Способ определения параметров электрических многополюсников

 

Изобретение относится к области информационно-измерительной техники и может быть использовано для контроля и диагностирования электронных объектов. Способ определения параметров электрических многополюсников, состоящий из включения каждой пары одноименных зажимов объекта контроля и его модели в смежные плечи измерительных мостов, питании только первого моста, измерения токов разбалансов измерителями токов, включенных в измерительные диагонали мостов Новым в способе «вляются операции изменения величин сопротивлений между одноименными зажимами объекта контроля и его модели, сопротивлений, последовательной включенных в цепи измерителя тока, а также решение системы матричных уравнений. сл с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИС1ИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (s1)s G 01 R 31/28

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

flO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

pl 9

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4780259/21 (22) 08.01.90 (46) 23.06.92, Бюл. ¹ 23 (71) Самарский политехнический институт (72) С.М.Таскин, А.M.Àôàíàñüåâ и И.В.Бурочкин (53) 621.317.799 (088.8) (56) Лихтциндер Б,Я., Широков С.М, Многомерные измерительные устройства, — М.:

Энергия, 1978 — 312с.

Байда Н.П., Кузьмин И.B., Шпилевой

B,Т. Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА. — M.: Радио и связь, 1987, с, 256. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МНОГОПОЛЮСНИКОВ

Изобретение относится к информационно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и диагностирования электронных объектов.

Известны способы определения параметров электрических многополюсников и четырехполюсников, в которых одноименные зажимы образцового и измеряемого многополюсников включают в смежные плечи измерительных мостов и производят их уравновешивание, Различие этих и других способов заключается лишь в системе подключения мостов, их питания (переменным или постоянным током). подключении корректирующих усилителей.

Недостатки известных способов определения параметров многополюсников заключаются в малом быстродействии, низ(57) Изобретение относится к области информационно-измерительной техники и может быть использовано для контроля и диагностирования электронных объектов.

Способ определения параметров электрических многополюсников, состоящий из включения каждой пары одноименных зажимов объекта контроля и его модели в смежные плечи измерительных мостов, питании только первого моста, измерения токов разбалансов измерителями токов, включенных в измерительные диагонали мостов, Новым в способе являются операции изменения величин сопротивлений между одноименными зажимами объекта контроля и его модели, сопротивлений, последовательной включенных в цепи измерителя тока, а также решение системы матричных уравнений, кой достоверности и ограниченной области применения, Наиболее близким техническим решением к предлагаемому изобретению является способ измерения параметров электр ричес,:ni о четырехполюсника. в котором каждую пару одноименных зажимов исследуемого и образцового четырехполюсников включают в смежные плечи двух мостов и регулируют параметры образцового четырехполюсника до уравновешивания мостов, отличающийся тем, что уравновешивание по элементам первого столбца матрицы производят при закороченных плечах второго моста, а уравновешивание по элементам второго столбца матрицы производят при сопротивлениях плеч второго моста, равных сопротивлению нагрузки контроли1742754 руемого четырехполюсника, и при питании первого моста.

Недостатками прототипа являются малое быстродействие, низкая достоверность и ограниченная область применения.

Для достоверного определения параметров элементов контролируемого объекта в прототипе необходимо определенное совпадение структур объекта контроля и модели, В противном случае возникает неоднозначное решение задачи определения параметров объекта контроля. Например, при структурах определение параметров четырехполюсников возможно, но при появлении в объекте контроля несанкционированной связи между точками 1 и 3 задача неразрешима. Малое быстродействие прототипа связано с наличием этапа уравновешивания мостов. Количество циклов уравновешивания неодинаково для различных объектов контроля и многомерных измерительных устройств и определяется понятием сходимости. Многомерные измерительные цепи сравнения в общем случае описываются нелинейным векторным уравнением баланса вида.

f(k) = U, (1) где f(k) — некоторая вектор-функция вектора уравновешивающих величин k;

U — вектора сигналов небаланса.

Сходимость итерационного процесса уравновешивания определяется свойствами матрицы-якобиана системы уравнений (1) б0 (2)

dk

Для осуществления быстрой сходимо-. сти необходимо, чтобы недиагональные элементы матрицы чувствительности S были достаточно малыми по модулю, по сравнению с диагональными, т,е, должна быть сведена к минимуму взаимосвязь контуров уравновешивания, При чисто диагональной матрице S процесс уравновешивания сходится один цикл, состоящий иэ и операций (для прототипа и = 2). Однако, как правило, матрица S не является чисто диагональной вследствие наличия взаимосвязей контуров уравновешивания. При этом процесс уравновешивания состоит из нескольких циклов

m, а количество операций прототипа равно

mn, Область применения способа ограничена для сложных многосвязных объектов и для объектов, не допускающих короткое замыкание на выходных зажимах. Если контролируемый объект представляет собой сложную многосвязную систему с большими величинами коэффициентов взаимного влияния контуров уравновешивания, то матрица чувствительности S имеет недиагомодели, измеряют токи раэбалансов, определяя элементы вектора Еи-1 и так далее (i = 1 ... N-1), Y — параметры объекта контроля

40 — матрицу Yx — определяют решением системы матричных уравнений вида;

Рая(АхИ,Ы(ЕЬН ) -, ЕЬ-1 ), "АИ-щ-щ-1(ЕИ()...„Еи-1()1 «Х(и-1) (Yx) = В(м-1) (Еипараметры модели выбирают одного порядка с ожидаемыми параметрами объекта контроля, величины проводимостей плеч измерительных мостов и сопротивлений, включенных между объектом контроля и модели, выбирают одного порядка с собственными проводимостями модели в узлах к которым подключаются данные сопротивленияя. Возможен аналогичный способ, отличающийся от предложенного тем, что

55 поочередно и дискретно зменяют на заданную величину величины сопротивлений, включенных в измерительные диагонали, последовательно с измерителя . токов, величины данных сопротивлсний выбирают

35 нальные элементы, сравнимые по величине с диагональными элементами и вследствие плохой сходимости процесс уравновешивания затруднен и применение прототипа в данном случае нецелесообразно, Существует ряд объектов, недопускающих применение традиционных методов контроля, в том числе короткое замыкание на выходе. Применение прототипа для данных объектов ограничено, Цель изобретения — увеличение быстродействия, достоверности и расширения области применения способа.

Данная цель реализуется способом определения параметров электрических многополюсников, заключающимся в том, что формируют иэ каждой пары одноименных зажимов объекта контроля и его модели смежные плечи N-1 измерительных мостов, в измерительных диагоналях которых контролируют величину токов между общими зажимами объекта контроля и модели с общей точкой, питания первогО моста от генератора тока измеряют токи разбаланса, представляющих собой разность токов, протекающих по смежным плечам измерительных мостов. Предлагаемый способ отличается тем, что поочередно и дискретно изменяют на заданную величину величин сопротивления, включенные между одноименными зажимами объекта контроля и модели, измеряют токи разбаланса всех мостов, определяя элементы вектора раэбалансов Еи-1(, дискретно изменяют величины сопротивлений, включенных между (i+1)-ми зажимами объекта контроля и

1742754 одного порядка с сопротивлениями плеч измерительных мостов, Существенными отличиями предлагаемого способа являются поочередное и дискретное изменение на заданную величину величин сопротивлений, включенных между одноименными зажимами объекта контроля и модели (сопротивлений, включенных в измерительные диагонали, последовательно с измерителями токов) и определение Y-параметров объекта контроля решением системы матричных уравнений в )да

DIag(A1N-11ч-1(Е)ч-1(, ..., EN-1 )), .» AN-1N-1д-1 (EP-1("), ... ЕЬ-1())XX(N-1) (Y)= В(Ы) (EN„() E (ч1))

Свойства, приобретаемые в результате введения существенных отличий, приводят к увеличению достоверности, быстродействия и расширения области применения способа. Способ позволяет с высокой достоверностью определять параметры элементов контролируемого объекта при условии, что rangÓX < rangÓk. Способобеспечивает высокое быстродействие из-за отсутствия этапа уравновешивания. Число операций способа и меньше числа операций прототипа еп, где гп > 1 (,.„ля большинства обьектов контроля). Сбласть применения способа расширяется, во-первых, для объектов, у которых невозможен режим короткого замыкания, во-вторых, для объектов„ представляющих собой сложную многосвязную систему с большими величинами коэффициентов взаимного влияния контуров уравновешивания.

Зажимы а1, „„ап обьекта контроля Х1 и

С1, ..., Сп модели Кг включены в плечи измерительных мостов, образованных проводиМОСТЯМИ 91, 92, ..., gn 7 И ВХОДНЫМИ параметрами обьекта 1 и модели 2 в точках

81...., an С1, ..., Cn. В измерительные диагонали этих мостов последовательно с измерителями токов U1, 02, ..., Un, регистрирующих токи разбалансов Е1, Ег, ..., E„gu1, gus, ..., gun 8, шунтированные проводимостями gu, .„, gun 9, соединенными последовательно с ключами Ро„, „., Ро 11. Между одноименными зажимами обьекта 1 и модели 2 вклюЧЕНЫ ПРОВОДИМОСТИ go2...„9оп 5, шУнтиРованные пРоводимостЯми 9о.„,, ..., gon 6, соединенными последовательно с ключами Ро. „„., Pon 10, В питающую диагональ первого из мостов включен источник тока 3, имеющий выходную проводимость

gI1 4, В исходном состоянии после подключения объекта контроля Х1 все ключи Ро;...„

Роп 10 (Pu», .„, Pun 11) размыкаются. С)т источника тока 3 подается внешнее воздействие амплитудой)1. После изме оения токов разбалансов Е1, Ег, ..., Еп замыкают (1 (1 ключ Роа 10 (Pu„. 11) и опять из(меряют токи разбалансов Е1(2), Ег(2), ..., En . Затем за5 мыкают ключ Ро» 10 (Pug 11) и так далее, Процедура повторяется до и-го ключа. После замыкания ключа Ррп 10 (Р ))11) и измерения токов разбалансов Е1", Е2(")...„

Е,") производится обработка полученной

10 информации по алгоритму, вытекающему из следующих уравнений. В литературе известно обобщенное матричное уравнение состояния многомерного электроизмерительного устройства сравнения, заданного в системе

15 независимых узловых потенциало

j )ив I Уив YBA YBc 0в

)XA = YAB YXA YACC UA (")

J Kc Усв УсА YKc 0с ля рас матриваемого многомерного

20 устройства сравнения матрицы уравнения (1) имеют вид .)ив =-JINNI- JB = 0;

)Хд = JP )А = )А = ()а1 )а2 .", jan) т ()1,0, ", oj:

25 ) кс = -) к - Jc = -1С = (-Jc1, -)сг, ..., -)cn) = ()1, G " 0)

У.)В = Уи —:- Увв:

Уи = с1 ао(9о1, guy," gun) ХА = Ух+ УАА;

30 YKc = YK + Усс;

Удв = Увд = YcB = YBc = Y = Фар(-g1, -g г

9п)

YAC = 1 СА = YO = diag(-go1 9о,, °,, gpn):

YBB = Удд = Ycc = -2v

35 0в =(0ь1, Ub„, ..., Ubn(- г.

UA = (Ua1 0а „;, ..., 0ап)

UC = (Uc1, Uc:„, ..., Ucn);

Т вЂ” знак транспортирования

Решая уравнение (1) методом Гауса (ис40 ключения), получаем для вектора напряжений разбалансов 0в следующее соотношение

UB=(УиВ УвсУкс УсВ-(ВА- Y/cYKc YcA)(YxAYAcYKc YcA) (YAB YAcYKc YcB)) (-УвсУкс

45 „Jc (Увд - .всУ YcA)(YxA YAc c Yc)

1 -1 (JA — Уд.сУкс Jс)); (3)

Учитывая соотношения (2) после несложных преобразований получаем

UB=Уи (Y -2Уи,-Укс УУи -(150 Укс Уо)(Ухд-УоУкс Yp) (1-УоУкс1 )УУИ- )(УКс - (1- УКс Уо)(Ухд — YoYKc Yo) (1 +

УоУкс )Щ (4)

Введем понятие вектора токов разбалансов

55 Е=Уи 0В. (5)

Используя соотношения (2), (5), решаем уравнение (4) относительно матрицы

YX(YK — 2Yp — Y) ° (J - (YK - Yp — Y)(У "2Уи )E+ УУи 1Е) = (Yo+ Y+ Yo(Yr, - Yo - Y)

Yp)(YK-2Yp - Y) (J (УК- Y - Yp)(Y -2Уи ) 1742754

Е+УУи Е)-(1-Уо(Ук-Уо- Y) )УУи E+(1

+Уо(Ук- Yo- Y) 1)J (6)

Изменяя величины проводимостей goi (gui) и-1 раз получаем еще и-1 матричных уравнений вида (6), отличающихся от перво- 5 го и между собой, величинами параметров

Уо (Уи) и величинами разбалансов Е.

Решение полученной системы матричных уравнений получаем в виде

DIag(((YK - 2Уо — Y) (J - (Yg Yp - У)(У - 10

2УИ ) Е+УУИ "Е)) )х(Х1,Х2, ...,Хп ) =(Уо

+ Y + Уо(Ук - Уу - Y) — Yo X (Ук - 2Yo - Y)- (!(YK — Y - Yo)(Y - 2Уи )Е + УУи ) - (1 — Уо(УК

- Yo — Y) )УУИ E + (1 + Уо(УК - Yo - Y) )/, где XI XI1 Х;2, „„Xin) 15

I=1 ...и, n = ч - 1.

Величины параметров элементов многомерного устройства сравнения (модели измерительных плеч и т,д.), а также величи- 20 ны, на которые изменяют проводимости goi (ggI), определяются исходя из следующих положений. Как указано выше, определение параметров электрического 1-полюсника осуществляется путем решения системы (7), 25 которую в общем виде можно представить как

Ax= b, Элементы матриц А и b содержат погрешности, полученные в результате конеч- 30 ной точности измерения токов невязки Е1, Е2, ..., En.

Влияние погрешностей матриц А и b на определение матрицы х параметров многополюсника оценивается соотношением (7) 35 где cond А = II А li И А И вЂ” евклидова число обусловленности матрицы А. л

40 д ПАИ вЂ” ПАП д ИЬП вЂ” ИЫ!

ИА И lib II л д Пхll !lхп дх—

ПхИ возмущения матриц А, b, х.

А, Ь, х — матрицы, элементы которых не содержат погрешностей:

А, b, x — реальные матрицы

П А И, II b И, П х il и т.д. — нормы матриц 50 вида и

II А ll =max I а i, 1 <1

Для снижения ошибкидх необходимо уменьшать число обусловленности condA, не уменьшая при этом нормы II А II, П Ы!

Число обусловленности сопбА является функцией от всех параметров устройства сравнения, в том числе от сопротивлений, включенных между одноименными зажимами объекта контроля и модели (последовательно в цепях измерителей тока), а также от величин, на которые изменяют в процессе работы данные сопротивления. Величины используемых проводимостей и величины изменения этих проводимостей в процессе работы выбираются из соображения минимально возможного значения обусловленности condA, минимального воздействия на режим работы контролируемоI0 многополюсника, сохранения достаточно больших величин норм II А II, II Ь И, Как показали проведенные исследования, наибольшая точность способа достигается при равенстве порядков; параметров модели и предлагаемых параметров объекта контроля; величин проводимостей плеч измерительных мостов, сопротивлений, включенных между одноименными зажимами объекта контроля и модели, сопротивлений последовательно включенных в цепях измерителей токов и собственных проводимостей модели в узлах к которым подключаются данные сопротивления. Кроме того, на точность способа влияет величина, на которую изменяют величины сопротивлений, включенных между одноименными зажимами объекта контроля и модели (сопротивлений последовательно включенных в цепях измерителей токов). С ростом величины измерения, число обусловленности уменьшается по нелинейному закону, По мнению авторов наиболее оптимальный диапазон изменения величин данных сопротивлений от -507 до — 100% от исходной величины. величины, Амплитуда источника тока !1 3 подбирается в соответствии с ограничениями на амплитуду внешнего воздействия приведенными в паспорте на изделие (объект контроля). В качестве модели объекта контроля может использоваться электрический многополюсник как с параметрами равными ожидаемым параметрам объекта контроля, так и иметь отличные параметры.

Построение модели объекта контроля возможно как из пассивных, так и из активных элементов. Модель может как соответствовать проверяемому объекту, так и быть полностью отличной от объекта контроля.

Например, пусть объект контроля представляет собой усилитель на одном транзисторе.

Матрица проводимостей объекта контроля имеет вид

1742754

11+ 1 0

11+ 21+ 22+ 3 22

21 22 22+ 2

- 11- 21

- 21 усилитель с параметрами отличными от предполагаемых параметров объекта контроля.

11+ 21+ 22+ 6 . 22

21 22

11+ 4

VK=

11 21

22+ 5

- 21

20 пассивный четырехполюсник

1+ 5 5

УK K=

1+ 2+ 3

5 3+ 4+ 5

-3

2, Способ по и. 1, отличающийся тем, что поочередно и дискретно изменяют на заданную величину величины сопротивлений, включенных в измерительные диагонали, последовательно с измерителями токов, величины данных сопротивлений выбирают одного порядка с сопротивлениями плеч измерительных мостов, 50

Cоста вител ь С.ТОС к и H

Редактор Т,LLlaroea Техред M,Moðråíòàë Корректор fl,áeñêèä а

Заказ 2283 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государстве ;ного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113 35, Москва, Ж-35, Раушскак наб.. а/б

1 .

Производственно-изд,артельский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101

) где у11, у21, у12, y22 — параметры транзистора, причем параметр у12 не учтен из-за малости его величины. В качестве модели можно выбрать аналогичный усилитель с параметрами равными предполагаемым пара- 5 метрам объекта контроля.

Возможно также применение других моделей с матрицей проводимостей, имеющей rang Yê =. 3, Использование предлагаемого способа определения электрических параметров 30 электрических многополюсников обеспечивает следующие преимущества:

1. Уменьшает время измерения Y-параме тров.

2. Расширяет область применения изве- 35 стных способов для сложных многосвязных объектов, критичных к режиму короткого замыкания на выходе.

3. Позволяет определить Y-параметры при несовпадении структур объекта контра- 40 ля и модели.

Формула изобретения

1. Способ определения параметров электрических многополюсников, заключающийся в том, что формируют из каждой 45 пары одноименных зажимов объекта контроля и его модели смежные плечи N-1 измерительных мостов, в измерительных диагоналях которых контролируют величину токов между общими зажимами объекта контроля и модели с общей точкой питания первого моста от генератора тока, измеряют токи разбаланса, представляющих собой разность токов, протекающих по смежным плечам измерительных мостов, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью увеличения быстродействия, повышения достоверности и расширения области применения способа поочередно и дискретно изменяют на заданную величину величины сопротивлений, включенные между одноименными зажимами объекта контроля и модели, измеряют токи разбаланса всех мостов, определяя элементы вектора разбаланса

EN-1, дискретно изменяют величину co(i противления, включенного между (!+1)-ми зажимами объекта контроля и модели, измеряют токи разбалансов, определяя элементы вектора разбалансов EN-1 + и так далее (i = 1„, N-1) Y-параметры объекта контроля ! (матрицу Yx) определяют решением системы матричных уравнений вида

0 9(Ащ-1,N-1(Е1ч-1),,„„Ем-1 ))...., AN1N-1,ы-1(Еи-1(, ..., EN-1())»Х(1ч-1) 2(YK) = B(N

1) 2(Е(ч-1(), „., EN-1()), параметры модели выбирают одного порядка с ожидаемыми параметрами объекта контрол я, вел ич и н ы и ро води мосте и г. л еч измерительных мостов и сопротивлений. включенных между объектами контроля и модели, выбирают одного порядка с собственными проводимостями модели в узлах, к которым подключаются данные сопротивления.

Способ определения параметров электрических многополюсников Способ определения параметров электрических многополюсников Способ определения параметров электрических многополюсников Способ определения параметров электрических многополюсников Способ определения параметров электрических многополюсников 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для контроля логических элементов

Изобретение относится к производству радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля печатных плат, например толстопленочных микросборок

Изобретение относится к измерительной и вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля параметров с использованием ЭВМ

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для автоматизированной проверки параметров усилителей низкой частоты , в частности коэффициентов нелинейных искажений, как в процессе производства этих усилителей, так и при входном контроле

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для непрерывного бесконтактного контроля и диагностики технического состояния выпрямительных полупроводниковых элементовтрансформаторно-выпрямитеАьных блоков питания

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использо; ,:.-V:jn:;;W 5 t., 7 &amp;: М Ј3Ј5151 л2Ј1Ј8Я&amp;$ вано для проверки цепей логических устройств

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх