Способ анализа высокодисперсных систем

 

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения дисперсного состава материалов с помощью микроскопических (оптических) методов . Целью изобретения являетеповышение точности измерения. Сущность способа заключается в подсчете числа частиц с различными размерами под микроскопом в предварительно подготовленном образце, получении телевизионного изображения образца, определении величины контактных перешейков у агломератов, стирании с изображения объекта перешейков с размерами мензе 0,2 от эквивалентного диаметра меньшей из слипшихся в данный агломерат частицы.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (н)5 6 01 и 21/88

ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

6 (L (21) 4727377/25 (22) 07.08.89 (46) 07,11,91. Бюл. М 41 (71) Центральный научно-исследовательский институт измерительной аппаратуры (72) A.О.Дарченко, И.П.Мельникова, В.Д.Тупикин и Д.А.Усанов (53) 620.186(088.8) (56) Заявка WO t4 87/07024, кл. G 01

N 21/88, 1987, (54) СПОСОБ АНАЛИЗА ВЫСОКОДИСПЕРСНЫХ СИСТЕМ (57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам иэмереИзобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения дисперсного состава материалов с помощью микроскопических (оптических) методов, предназначается для анализа различных металлических порошков, измельченных материалов и промышленной пыли и может быть использовано научно-исследовательскими и заводскими лабораториями как метод контроля материалов и .технологических процессов их обработки.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

Установлен критерий, использование которого позволяет при наличии телевизионного изображения образца исключить иэ анализа агломераты, влияющие на точность измерений. Физическая сущность данного критерия заключается в том, что из подсчета. Ы 16898I 4 A i ния дисперсного ".îñòàâà материал,ов с помощью микроскопических (оптических) методов. Целью изобретения являетс-: повышение точности измерения. Сущность способа заключается в подсчете числа частиц с различными размерами под микроскопом в предварительно подготовленном образце, получении телевизионного изображения образца, определении величины контактных перешейков у агломератов, стирании с изображения обьекта перешейков с размерами менее 0,2 ат эквивалентного диаметра меньшей иэ слипшихся в данный агломерат частицы. исключаются агломераты, образовавшиеся в результате хранения образца за счет деформации, поверхностной диффузии и других факторов, не приводящих к усадке (уменьшению раСстояния между центрами частиц) комплекса частиц. Таким образом, иэ анализа исключаются агломераты, состоящие из частиц, которые в технологическом процессе ведут себя как отдельные несвязанные частицы. В случае, если контактный перешеек между частицами превышает установленное значение, агломерат проявляет себя в технологическом процессе как единое целое и имеющийся между входящими в его состав частицами перешеек сохраняется на изображении, Способ осуществляется следующим образом.

1689814

Формула изобретения .Способ анализа высокодисперсных систем, заключающийся в том, что по телевизионному изображению подготовленного образца осуществляют подсчет члсла частиц с различными размерами, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности, предварительно измеряют на изображении величины контактных перешейков у агломератов и стирают с изображения образца перешелки с размерами менее 0,2 от эквивалентного диаметра меньшей из слипшихся в данный. агломерат частицы, Составитель A. Труханов

Редактор G,Юрковецкая Техред М.Моргентал Корректор M. Шароши

Заказ 3808 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комигета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва„Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат Патент"„г. Ужгород., ул.Гагарина, 101. Навеску порошка (пыли) помещают в соответствующую дисперсионную жидкость.

Каплю такой суспензии переносят на предварительно протертое стекло, к ней добавляют каплю дисперсионной жидкости и 5 ровным слоем распределяют стеклянной палочкой по всей поверхностл стекла, Для грубой пыли с частицами 20-60 мкм, имеющими большую плотность (p3 г/смэ), в качестве дисперсионной используют быст- 10 ро испаряемые жидкости. Навеску 0,1-0,2 r переносят в ступку из химически стойкого, твердого материала (агат, яшма), добавляют

2 — 3 см жидкости и растирают легким наз жатием пестика до полного испарения жид- 5 кости. Небольшое количество порошка (пыли) переносят на предметное стекло, добавляют каплю дисперсионной жидкости и ровчым слоем распределяют суспензию по всей поверхности стекла. 20

Затем производят подсушивание препарата на воздухе до удаления дисперсионной жидкости. Предметное гтекло помещают на предметный столик микроскопа типа МБИ вЂ” 1 для исследования в прохо- 25 дящем свете, сопряженного с помощью оптлческой насадки с автоматической телевизионной установкой.

Общее количество частиц в поле эре,-гия 30 микроскопа не должно превышать 100 в соответствии с ТУ, В зависимости ат среднего размера частиц последовательной заменой объективов подбирают необходимое для анализа увеличение прибора. Анализируют 35 изображение. При наличии агломератов частиц, соединенных контактным перешейком, составляющим менее G 2 от эквивалентного диаметра меньшей из соединенных частиц, стирают изображение этого перешейка. Стирают также изображение грубых агломератов частиц, являющихся явным дефектом подготовки образца, Преобразуют телевизионные сигналы изображаемых частиц в логические сигналы — проектированные диаметры частиц. Измеряют геометрические параметры выбранных объектов и формируют сигналы на вычислительное устройство, Измерения могут быть проведены, например, с помощью телевизионной установки типа "Схема-2", позволяющей наблюдать измеряемые объекты, их логические сигналы, а также результаты измерений на экране видеоконтрольнаго устройства,