Способ неразрушающего контроля качества,изделий
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
И A 7QP CNQ АУ СВИДБ ЕЛЬ СТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Кл, 42k, 46аз
Заявлено 12.1Х.1963 (Л" 856543/25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликоьа1о 22,1.1966. Бюллетень ¹ 3
Дата опубликования описания 10.111.19áá. 11ПК 6 011
УДК 620.179.142 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий
llpN Совете Министров
СССР
Автор изобретения
К. П. Жаднов
Заявитель
СПОСОБ НЕРАЗРУ1ИАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА
ИЗДЕЛ И Й
Предмет изобретения
Известны способы неразрушаюгцего контроля изделий из магниевого чугуна. Недост11тком этих способов является то, что контролю подвергаются изделия после отхкига. Это не дает удовлетворительных результатов, так как свойства металла зависят не только от количества неразложившихся карбидов, но и от формы графита, т. е. от качества модпфнцнрования.
По описываемому способу повышается качество контроля и уменьшается неисправимый брак. Этого достигают проведением контроля в два этапа — после модифицировання чугуна магнием изделия контролируют в разомкнутой магнитной цепи и отбирают в группу «годных» с меньшим значением остаточного магнетизма, а после отжига «годных» изделий контроль проводят в средних магнитных полях по дифференциальным или мостов.1хI схемам приборов сравнивания с эталоном.
Контроль изделий из магниевого чугуна по предложенному способу значительно снизит брак, так как в термическую обработку попадут только изделия необходимой формы графита.
Сгособ неразрушающего контроля качества изделий из магниевого чугуна с использова10 нием приборов сравнения с эталоном на дифференциальных нли мостовых схемах, отликаIoutuucя тем, что, с целью повышения качества контроля и уменьшения неисправимого брака, контроль проводят в два этапа — после моднфицирования чугуна магнием изделия контролируют в разомкнутой магнитной цепи и отбирают в группу «годных» с меньшим значение.11 Остаточного 1агнетпзх1а, а после От жига «годных» изделий контроль проводят в
20 средних магнитных полях по дифференциальным илн мостовым схемам приборов сравнения с эталоном.
