Способ измерения толщины покрытий

 

Изобретение относится к ультразвуковой контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины покрытий и тонких пленок из ферромагнитных материалов. Цель изобретения - повышение точности и упрощение при измерении толщины ферромагнитных покрытий . Это достигается благодаря тому, что в способе измерения толщины покрытий, заключающемся в возбуждении в изделии поверхностных ультразвуковых волн, последние возбуждают и принимают с помощью электромагнитно-акустического преобразователя, частоту f возбуждения выбирают из условия f , где а . JrL2 коэффициент, определяемый свойствами материала покрытия; L-максимальное значение диапазона измеряемых покрытий. 1 з.п. ф-лы, 2 ил. w Ё

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)з G 01. В 17/02

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (21) 4783709/28 (22) 18.01.90 (46) 30.04.92, Бюл, hh 16 (71) Физико-технический институт со специальным конструкторским бюро и опытным производством Уральского отделения . АН СССР (72) P.Ñ. Ильясов, С.Э, Бабкин и В.А. Комаров . (53) 620.179.16(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

ЬЬ 538223, кл, G 01 В 17/02, 23.07,75.

Авторское свидетельство СССР

М 389401, кл. G 01 В 17/02, 21.06.71.

Авторское свидетельство СССР

М 146137, кл. G 01 В 17/02, 26.10.59.

Авторское свидетельство СССР

ФЭ 991165, кл. G 01 В 17/02, 25.08.81, Авторское свидетельство СССР

Й. 1280519, кл. G 01 В 17/02, 22.04.85.

Авторское свидетельство СССР

М 198691, кл. G 01 В 17/02, 25.04.66.

Изобретение относится к ультразвуковой контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины покрытий и тонких пленок из ферромагнитных материалов.

Известен способ измерения толщины слоев и покрытий, основанный на изменении частотного спектра ультразвуковых ко- .лебаний, прошедших через слой.

Недостатком этого способа является низкая точность и сложность, связанные с необходимостью спектрального анализа сигнала.

Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения толщины пленки, „„59„„1730536 А1 (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИ.Й (57) Изобретение относится к ультразвуковой контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины покрытий и тонких пленок из ферромагнитных материалов. Цель изобретения— повышение точности и упрощение при измерении толщины ферромагнитных покрытий. Это достигается благодаря тому, что в способе измерения толщины IIокрытий, заключающемся в возбуждении в изделии поверхностных ультразвуковых волн, последние возбуждают и принимают с помощью электромагнитно-акустического преобразователя, частоту f возбуждения выбирают из условия f < ., где а— а г коэффициент, определяемый свойствами материала покрытия; L- максимальное значение диапазона измеряемых покрытий. 1 з,п. ф-лы, 2 ил. заключающийся в возбуждении и регистрации ультразвуковых поверхностных волн в подложке, на которую нанесена пленка, по затуханию которых судят о толщине пленки.

Недостатками данного способа являются низкая точность измерений, обусловленная зависимостью показаний от свойств и качест.ва подложки и от адгезии пленки, а также сложность. связанная с необходимостью изготовлять участки подложки, не занятые пленкой, для ввода и вывода ультразвука.

Целью изобретения является повыше, ние точности и упрощение измерения толщины ферромагнитных покрытий.

1730536

Использование предлагаемого способа обеспечивает измерение толщины ферромагнитных покрытий в бесконтактном варианте (ЭМА-способ является бесконтактным). Скорость контроля определяется частотой повторения возбуждающих волну импульсов (в импульсном варианте), это величина 500 — 1000 Гц. Кроме того, параллельно с измерением толщины покрытия можно измерять в нем скорость волны по измерению времени распространения импульса от возбуждаю цего преобразователя до приемного.

Сущность изобретения состоит в том, что в ферромагнитном покрытии с помощью электромагнитно-акустического преобразователя возбуждают и принимают ультразвуковые поверхностные волны и по амплитуде принятых волн определяют толщину покрытия, Частоту возбуждения поверхностных волн f выбирают из условия

< г с м где а — коэффициент, определяемый свойствами материала покрытия;

d> — максимальное значение диапазона измеряемых толщин покрытий.

Кроме того, в качестве поверхностной волны использована волна Лява.

ЭМА-преобразование, т. е. преобразование электромагнитной энергии индукционной катушки в энергию ультразвуковых колебаний в твердом теле, происходит в скинслое, т. е. в слое, куда эффективно проникает электромагнитное поле частотой f. Толщина скин-слоя д выражается формулой ч 1 Ка (2) fppo <

1 ,и,и, 0 ,и, — магнитная постоянная; ,и — динамическая магнитная проницаемость материала; д — удельная электропроводность материала.

Если толщина объекта d, в котором возбуждаются ультразвуковые колебания, больше величины скин-слоя, то величина d не влияет на эффективность ЭМА-преобразования, т. е. на ту долю электромагнитной энергии, которая превращается в энергию ультразвуковых колебаний, Если же имеем тонкие ферромагнитные покрытия или пленки, для которых d < д, а это, как видно из формулы (2), будет выполняться при частоте возбуждения

f <

X(P то должна наблюдаться зависимость эффективности ЭМА-преобразования от толщины покрытия: чем больше d (в рамках условия d < д), тем выше эффективность

ЭМА-преобразования, а значит, больше интенсивность (амплитуда смещений) образовавшейся ультразвуковой волны.

Таким образом, если с помощью ЭМАспособа в покрытии возбудить поверхностную волну, принять ее на некотором расстоянии, то амплитуда принятого сигнала будет зависеть от толщины покрытия.

В покрытиях можно возбудить несколько типов поверхностных волн. Наиболее предпочтительный тип для измерения толщины покрытий — волна Лява. Она имеет малое затухание и менее чувствительна к воздействию внешних демпфирующих факторов. Таким образом, применение волны

Лява в качестве поверхностной позволит увеличить точность измерения.

На фиг. 1 показана схема устройства

25 для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 — зависимость амплитуды принятого сигнала А (в относительных единицах) от .толщины покрытия d (в микронах) для приведенного примера, Устройство для осуществления предлагаемого способа (фиг. 1) содержит ЭМА-дефектоскоп 1 для возбуждения и приема

ЭМА-сигналов и возбуждающий 2 и приемный 3 преобразователи, которые устанавливаются на поверхность изделия 4 с покрытием 5.

Способ заключается в следующем.

Устанавливают преобразователи 2 и 3 на поверхность иэделия 4 с покрытием 5.

40 Частоту возбуждения выбирают из условия (1). По образцам с известной толщиной покрытия строят градуировочную зависимость амплитуды принятого сигнала от толщины покрытия. 8 дальнейшем изме45 рение покрытий ведут к данной градуировочной кривой.

П р и м е.р, Исследовали никелевые покрытия толщиной от 5 до 20 мкм на основе из алюминия толщиной 5 мм (покрытие на50 несено гальваническим способом).

Для ЭМА-преобразования поверхностных волн испольэовали устройство, содержащее электромагнит и меандровую катушку. Для преобразования волн рэле55 евского типа витки меандровой катушки устанавливались перпендикулярно подмагничивающему полю, для волн Лява — параллельно. Частота колебаний 1,5 МГц, при этом длина волны равна 2 мм, а толщина

1730536

4 (аа) .70

iy 1Z

d äàì)

Диг2

Составитель С. Бабкин

Техред М.Моргентал Корректор О. Головач

Редактор Е. Копча

Заказ 1508 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 скин-слоя 50 мкм, т. е. выполнялось условие d < д. 8 качестве ЭМА-дефектоскопа использовали серийный прибор ДУК-68.

Амплитуду принятого ЭМА-сигнала измеряли по осциллографу С1 — 70. Зависимость амплйтуды ЭМА-сигнала А от.толщины покрытия d представлена на фиг. 2. Сплошная линия соответствует волнам рэлеевского типа, пунктирная — волнам Лява, Квадратичная зависимость амплитуды ЭМА-сигнала от толщины покрытия обьясняется использованием двойного ЭМА-преобразования.

Формула изобретения

1. Способ измерения толщины покрытий, заключающийся в возбуждении в изделии ультразвуковых поверхностных волн, измерении амплитуды принятых волн и использовании их для определения толщины покрытия, отличающийся тем. что, с . целью повышения точности и упрощения при измерении толщины ферромагнитных покрытий, ультразвуковые поверхностные

5 волны возбуждают и принимают с помощью электромагнитно-акустического преобразователя, а частоту f возбуждения выбирают из условия а

10 „2 где а — коэффициент, определяемый свойствами материала покрытия;

L — максимальное значение диапазона

15 измеряемых толщин покрытий.

2. Способ по и. 1., отличающийся тем, что возбуждают поверхностные волны

Лява.

Способ измерения толщины покрытий Способ измерения толщины покрытий Способ измерения толщины покрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в металлургии, машиностроении и других отраслях промышленности для контроля толщины стенки изделий с крупнозернистой структурой при одностороннем доступе

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при измерении толщины различных материалов, а также скорости ультразвука в детали известной толщины

Изобретение относится к нерэзрушающему ультразвуковому контролю и может быть использовано при измерении толщины Цель изобретения - повышение точности измерений

Изобретение относится к точному приборостроению и предназначено для измерения размеров деталей в машиностроении

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для определения диаметра и координат центра цилиндрических объектов , например, движущихся лесоматериалов , в частности, древесных стволов и бревен

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля при одностороннем доступе толщины изделий, изготовленных из материалов с высоким коэффициентом затухания ультразвука, а также имеющих большую кривизну поверхности

Изобретение относится к автоматическому управлению процессом изготовления пластмассовых труб

Изобретение относится к средствам измерения ультразвуковым неразрушаюгаим методом и может быть использовано при одностороннем доступе к изделию для измерения его толщины

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для контроля толщины материала и может быть использовано в машиностроении, авиастроении и других отраслях промышленности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к автоматике и измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерителя и контроля перемещений с микроЭВМ в контуре управления для преобразования линейных перемещений в цифровой код

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического контроля и регулирования параметров промышленных технологических процессов, например, при определении уровня хозяйственно-питьевой и технологической воды в резервуарах систем водоснабжения

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического контроля и регулирования параметров промышленных технологических процессов, например, при определении уровня хозяйственно-питьевой и технологической воды в резервуарах систем водоснабжения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического контроля и регулирования параметров промышленных технологических процессов, например, при определении уровня хозяйственно-питьевой и технологической воды в резервуарах систем водоснабжения

Изобретение относится к измерительной технике и могут быть использованы для контроля линейных размеров, а также в системах автоматического контроля, управления и регулирования параметров промышленных технологических процессов, например, при определении уровня хозяйственно-питьевой и технологической воды в резервуарах систем водоснабжения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля линейных размеров, а также в системах автоматического контроля, управления и регулирования параметров промышленных технологических процессов, например, при определении хозяйственно-питьевой и технологической воды в резервуарах систем водоснабжения
Наверх