Способ времяпролетной масс-спектрометрии

 

Использование: относится к массспектрометрии. Сущнрстъ изобретения: в источнике 1 ускоренные ионы направляются в первое бесполевое пространство . Разделенные на пакеты ионы подвегаются воздействию переменного во времени отражающего поля. После прохождения второго бесполевого пространства ионы фокусируются в плоскости детектора. 2 ил. ел

(51)5 Н 01 1 49/40

1 .y1 0 i)

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ФЙА"р 14 -.4":

ЪВМве =

Ю \

° °

° °

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ пО иЗОи%текиям и ОткРытиям

flpH- Гкнт сссР (21) 4659812/21 (22) 09.03.89 (46) 30.05;92. Бюл. И 20 (71) Научно-исследовательский технологический институт (72) Д.E.Ииловзоров, Г.А.Шерозия и R .À. Ièùëà êîâ (53) 621-384(088.8) (56) Thorinard N., Payne N.G., Wright М.С. and Schitt Н.W. Noble

gas atom cainting using RIS and T0F

mass spectrometry. Inst. Phys. Gont.

Й 71; Knoxville, 1984, Tenn., 1б-20

April, 1984.

ЖЭТФ, 1973, т..64, вып. I, с.82-89.

Иамырин Б.А., Каратаев В,И., Юпикк Д.В., Загулин В.А. Масс-рефлек" трон. Новый безмагнитный времяпролетный масс-спектрометр с высокой раз" решающей способностью.

Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано при элементном анализе ионных пучков.

Цель изобретения - повышение разрешающей способности и расширение диапазона анализируемых масс.

На фиг, 1 изображена схема устрой" ства для реализации предлагаемого способа на фиг. 2 - график функции у U(t), где U - потенциал отражающего поля, t - время.

Устройство содержит источник 1, представляющий собой плоский конденсатор, состоящий из электрода 2 и сетки 3.

Из источника 1 частицы направляются через сетку 3 в первое бесполевое

„„SU„„1737560 А 1

2 (54) СПОСОБ ВРЕИЯПРОЛЕТНОЙ НАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ (57) Использование: относится к массспектрометрии. Сущность изобретения: в источнике 1 ускоренные ионы направляются, в первое бесполевое пространство. Разделенные на пакеты ионы подвегаются воздействию переменного во времени отражающего поля..После прохождения второго бесполевого пространства ионь фокусируются в плоско.сти детектора. 2 ил.

МаМ пространство 4. После пролета бесполе. ваго пространства частицы разделяются на ионные пакеты с определенным отно-. шением г /g и далее попадают в от- СЛ

1. 1 ражающую систему 5, где на них действует отражающее поле.

Находясь в отражающем поле, частицы одного ионного пакета, отразившись, приобретают -различные энергии на выходе из него," причем те частицы, которые имели большую по сравнению с другими частицами пакета энергию, приобрели меньшую энергию, а более нмедленные" частицы приобрели .большую энергию. Отражающая система 5 состоит из сетки 6, через которую проходят ионы, и пластины 7, на кото3 173 рую подается переменный электрический потенциал в виде последователь" ности импульсов для последователь" ности пакетов с определенным отношением m /g . Время подачи импульсов

"1

i-r o сорта определяется ка к

П1, 4й е - 1(- — — )

2Е SВременная протяженность пакетов растет с ростом протяженности беспо" левого пространства и определяет длительность подаваемых импульсов как

1а (A e,)Y2e,/дЯ -1)

После того, как пакеты были подвергнуты воздействию электрического поля в отражающей системе 5, они направляются в бесполевое пространство 8, где их временная протяженность сокращается по мере движения, и сфокусированные таким образом пакеты ионов попадают на детектор 9.

Потенциал отражающего поля выбирается.таким, чтобы быстрые и медленные частицы одного ионного пакета с отношением Й,/g, имея начальный.раз" брос по энергиям, получали различные приращения энергии после отражения, причем ЬU - AU1 = QF, где 6U<— приращение энергии частиц, которые, .имели в первом бесполевом пространстве меньшую скорость, а AU . - приращение энергии частиц, имевших боль" шую скорость. Таким образом, конкретной величине 6Е ставится в соответствие определенный вид Функции U(t).

Величина, реализующая это соответствие - функционал вида

d Й (А — -+ — -)

dt< dt где А и В - величины, зависящие от

m;,Я, 1.

В этом случае временная протяженность пакета на входе в отражающее поле компенсируется временной протяженностью пакета при пролете второго бесполевого пространства.

Временная. протяженность пакета ионов при прохождении пролетного пространства равна где 1 — длина бесполевого пространства, 7560 д Е,- величина энергетического ,разброса частиц одного ионного пакета h E,=- Eq - Е,;

i 2 + E = -----;--- - средняя энергия

1 частиц пакета ионов, Bg, Е1 — энергия быстрой и медленной частиц.

0 t — 0 t = о t — разница во временных протяженностях пакета ионов на входе в отражающее поле и на выходе из него оценивается как !2

n 2Sm; (2 Г. + д ) Уд. + (2 ".

15 где S — протяженность отражающего

20 полевого пространства (фиг.2).

3а начальный момент времени t = О принимается момент образования ионов в источнике 1, между электродом 2 и

25 сеткой 3. Все времена отсчитываются от этого момента.

Ширина пакета ионов на входе в отражающую систему определяется из следующих соображений. Пусть t<, «ф

t — времена пролета пространства 4 (от источника ионов до системы отражения) частицами одного пакета, обладающими энергиями Е< и Е, причем

Е <- Е = 6Е > 0, где g Е - разброс по энергиям частиц одного па35 кета. Время

t<=L< . (i= 12), 2h

Тогда

4о Г Е, Приравнивая второ" сомножитель в правой части равенства (1) к

bЕ, (ЬЕ,а Г ) получим

02

АЬ "фр- ° dE, (2), Так как bt. = At- At + At, N б !

ate, то, приравнивая значение шириУчитывая, что F. - f = 6Е,. и Е

= Е + F /2 - получим Е = Е, + gf /2 и Е = Е - Q F /2. Подставляя значения F< и Е< в выражения для A t и преобразуя его, получим Формулу

At = — г=- — — — 2

L(m 6Е)

8I(z ЕзР д,е, (1)

50 1 — — к —

16ь, 5 173 7560 ,ны пакета до отражения Дс и после него b,t, можно определить величину разброса частиц по энергиям EZ который необходимо создать для фокусировки частиц в плоскости детектора.(Рассмотрим общий случай, когда длина дрейфового пространства L до системы отражения и длина Ь2 дрейфового пространства от системы отражения до детектора не равны. В этом случае

Так как длина бесполеяого дрей(1)()вого пространства должна быть вйбрана с. условием, что временной промежуток между пакетами, образующийся в процессе дрейфа, должен быть большем, чем временная протяженность пакета в области фокусировки, т.е.

Ь

Д = — —-2 (и, Ею 2 ъ Д

dm ш

Pl то для длины Ь получим:

15 f.)2bt ° U R

Ег W2 Ь(ДЕ =(— )

Е1 . 2 п1 — 2с где К йп и

Формула изобретения

Способ времяпролетной масс-спектрометрии, заключающийся в последовательном разделении однозарядных частиц в первом бесполевом пространстве на пакеты ионов с определенной массой, направлении частиц в отражающее попе, отклонении частиц в отражающем поле,,направлении во второе бесполевое пространство и последующей регистрации выходного сигнала, о т л и ч а ю щ и " с я тем, что, с целью повышения разрешающей способности и расширения диапазона

35 анализируемых масс, потенциал отражающего поля 0; для пакетов ионов определенной массы выбирают из условия где ДЕ; - начальный разброс по энергиям частиц в пакете ионов (Дж), А 1/81;;

il2

ЬП1

- -- - — bK — временная про1 23аязи тяженность пакета на входе в систему отражения, су в 2S .Гш

О т- (1 + -- ) ТВ %2 временгде Е,. Е - средние энергии одного пакета ионов до системы отражения и после нее.

В случае, если L< -" L2, ДЕ2 = ь (Ег/E1) ь ) ДЯ1., откуда при выполнении условий Е = Е1, bE1((Е; (i= т

=1,2) следует, что ДЕ = ДЕ,. В этом случае вид функции, описывающей за" висимост ь потенциала, подаваемого иа электрод отражающей системы от времени, находится из равенства (f

1,. 1 (((r)de — J u(c)dr. = О (4) 2+ ( т, где b, t †- . ширина пакета ионов на входе вотражающую систему", — момент времени в который

Э частица пакета ионов с:: наибольшей скоростью ("быстрая" частица) достигает системы отражения, t, ht" — времена пребывания быстрой и медленной (частицы с наименьшей скоростью) частиц в системе отражения.

В случае Ь Е, Ф b)E, h.E1 - ДЕ

= Ь Е, это равенство записывается в .виде п

ЬЕ4 = J 1T(t)dt — U(t)dt (5) т,tbt Ь, где и > 2 Ь1

ЬE = ДЕ 1 -(- )

При этом получим

ДМ; Г И; (ная протяженность пакета на выходе из системы отражения, с

Ь вЂ” протяженность бесполевого пространства, удовлетворяющая неравенству

1737560

L R S где R

Ьm

S — протяженность отражающего поля, и;

t е средняя энергия пакета ионов, Дж; масса частицы, кг, время, с; заряд электрона, К.

Способ времяпролетной масс-спектрометрии Способ времяпролетной масс-спектрометрии Способ времяпролетной масс-спектрометрии Способ времяпролетной масс-спектрометрии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к научному приборостроению , в частности к области исследования массового и изотопного состава вещества, т.е

Изобретение относится к массспектрометрии

Изобретение относится к способам исследования излучения и потоков элементарных частиц и может быть использовано для определения концентрации и полной функции распределения ионов магнитосферной плазмы масс-спектрометрическим способом

Изобретение относится к высоколокальным методам масс-спектрометрического анализа твердых тел, в частности к устройствам для определения химического состава веществ, посредством анализа одиночных ионов

Изобретение относится к технике разделения заряженных частиц и может быть применено для элементного химического анализа материалов при создании масс-спектрометров времяпролетного типа.(-

Изобретение относится к масс-спектрометрическим способам исследования и может быть использовано для измерения состава редких компонент в геологических породах, метеоритах, полупроводниковых материалах, а также в отходах промышленного производства

Изобретение относится к физике и технике физического эксперимента и может быть использовано в нейтронной физике

Изобретение относится к научному приборостроению и может быть использовано при исследовании массового состава нейтрального газа, потока низкоэнергетичньгх ионов и плазмы в условиях вакуума .Цель -повышение чувствительности масс-спектрометра

Изобретение относится к массспектрометрии и может быть использовано при исследовании элементного и химического состава сложных веществ

Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ

Изобретение относится к газовому анализу, предназначено для определения концентрации микропримесей веществ в газовых средах, в частности в атмосферном воздухе

Изобретение относится к области газового анализа и предназначено для обнаружения микропримесей веществ в газовых средах, в частности атмосферном воздухе

Изобретение относится к области газового анализа и может использоваться для определения микропримесей различных веществ в газах или применяться в газовой хроматографии в качестве чувствительного детектора

Изобретение относится к области спектрометрии и используется для обнаружения атомов и молекул в пробе газа

Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований

Изобретение относится к приборостроению, системам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований

Изобретение относится к приборостроению средств автоматизации и систем управления, в частности к масс-спектрометрии
Наверх