Способ измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения в вуф- и умр-диапазонах

 

Изобретение относится к области оптического приборостроения и спектральных исследований. Цель изобретения - повышение точности измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения твердых тел. Проводятся измерения как и исследуемой спектральной области , так и в длинноволновой области, в которой коэффициенты зеркального отражения могут быть измерены с высокой точностью , что позволяет, используя отношения сигналов опорного и отраженного от образца пучков в обоих спектральных диапазонах, устранить влияние дрейфа чувствительности фотоприемного устройства. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ сОциАлистических

РЕСПУБЛИК (я)5 G 01 N 21!55

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР.т t ч т

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

I к а

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4630593/25 (22) 02,01.89 (46) 23.09.91. Бюл. М 35 (72) M.Ã.Êàðèí и И.Б.Шестаков (53) 543.432 (088.8) (56) Карин М.Г. Оптические свойства и эонная структура редкоземельных полупроводников. Автореф. дис. на соиск, учен, ст. канд. физико-математических наук. — Л„1986, с.

6 — 8. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЗЕРКАЛЬНОГО ОТРАЖЕНИЯ В ВУФИ УМР-ДИАПАЗОНАХ

Изобретение относится к оптическому приборостроению и спектральным исследованиям и может быть использовано при создании аппаратуры для регистрации и исследований спектров отражения (пропускания) преимущественно в области длин волн ВУФ- и YMP-диапазонов.

Цель изобретения — повышение точности измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения твердых тел.

На чертеже представлена оптическая схема спектрофотометрической установки для осуществления предлагаемого способа.

Установка состоит из источника 1 ВУФизлучения, вакуумного монохроматора 2 с дифракционной решеткой 3 и фотометрической камеры 4, в которой расположены образцы 5 в кассетном держателе 6, сферическое зеркало 7, пластина 8 с нане„„53J 1679303 А1 (57) Изобретение относится к области оптического приборостроения и спектральных исследований. Цель изобретения — повышение точности измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения твердых тел. Проводятся измерения как и исследуемой спектральной области, так и в длинноволновой области, в которой коэффициенты зеркального отражения могут быть измерены с высокой точностью, что позволяет, используя отношения сигналов опорного и отраженного от образца пучков в обоих спектральных диапазонах, устранить влияние дрейфа. чувствительности фотоприемного устройства. 1 ил.

°сенным слоем люминофора 9 и приемник t0 излучения, вне камеры находится регистрирующая система (не показана), а и б укаэыЪ вают различные положения приемника О" излучения 10 во время измерений.

Способ осуществляется следующим образом. Сд

Образец выведен. иэ оптического трак- С1 тв и приемник находится в положении а.

При выведенной иа светового лучка люминесцирующей пластинке измеряется ток

ФЭУ Ъ

b(k) = Iï.àä® К3 (А) д (1) где Ra(k)- коэффициент отражения сферического зеркала; ! пад(ч)- интенсивность падающего излучения; д — эффективность фотоп риемника, 1679303

П ри введен ной в оптический тракт л юминесцирующей пластинке измеряется

l1(k)) = !пад(А) R3(420) 0(А) до, (2) где Я3(420) — коэффициент отражения зеркала на длине волны люминесценции 420 нм; 5 о®- коэффициент преобразования люминофора.

Взяв отношения (1) и (2), получают

-) ® — 10!

2(Й) = !Пад(А) "Ь(420) Вобр(420ф < (Ь)Ф (4) где Кобр(420) — коэффициент отражения на длине волны люминесценции 420 нм.

Взяв отношения (3) и (4), получают

e(k) =

Для каждой точки спектра производится и последовательных парных измерений интенсивностей света люминесценции и излучения, выходящего из монохроматора на 40 длине волны i, затем вычисляются среднестатистические значения А и В и берется их отношение

Образец введен в оптический тракт и приемник находится в положении б. При люминесцирующей пластинке, выведенной из оптического тракта, измеряется 15

I4(k) = !пад(k) R3(k) Вобр(Л4)д, (3) где Romp(k)- коэффициент отражения образца на длине волны 4.

При введенной в оптический тракт люминесцирующей пластинке измеряется из которого коэффициент отражения образца Ямр(А)определяется как (.. .l4 и

IZ ZWo 3 3Ъ

Предлагаемый способ позволяет с высокой точностью получить абсолютные значения коэффициентов зеркального отражения, так как использует при измерении коэффициент отражения исследуемого образца на одной длине волны в видимой или ближней ультрафиолетовой областях, где измерения коэффициента зеркального отражения могут быть осуществлены с высокой точностью 0,017 при использовании, например, люминофоров из салициловокислого натрия.

Формул а изобретения

Способ измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения в ВУФ- и УМР-диапазонах, заключающийся в том, что в каждой точке спектра измеряют интенсивности I

Составитель Е,Петросян

Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор M,Ïîæî

Редактор И.Шулла

Производс венно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 3206 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5