнения разметки контролируемой поверхности и измерения площадей соответствующих участков разметки. При измерении с помощью трафарета размечают контролируемую поверхность 1 и определяют площади соответствующих участков разметки. Затем определяют отклонения 4 контролируемой. поверхности 1 от сферической поверхности 2 номинального радиуса в измеряемых точках, размещенных в центрах участков разметки. По результатам измерений определяют координаты центра 01 сферической поверхности 3, ее радиус Яф и величины отклонений контра- Я лируемой поверхности 1 от сферической flo верхности 3 в измеряемых точках. 3 ил.

1668850

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля точности изготовления изделий сферической формы, например, судовых и авиационных иэделий, элементов паровых 5 котлов и реакторов, сферических зеркал и экранов кинескопов.

Цель изобретения — повышение точности и производительности определения геометрических параметров и расширение 10 области применения способа.

На фиг, 1 показана схема определения геометрических параметров сферической поверхности изделия; на фиг. 2 — схема разметки сферического сегмейта; на фиг. 3 — то 15 же, с отверстием на полюсе.

Схема содержит контролируемую поверхность 1, сферическую поверхность 2 номинального радиуса R с центром 0 и узловую сферическую поверхность 3 с цен- 20 тром 01.

Способ осуществляют следующим образом.

С помощью трафарета осуществляют разметку контролируемой поверхности 1 25 так, что измеряемые точки распределяются по поверхности 1 с учетом удобства определения их координат и относящихся к ним элементарных площадей. При выборе числа точек учитывают размеры и форму по- 30 верхности 1. Каждая измеряемая точка размещается в центресвоегоучастка. Определя ют площади. соответствующих участков разметки. При контроле полных сфер или сферических сегментов площади участков 35 определяют по. формуле с1$ = В з! и ОС1 О б р, где О и у — соответственно угловые координаты точки на поверхности 1. 40

При контроле сферических сегментов 4 и

5 (фиг. 2 и 3) измеряемые точки располагают на пересечении равноудаленных меридианов и параллелей. Крайние параллели совмещают с краями сферического сегмента 45

5 и его отверстия, Затем определяют отклонение 4 от сферической поверхности 2 номинального радиуса Rсцентром О,,выбранным произвольно вблизи истинного центра 0 контролируемой поверхности 1. 50

Центр 0> является центром узловой, сферической поверхности 3. По результатам измерений определяют координаты центра 0i сферической поверхности 3, ее радиус Вф и величины отклонений кон- 55 тролируемой поверхности 1 от сферической поверхности 3 в измеряемых точках с помощью следующих математических соотношений:

R + д(Оф = Х з!нО созда+ Y з! пО slAp+

+ 2 созО + R + Л Ro + Л R (О,p), (1) где д(Ор) — измеренное отклонение радиуса контролируемой поверхности 1 для произвольной точки;

Х, Y,Z — искомые координаты истинного центра контролируемой поверхности 1;

Л Йо. — искомое отклонение фактического среднего радиуса контролируемой поверхности 1 от номинального;

Л R (Оф — искомое отклонение контролируемой поверхности 1 or сферической поверхности радиуса Вф для произвольной точки;

Оp — угловые координаты произвольной точки на контролируемой поверхности 1.

Из выражения (1)

Д В(о,р) = a(e,р) -X з1.OCo + Y 8inOSiAp-2 созΠ— Л34. (2)

Указанные искомые величины могут быть найдены с использованием метода наименьших квадратов, согласно которому должен обеспечиваться минимум функционала:

F=ЯЬ,Я(О,p)) ds, (3)

S где dS — элементарная площадь поверхности;, F — обращается в минимум, если: — — = 0 (4) аГ aF д или

ЯЬа(О.р))- — @+ dS =0;

f(ÜВ(О,ф}- S-0;

J(b, R (O,ó))- — -L ) dS -0; аелъ) д(Л О,Д,,„О дХ д ® = — sin e sin p д т дЛ Вф Д

az д Л В(О,уЯ д{Л Ro) .

После подстановки в (4):

111ЬЙо+ 11гХ+ 113Y+ 1142 = F1;

12Ю Ro+ 122X+,123У+ 1242 = Е2; (5)

i3148o+ 1згХ+ 1ззУ+ l - Fgw

141ЛВо+ 142X+ ЬзУ+ Ьи2= F4;

1668850 где

111 142 slnOCOSp б$;

I12 f sin 0COS рб$;

I13- f stn ОCOSpб$;

114 -f 81пОСОЗр dS;.

121 I 43 f з1пО Sinp dS; !

22 =, st n О St Ap COS p б$;, 8

123= f stn 0Sill p d$;

124 = зlпОСОЗ ОЗ!п p dS;

131 =144 =, cos О dS;

l32=f stn0COSOCOSpdS;

133 =) 3!пО,COSOSinpб$;

134 =, со$0dS;

141- f б$;

F1 =,! д (О,р) з! и 0 соз р б$;

F2 =!" д (Ор) sin Osin p dS;

F3=Хд(0,p) cos Od$;

F4 = д (О,р) dS;

Величины Х, У, Z и Л Й (Оp) находятся из системы уравнений (5). .. При конечном числе точек l и произвольном их расположении на поверхности 1;

Л В = д! — XslnQ cospt — У stnQ stnpt;— Z c0s Q — - Л йо, где

Ы = ЬЯ (Я,pt) д = (Qp)

Q,pt — угловйе координаты точек.

При этом 111-141 и F1-F4 могут быть заменены суммами. Возникающая погрешность .тем меньше, чем большее число точек измерений принято: Ц 42 Ес" „сов Ч, 6 5; )

-!1,г» 51й 0; CO5 (p; Д ) 1 )

Я

1з- -.- " 8;+sпЧ;со зЧ; Ь .Й у г 14 с б1п ; СО58 CQiS Ц) 5. °

Ь 43 1В и Е П, Ь5

K 61п 9; б1 г1 cf; co5 (P; 59; °

З2з = » @п 9 5п q ag, ° Ъ г Я Я

10 <,. 2 «, 5 и 8; сощ; ° с» 51г1 81cps с ;

° 2

J,ll . бггг 8; sissс2; со5+ г Н .Е Sin 8; С05 8; Ср 5 ц>;, г

2г J

1l

J2z K бгп 8. sin с2. с05 с2. °

7

25

Jy, sin 8; sin Ц;

I .г2 ° 5<И 8;СО58 5Ю(1

I .гзг J„«, . Cps 8;;

1 >> «Z 5itl 8; со 5 8; cps g

J>q K sin 8;cps 9; si11 цг за «, Е со5 9.

1

141=И, 35 где N — число точек измерения

Fi- Д г1п Й sos ãã, Fs - g Ck sin g. sin FS

Рз =Pisnsgi F4=/A. !

Такое разбиение контролируемой поверхности изделия удобно, когда она в плане имеет прямоугольную форму, например

45 экран кинескопа.

В тех случаях, когда производигся УоНтроль замкнутой сферы или сферического сегмента (фиг.2 и 3), точки изменения удобно располагать на пересечении равноуда50 ленных меридианов и. параллелей. В этом случае в формулах (6) следует принять

Ь3 =R2S!nЯЬОЛр

Крайние параллели совмещаются с краями сферического сегмента и отверстия.

Тогда в системе (5)

111 113 !14 121 . 122= !24 132=

- I33 !42 143 0;

112 1/2(1/4 134 !41); 2,1 « » Sin 6; COS 9; 5l11Ù Д5;

I „- 3„5Z coos 8; д 5;;

J><- sine. О59,«511l; Д5;;

l

3 35 = 5in 0; co59; 5in 1Ф; ДБ;; ()

J «Хccoo5 0;д5;; j4,,- .Я д5;;

, У; 51п 6t COe (p; Д 5;;

F,- Р.,5, Е,,5,Ц,.Д5,;

t > =+ 3;Co58;45;; F<-Q3,. Ь5;, где h Si — площадь поверхности, отнесенной к соответствующей точке измерения.

15 Если точки по поверхности распределены равномерно и площади Л 5 одинаковы, то

1668850

30

lgt- 1/2(с08 201 — со$2до);

l 4/3 (cosçâ — cos30 )

141 G08 В1 соэОо) где 0i и Оо — углы, характеризующие положение границ меридиана, Отсчитываемые 5 от точки, принятой эа полюс; для сферй сферического сегмента беэ отверстия на, полюсе Î * О.

Интегралы F1-F4 могут быть вычислены любым приближенным способом. напри- "0 мер, по правилу трапеций; С учетом сказанного иэ системы (5) получают

aeZ, 4e Z,,х- — „- - - Ч .4 °,,,, 15

4е O Õâ-3 "K+ (8) Е 2— И 3% i 24

4й.= ф . " =2ф Ю ) (9)

„ + Ъ э

K ñÅ K 4Е; 5а 0;co5$ ч 3 — (Sin e;Q 4R, соб С

2 )„

+ ih О, K 4 В „, со 5 Ц; ) )

4, Ф

Л: =4Р . 4к; ъ п g;g, h.ö. - 25

Ч .3 — — (5П1 О; + 4Я ° 51hCf j y

1 . д е и

+4ih 8, . 4R; Sin y;) °

1= - 3 Z X4к sih29,\ч I=i Ч

g в

2(Фа20;; .42,1+6" ЫОоZ 4йь ) (10)

i i%! 63= 3j ) 0 la h

Z -Z % 4Å," sh e;— 35

- — (siTle(4Rgj4 size, hR )

4," - ; -4К,-XSin9;COg(g — т5 е ъч -z«,,-а ! j,Э 1 ) где:

m — число точек на меридиане, включая края сферы или полюс;

n — число меридианов, д д о — Й,, 360

m— - 1

b,Rg — отклонение контролируемой nîверхности в точке Ц от сферической поверхности радиуса йф;

1 — номера точек на меридианах; .j — номера меридианов, Формула изобретения

Способ определения формы сферической поверхности изделий, заключающийся в том, что фиксируют изделие в рабочем пространстве измерителя линейных перемещений и определяют координаты контролируемых точек на измеряемой поверхности относительно центра поворота измерителя, а по этим координатам вычисляют координаты центра, погрешности формы и средний радиус измеряемой поверхности, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности и производительности определения геометрических параметров и расширения области применения способа, перед измерением осуществляют разметку измеряемой, поверхности путем разбиения ее на участки по числу контролируемых точек,, которые располагают йреимущественно в центрах участков, определяют площади соответствующих участков разметки, которые учитывают при определении координат центра, погрешностей формы и среднего радиуса измеряемой поверхности.

1668850

Составитель H. Захаренко

Редактор О. Головэч Техред M.Mîðãåíòàë Корректор Л, Бескид

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 2649 Тираж 969 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-Зб, Раушская наб., 4/5

Способ определения формы сферической поверхности изделий Способ определения формы сферической поверхности изделий Способ определения формы сферической поверхности изделий Способ определения формы сферической поверхности изделий Способ определения формы сферической поверхности изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике Целью изобретения является расширение номенклатуры измеряемых поверхностей и повышение производительности измерений

Нутромер // 1603181
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля отверстий и внутренних сфер, в том числе имеющих на своей поверхности отверстия или выточки

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для измерения отклонений шариков от сферичности

Изобретение относится к технологии машиностроения и приборостроения, к технике метрологического обеспечения, а именно к средствам для измерения действительных размеров параметров наружных поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения форм поверхностей, например поверхности вымени коров

Изобретение относится к измерительной технике и применяется для измерения действительных размеров параметров внутренних поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к области машиностроения, а именно к способам контроля шаров, и может быть использовано в подшипниковой промышленности для промежуточного и окончательного контроля шаров

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля шаров

Изобретение относится к средствам для измерения сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике
Наверх