Способ определения ширины линии ферромагнитного резонанса в пленках феррита на свч

 

Изобретение предназначено для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса в пленках феррита на ( СВЧ. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет измерения толстых пленок большого диаметра. Определение ширины линии ферромагнитного резонанса осуществляется путем расчета по формуле, при регистрации момента генерации СВЧ- сигнала на частоте, равной половине частоты входного СВЧ-магнитного поля, 2 и л о

ССЮЭ СОВЕТСНИХ

CCCCC

РЕСПУБЯИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСИОЬГФ СВИДЕТЕЛЬСТВУ кн,- к v„, г,/гю, ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И (ЛНРЫТИЯМ

ПРИ ГИНТ СССР

1 (21) 4718181/21 (22) 10.07. 89 (46) 15.12.91. Бюл. Р 46 (71) Научно-исследовательский институт механики и физики при Саратовском государственном университете (72) В.Н. Прокущкин (53) 621.317.44(088.8) (56) Нпеман Е. и др. Нелинейные свойства ферритов в полях СВЧ. И., 1963, с. 34. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ 1}ПЕТРИНЫ ЛИНИИ

ФЕРРОИАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА В ПЛЕНКАХ

ФЕРРИТА НА СВЧ

Изобретение относится к радиоизмерениям на СВЧ и может быть использовано для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса в пленках феррита на СВЧ.

Целью изобретения является расширение диапазона измеряемых пленок.

На фиг. 1 приведена функциональная схема, реализующая способ измере ния; на фиг. 2 — зависимость мощности выходного сигнала о возбудителях

* на половинной частоте от мощности входного сигнала.

Способ осуществляется следующим образом.

Входной сигнал переменного уровня мощности на частоте Я поступает с генератора 1 на возбудитель 2 ферритовой пленки 3. В качестве возбудителя можЕт использоваться отрезок микрополосковой линии (ИПЛ). С выхода возбудителя сигнал Р „ подает-; ся на приемник 4, который вйделяет.Я0„„1698856 (1) С 01 R 33/05

2 (57) Изобретение предназначено для измерения ширины линии ферромагнитног о ре э он ан са в пле нк ах меррита на (СВЧ. Цель изобретения — расширение функциональных воэможностей эа счет измерения толстых пленок большого диаметра. Определение ширины линии ферромагнитного резонанса осуществляется путем расчета по формуле, при регистрации момента генерации СВЧсигнала на частоте, равной половине частоты входного СВЧ-магнитного поля.

2 ил. иэ него спектральную компоненту на частоте сд/2. Возбудитель с ферритовой пленкой помещены во внешнее маг- нитное поле Н ° При подаче сигнала на магнитнополосковую линию в пленке феррита возбуждается магнитостатическая волна (ИСВ), например, поверхностная. Если уровень входной мощности Р „ превышает пороговый уровень

Р„, то происходит параметрическое возбуждение спнновых волн на частоте (0/2. Спиновые волны в свою очередь возбуждают ИПЛ и на ее выходе появляется спектральная компонента на частоте Я /2. Появление этой компоненты на выходе ИПЛ соответствует достижению мощности входного сигнала порогового уровня (фиг. 2). Величина порогового уровня мощности пропорциональна квадрату ширины линии ФМР.

1б98856 где Ряор

10 где Раа

zo (Рог. 7

Й/х(ю/я) 70Р пороговый уровень мощности; волновое сопротивление микрополосковой линии; ширина микрополосковой ли5 нии; инструментальная константа.

Формула и з обре т е н и я

Способ определения ширины линии ферромагнитного резонанса в пленках меррита на СВЧ, включающий воздей-! ствие постоянного магнитного поля в плоскости пленки и импульсного . СВЧ магнитного поля, измерении вы одной мощности СВЧ-сигнала с пленки, Изменение величины импульсного СВЧ магнитного поля, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения диапазона измеряемых пленок, измерение выходной мощности имйульсного

СВЧ магнитного поля производят на . частоте, равное половине частоты импульсного СВЧ магнитного поля, а ширину линии ферромагнитного резонанса определяют по формуле ̈́— К Р„ /2 /2w, — пороговый уровень мощности; — волновое сопротивление микрополосковой линии; — ширина микрополосковои линии; — инструментальная константа.

Способ определения ширины линии ферромагнитного резонанса в пленках феррита на свч Способ определения ширины линии ферромагнитного резонанса в пленках феррита на свч 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля намагниченности насыщения ферритов на СВЧ

Изобретение относится к технике магнитных измерений и может быть использовано для изготовления сенсоров

Изобретение относится к технике измерения магнитных параметров и может быть использовано для неразрушающего локального экспресс-контроля намагниченности насыщения пленок с осью легкого намагничивания , расположенной в плоскости пленки Цель изобретения - повышение точности измерений - достигается тем, что переменное магнитное поле направлено в плоскости пленки, а регистрацию переменной составляющей оптического сигнала проводят при использовании тангенциального магнитооптического эффекта

Изобретение относится к технике измерений параметров магнитных материалов и может быть использовано для измерения параметров магнитных ферритовьгх пленок

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля параметров магнитных пленок

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к электроизмерительной технике и, прежде всего, к магнитометрии

Изобретение относится к области электротехники, в частности к магниторезистивным считывающим элементам, и может быть использовано в компьютерной технике для считывания информации с магнитных носителей с высокой информационной плотностью, а также в сенсорной технике и автоматике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения напряженностей магнитных полей, например, в геофизических исследованиях

Изобретение относится к электроизмерительной технике

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано для определения полей рассеяния микроскопических объектов, в частности магнитных головок

Изобретение относится к способам измерений параметров тонких магнитных пленок (ТМП) и может найти применение при научных исследованиях и технологическом контроле образцов ТМП, например, гранатовых эпитаксиальных структур

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения характеристик магнитных пленок

Изобретение относится к магнитометрии тонких пленок и может быть использовано для контроля их параметров при использовании в запоминающих устройствах
Наверх