Патент ссср 173331

 

О П И С А Н И Е !7333!

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 29.XI I.1963 (№ 873276/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 29.VIII.1968. Бюллетень № 27

Дата опубликования описания 26.XII.1968

Кл. 2lg, 18/02

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК H 05g

УДК 621.386.8(088.8) Автор изобретения

A. П. Никольский

Центральная лаборатория автоматики

Заявитель

КРИСТАЛЛ-ДИФРАКЦИОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР ДЛЯ

ИССЛЕДОВАНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО И ГАММА-ИЗЛУЧЕНИЯ

Изобретение относится к областям науки и техники, связанным с исследованиями рентгеновского и гамма-излучения с помощью кристалл-анализаторов, т, е. с помощью кристаллдифракционной рентгеновской и гамма-спектрометрии.

Известны кристалл-дифракционные спектрометры рентгеновского и гамма-излучения, содержащие кристалл-анализатор, обладающий пьезоэлектрическим эффектом, и детектор излучения. В подобных спектрометрах для выделения заданной длины волны кристалл-анализатор ставят под определенным углом к падающему лучу. Для установки кристалла и детектора на углы, необходимые для удовлетворения условий Брегга, применяют оптико-»еханические устройства — гониометры.

Предлагаемый кристалл-дифракционный спектрометр отличается от известных тем, что, с целью выделения из спектра необходимой длины волны кристалл-анализатор помещен в электрическое поле, вызывающее изменение расстояния между атомными плоскостями кристалла.

На чертеже представлена схема предлагаемого кристалл-дифракционного спектрометра, который содержит кристалл-анализатор 1, источник рентгеновского или гамма-излучения 2 и детектор излучения 8.

При рассеянии рентгеновских лучей на атомах кристаллической решетки анализатора для некоторых длин волн, зависящих от угла падения лучей на кристалл и расстояния меж5 ду атомными плоскостями по закону Брегга—

Вульфа, наблюдается интерференция. Закон

Брегга — Вульфа имеет следующий вид:

ni,=2dsine, где Х вЂ” длина волны, n — порядок отражения, д — расстояние между атомными

10 плоскостями кристалла- анализатора, Π— угол падения и отражения рентгеновских лучей.

При помещении кристалла-анализатора в электрическое поле происходит деформация кристалла в результате обратного пьезоэффек15 та, в частности — изменение расстояния d между атомными плоскостями кристалла. В соответствии с законом Брегга — Вульфа изменение d влечет за собой изменение длины вол. ны л. Выполнение условий интерференции по20 зволяет осуществлять переход с одной длины волны на другую изменением электрического поля (статического или переменного).

Кроме использования в спектрометрах с неподвижным кристаллом в относительно узком

25 интервале длин волн, предлагаемое изобретение может быть использовано в широком диапазоне длин волн в качестве устройства для тонкой настройки спектрометра на максимум анализируемой линии, что позволяет приме173331

Предмет изобретения

Редактор Н. Белявская Техред А, А. Камышиикова Корректор Н. И. Харламова

Заказ 3987/5 Тираж 530 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открьпий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 нить для грубой настройки спектрометра непрецизионный гониометр, В предлагаемом спектрометре могут быть использованы как плоские, так и изогнутые кристаллы-анализаторы.

1. Кристалл-дифракционный спектрометр для исследования рентгеновского и гамма-излучения, содержащий кристалл-анализатор, обладающий пьезоэлектрическим эффектом, и детектор излучения, отличающийся тем, что, с с целью выделения из спектра необходимой длины волны, кристалл-анализатор помещен в

S электрическое поле, вызывающее изменение расстояния между атомными плоскостями кристалла.

2. Спектрометр по и. 1, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона исследуе10 мых длин волн, применен гониометр, осуществляющий грубую настройку спектрометра на необходимую длину волны.