Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины композиционных покрытий металлов. Целью изобретения является повышение точности и чувствительности. Способ позволяет повысить точность при высокой локальности измерений за счет возбуждения в диэлектрическом волноводе двух ортогонально поляризованных волн и использования поляризационной методики измерений в условиях полного внутреннего отражения. Для этого разработан специальный диэлектрический волновод и в устройство дополнительно введены СВЧ-фазовращатель, запоминающее устройство и измеритель отношения напряжений. Использование одного приемного канала для определения поляризационного параметра, по которому судят о толщине покрытия, позволяет создать переносной малогабаритный прибор и СВЧ-датчик. 2 с. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил. лических основаниях, основанный на возбуждении поверхностной волны в диэлектрическом волноводе прямоугольного сечения, взаимодействии поверхностной волны с контролируемым покрытием и определении ее параметров, по которым осуществляется контроль толщины покрытия. Данный способ имеет низкую точность и чувствительность контроля из-за влияния большого числа мешающих факторов, а именно непостоянства величины зазоры между диэлектрическим волноводом (ДВ) и сл с VI сл СА) СО -ч ч

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (!9) (! !) (ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4849968/09 (22) 12.07.90 (46) 07.08.92. Бюл, М 29 (71) Институт прикладной физики АН БССР (72) H.B.Ëþáåöêèé и В.А.Михнев (56) Лихолетова Л.Г, Регулярный диэлектрический волновод как датчик дефектоскопа.

Сб. трудов tX ВНТК. Неразрушающие физические методы и средства контроля, секция

Д- Минск, 1981, с. 24-26.

Козлов В.П. Применение поверхностных волн сверхвйсокочастотного диапаэойа для неразрушающего контроля неметаллических слоистых материалов и покрытий.

Сб. Матер. Х ВНТК. Неразрушающие физические методы и средства контроля. 25-27 сент. 1984 r., кн. 1. Львов, 1984, с. 129.

Козлов В.П. и др. Малогабаритный СВЧдефектоскоп для контроля качества клеевых соединений. Сб. трудов IX ВНТК. Нераэрушающие физические методы и средства контроля, секция Д; — Минск, 1981, с. 68-70.

Авторское свидетельство СССР

В 934329, кл. G 01 N 22/00, 1982.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля толщин защитных диэлектрических покрытий металлов, особенно оксидных покрытий, как в процессе их нанесения и при входном контроле, так и в процессе эксплуатации в химической, радиотехнической, машиностроительной и других областях техники.

Известен способ для определения толщины диэлектрических покрытий на метал(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХИХ ПОКРЫТИЙ МЕТАЛЛОВ

И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины композиционных покрытий металлов.

Целью изобретения является повышение точности и чувствительности. Способ позволяет повысить точность при высокой локальности измерений за счет возбуждения в диэлектрическом волноводе двух ортогонально поляризованных волн и использования поляризационной методики измерений в условиях полного внутреннего отражения.

Для этого разработан специальный диэлектрический волновод и в устройство дополнительно введены СВЧ-фазовращатель, запоминающее устройство и измеритель отношения напряжений; Использование одного приемного канала для определения поляриэационного параметра, по которому судят о толщине покрытия, позволяет создать переносной малогабаритный прибор и СВЧ-датчик. 2 с, и 1 э.п. ф-лы, 1 ил.

О лических основаниях, основанйый на возбуждении поверхностной волны в диэлектрическом волноводе прямоугольного сечения, взаимодействии поверхностной волны с контролируемым покрытием и определении ее параметров, по которым осуществляется контроль толщины покрытия.

Данный способ имеет низкую точность и чувствительность контроля из-эа влияния большого числа мешающих факторов, а именно непостоянства величины зазоры между диэлектрическим волноводом (ДВ) и

1753379 покрытием; влияния подложки на электродинамические характеристики ДВ; нестабильности частоты и мощности

СВЧ-генераторов. Следует также отметить, что при несогнутом ДВ зона контроля велика и невозможно осуществить измерения с высокой локальностью.

Наиболее близким ho технической сущности и достигаемому эффекту к изобретению является способ,. основанный на возбуждений поверхностной волны в ДВ, изогнутом по дуге окружности, взаимодействии поверхностной волны с приложенным беэ зазора покрытием и определении параметров электромагнитной волны, по которым судят о толщине nакрытия, Однако при контроле толщины неметаллического покрытия на металле последний (подложка) оказывает сильное влияние на параметры электромагнитной волны по сравнению с влиянием покрытия. Для исключения этого влияния увеличивают зазор между ДВ и покрытием, что, в свою очередь, уменьшает чувствительность и приводит к погрешности, связанной с непостоянством величины зазора. Также на точность контроля оказывает влияние нестабильность частоты и мощности излучения.

Известно устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов, содержащее СВЧ-генератор, ДВ, СВЧдетектор, усилитель и индикатор.

Однако данное устройство имеет низкую точность измерения из-за необходимости наличия зазора между ДВ и покрытием для уменьшения влияния металлической подложки на параметры волны, что, в свою очередь, уменьшает чувствительность и требует постоянства величины зазора. Также на точность измерений влияет нестабильность мощности и частоты излучения.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является СВЧ-де- фектоскоп, содержащий последовательно соединенные СВЧ-гейератор, первый согласующий переход, облучатель, выполненный в виде отрезка ДВ, изогнутого по дуге окружности, плоскость которого перпендикулярна поверхности контролируемогО покрытия; второй согласующий переход, СВЧ-детектор и индикатор.

Основным недостатком СВЧ-дефектоскопа являются низкая точность и чувствительность измерения толщины немагнитных покрытий на металлических основаниях из-за необходимости наличия зазора между ДВ и контролируемым покрытием. Это связано с тем, что при расположении контролируемого покрытия на некотором расстоянии от ДВ эффективное

30

40 компонент ортогональных составляющих

50

15 влияние на электродинамические характеристики последнего будет оказывать только поверхностный слой (покрытие), Однако во внешней среде поле экспоненциально спадает при удалении от поверхности ДВ, и чувствительность измерения также уменьшается. При этом погрешность измерения в значительной степени зависит от стабильности частоты и мощности СВЧ-излучения.

Цель изобретения — повышение точности и чувствительности измерений, Поставленная цель достигается тем, что в способе, заключающемся в возбуждении поверхностной волны в ДВ, изогнутом по дуге окружности, взаимодействие этой вол-. ны с областью контролируемого покрытия, измерения параметров провзаимодейство-, вавшей поверхностной волны при наличии контролируемого покрытия и без него и onределении толщины по величине этих измененных параметров, дополнительно возбуждают две ортогонально поляризованные волны равной амплитуды, плоскости поляризации которых лежат в нормальной и тангенциальной плоскостях относительно поверхности контролируемого покрытия соответственно, параметры провзаимодействовавшей волны при отсутствии контролируемого покрытия измеряют путем расположения ДВ, изогнутого по дуге окружности, на металлическую подложку, при этом относительная разность фаз между ортогонально поляризованными волнами равна n_#_ градусов (где и = 1,3,5...), а параметры провзаимодействовавшей волны при наличии покрытия — путем расположения ДВ, изогнутого по дуге окружности, íà контролируемое покрытие, а в качестве измеряемого параметра выбирают отношение волны, Поставленная цель в устройстве для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов, реализующем способ, достигается тем, что оно помимо последовательно соединенных СВЧ-генератора, первого согласующего перехода, облучателя, выполненного в виде отрезка ДВ, изогнутого по дуге окружности, второго согласующего перехода, СВЧ-детектора и индикатора, имеет облучатель, снабженный СВЧ-фазовращателем, и последовательно соединенные переключатель, запоминающий блок и измеритель отношения напряжений, выход которого подключен к индикатору, а второй вход — к выходу введенного селективного усилителя, вход которого соединен с вторым выходом переключателя, вход которого соединен с выходом СВЧ-детектора, при этом

ДВ имеет квадратное сечение, а его концы

1753379

35

45

55 выполнены в виде плавных переходов с двугранного клина на квадратное сечение ДВ, а ребра клиньев лежат в одной плоскости и во взаимно ортогональных диагональных плоскостях сечения ДВ, при этом ребра параллельны широким стенкам соответствующих согласующих переходов.

СВЧ-фазовращатель выполнен в аиде отрезка полого ДВ квадратного сечения, внутреннего квадратное сечение которого равно сечению ДВ, а диэлектрические проницаемости материалов отрезка полого ДВ и ДВ равны, при этом отрезок полого ДВ .имеет возможность перемещаться вдоль

ДВ, а одна из стенок отрезка полого ДВ может перемещаться от поверхности ДВ параллельно ей на расстояние до Л/2, где Л— длина волны излучения, причем эта стенка с внутренней стороны имеет металлическое покрытие, Сущность заявляемого технического решения "îñòîèò в следующем. В ДВ возбуждают одновременно две ортогонально поляризованные волны равной амплитуды, . плоскости поляризации которых лежат в нормальной и тангенциальной плоскостях относительно поверхности контролируемого покрытия. Для этого используется, отрезок ДВ квадратного сечения, концы которого выполняются в виде плавных переходов с двугранного клина на квадратное сечение ДВ, при этом ребра двугранников начала и конца отрезка ДВ лежат во взаимно ортогональных диагональных плоскостях сечения ДВ.

Для уменьшения габритов облучателя и зоны (локальности) контроля отрезок ДВ изгибают в середине по дуге окружности так, чтобы его начало и конец (ребра двугранников) лежали в одной плоскости. При возбуждении ДВ линейно поляризованной волной, плоскость поляризации которой перпендикулярна входному ребру двугранного клина, в ДВ будет иметь место возбуждение двух ортогонально поляризованных ТМ и ТЕ волн равной амплитуды, плоскости поляризации которых будут перпендикулярны боковым плоскостям ДВ.

Преобразованная выходная волна будет суперпозицией этих двух волн и будет также линейно-поляризованной, плоскость поляризации которой будет коллинеарна входной волне, При установлении дуги ДВ на металлическую подложку или на тонкое диэлектрическое покрытие на металле значения амплитуд ортогональных волн не изменяются, а изменяются только из фазы, причем в значительной степени изменяется фаза волны, лежащая в нормальной плоскости к поверхности образца. При соответствующем выборе радиуса кривизны дуги ДВ можно добиться, что при установлении ее на металл относительная разность фаз между ортогональными волнами станет л градусов по отношению к первоначальному состоянию. Для точного установления относительной разности фаз, равной z градусов, между ортогональными составляющими на

ДВ (облучатель) дополнительно устанавливают фазовращатель. В этом случае преобразованная выходная волна также будет линейно поляризованной, однако ее плоскость поляризации повернется на 90, При установлении дуги ДВ на металлическую подложку с покрытием относительная разность между фаз ортогональными волнами дополнительно изменится, причем этот дополнительный сдвиг будет зависеть только от толщины и диэлектрической проницаемости контролируемого покрытия. При этом выходная преобразованная волна станет эллиптически поляризованной, а ее азимут (положение большой оси эллипса поляризации) не изменится по сравнению с чистой металлической подложкой за счет того, что амплитуды ортогональных волн в ДВ не изменяются. Диэлектрическая проницаемость материала контролируемого покрытия должна быть больше диэлектрической проницаемости материала ДВ.

Если разделить преобразованную эллиптически поляризованную выходную волну на ортогональные составляющие, измерить их и взять отношение, то оно зависит только от толщины контролируемого покрытия (для данного типа покрытия) и пропорционально эллиптически, которая инвариантна к амплитудно-временной нестабильности источника излучения. Поляризационная методика измерения позволяет учитывать влияние металлической подложки, исключить влияние непостоянства зазора и при этом повысить чувствительность за счет использования всей амплитуды поверхностной волны. При этом обеспечивается высокая локальность контроля, В устройстве для осуществления измерения поляризационного параметра — эллиптичности выходной волны используется только один канал, что позволяет исключить нелинейность второго СВЧдетектора, а также значительно уменьшить габариты первичного преобразователя и упростить приемный СВЧ-канал, который состоит из второго согласующего перехода, оканчивающегося прямоугольным волноводом и СВЧ-детектором. Конец ДВ имеет плавный переход, как и в начале, с квадратного сечения на двугранный клин, ребро

1753379 которого лежит в диагональной плоскости

ДВ. Большая стенка металлического волновода (и согласующего перехода) устанавливаются параллельно ребру. клина ДВ. Таким образом, по металлическому вол новоду сначала (без установления дуги на образец или металл) распространяется компонента электромагнитной волны, пропорциональная большой оси эллипса поляризации (которая запоминается), а после установления на образец дуги ДВ поляризационный эллипс поворачивается на 90, и по металлическому волноводу распространяется компонента волны, пропорциональная малой оси эллипса поляризации, которая. усиливается селективным усилением и поступает на второй вход измерителя отношения напряжений, на первый вход которого поступает сигнал с запоминающего блока. При установлении

ДВ на образец срабатывает переключатель, который переключает сигнал с СВЧ-детектора на вход селективного усилителя. Сигнал на выходе измерителя отношения напряжений пропорционален эллиптичности и, следовательно, толщине покрытия.

При установлении ДВ на металлическую подложку без покрытия проверяется начальная калибровка, при которой относительная разность фаз между ортогональными волнами равна яг градусов, а эллиптичность выходной волны — нулю, Это достигается за счет того, что облучатель снабжен СВЧ-фазовращателем, принцип работы которого основан на установлении металлической пластинки на некотором расстоянии от боковой поверхности ДВ и возможности ее перемещения от самой поверхности ДВ на расстояние от А/2.

На чертеже показана блок-схема устройства, реализующего способ, Сопоставительный анализ с известным способом показывает, что заявленный способ отличается наличием операций возбуждения двух ортогонально поляризованных волн равной амплитуды, изменения относительной разности фаз между ортогональны- ми волнами в ДВ и формирования линейно поляризованной выходной волны при установлении дуги на металл, разделении преобразованной эллиптически поляризованной волны на ортогональные составляющие и определении их отношения — величины эллиптичности, при которой находят толщину покрытия.

Сопоставительный анализ с известным устройством показывает, что предлагаемое устройство отличается наличием дополнительно введенных СВЧ-фазовращателя, переключателя, запоминающего бло10

30 ского волновода в две ортогонально поляризованные волны TM и ТЕ типа равной

40

50

25 ка, селективного усилителя и измерителя отношения напряжений, причем ДВ имеет квадратное сечение и плавные переходы в начале и в конец ДВ с квадратного сечения на двугранный клин, ребра которых лежат во взаимно ортогональных диагональных плоскостях ДВ.

Устройство содержит СВЧ-генератор 1, первый согласующий переход 2, изогнутый по дуге окружности ДВ 3 квадратного сечения, измерительный столик 4; фазовращатель 5, второй согласующий переход 6, СВЧ-детектор 7, переключатель 8, запоминающий блок 9, селективный усилитель 10, измеритель 11 отношения напряжений и индикатор 12.

Устройство работает следующим образом.

Амплитудно-модулированная и линейно поляризованная СВЧ-волна с СВЧ-генератора 1 через прямоугольный металлический вол новод попадает в первый согласующий переход 2, который согласует прямоуголный металлический волновод с

ДВ, для чего плавный клинообразный переход ДВ 3, длина которого должна быть не менее (5-6) Я„вставляется в согласующий переход 2, Здесь происходит преобразование основного типа колебаний металличеамплитуды ДВ 3, Плоскости поляризации двух ортогональных волн в ДВ перпендикулярны боковым поверхностям ДВ. Выходная преобразованная волна ДВ при условии, что размеры ДВ выдержаны правильно, будет также линейно поляризована, причем ее плоскость поляризации будет коллинеарна падающей.

Для получения высокой локальности измерений и для уменьшения габаритов СВЧ приемно-передающего датчика ДВ сгибают в середине по дуге окружности, с радиусом не менее (5-6g . Для получения выходной преобразованной волны линейно поляризованной при установлении дуги ДВ на металлическое основание на ДВ устанавливают

СВЧ-фазовращатель 5, который выполнен в виде отрезка полого ДВ квадратного сечения, одна иэ внутренних поверхностей которого имеет металлическое покрытие, которое может перемещаться от поверхности ДВ на расстоянии до A/2. Отрезок полого волновода может также передвигаться... вдоль ДВ и после настройки жестко крепиться к ДВ. При установлении дуги ДВ на металлическое основание с контролируемым покрытием выходная волна станет эллиптически поляризованной, причем

1753379 большая и малая оси эллипса поляризации не изменяет своего направления и будет лежать в диагональных плоскостях ДВ. Это связано с тем, что амплитуды распространяющихся в ДВ ортогональных волн не изме- 5 нятся, а изменится только их относительная разность фаз. Таким образом, измеряя значение сигналов, соответствующих большой и малой осям эллипса поляризации, и определяя их отношение, равное величине эл- 10 липтичности, можно найти толщину покрытия. Для измерения эллиптичности провзаимодействовавшей волны необходимо волну разделить на ортогонально поляризованные составляющие, продетек- 15 тировать эти сигналы и взять их отношение;

Устройство, реализующее способ, конструктивно состоит из выносного приемопередающего СВЧ-датчика, соединенного кабелем с блоком питания, обработки сиг- 20 нала и индикации. В измерительном столике.4 имеется паз, в котором крепится отрезок дуги ДВ с помощью пенопласта, диэлектрическая проницаемость которого близка к единице. В верхней части измери- 25 .тельного столика 4 имеются два выступа, к которым жестко крепятся первый и второй

6 согласующие переходы. В них вставляются плавные переходы начала и конца ДВ, которые жестко закрепляются в согласую- 30 щих переходах с помощью скобы и винта, сжимающих металлические пластины согласователей. К волноводным фланцам согласующих переходов 2 и 6 крепятся соответственно СВЧ-генератор 1, выпол- 35 ненный на лавинопролетном диоде, и СВЧдетектор 7. В измерительном столике встроен переключатель 8, который при установлении его на контролируемое покрытие переключает СВЧ-детектор 7 с входа запо- 40 минающего устройства 9 на вход селективного усилителя 10. В устройстве используется только один канал, а значение эллиптичности определяется путем измерения большой оси эллипса поляризации пе- 45 ред установлением СВЧ-датчика (измерительного столика с встроенным ДВ) на контролируемое покрытие на металлическом основании. Значение этой величины запоминается в запоминающем блоке 9 и 50 поступает на первый вход измерителя 1 отношения напряжений. После установления измерительного столика на покрытие переключатель 8 подключает СВЧ-детектор 7 к селективномуусилителю 10, на вход которо- 55 го поступает сигнал, пропорциональный значению малой оси эллипса поляризации, Усиленный селективным усилителем 9 сигнал поступает на второй вход измерителя 11 отношения напряжений, выходной сигнал которого пропорционален эллиптичности и поступает на индикатор 12, проградуированный в значениях толщины, Способ и устройство для его осуществления имеет следующие преимущества: высокую чувствительность и локальность при контроле тонких покрытий и изделий малых размеров эа счет использования полной амплитуды поверхностной волны миллиметрового диапазона; высокую надежность в связи с жестким креплением ДВ и всей жесткой конструкции

СВЧ-датчика, а также эа счет изготовления

ДВ из прочных диэлектрических материалов; малый вес и малые габритные размеры

СВЧ-датчика, что позволяет создать переносной малогабаритный толщиномер; высокую точность измерения за счет возбуждения дополнительной второй ортогональной волны и использования поляризационной методики измерений, исключающей влияние металлической подложки, зазора йийтерференции.

Формула изобретения

1. Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов, заключающийся в возбуждении поверхностной волны в диэлектрическом волноводе, изогнутом по дуге окружности, взаимодействии этой волны с областью контролируемого покрытия, измерении параметров провзаимодействовавшей поверхностной волны при наличии контролируемого покрытия и без него и определении толщины по величине этих измененных параметров, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности, возбуждают две ортогонально поляризованные войны равной амплитуды, плоскости поляризации которых лежат в нормальной и тангенциальной плоскостях относительно поверхности контролируемого покрытия соответственно, параметры провзаимодействовавшей волны при отсутствии контролируемого покрытия измеряют путем расположения диэлектрического волновода, изогнутого по дуге окружности, на металлическую подложку, при этом относительная разность фаэ между ортогонально поляризованными волнами равна пГградусов (где и =1,3, К...), а параметры провзаимодействовавшей волны при наличии покрытия — путем расположения диэлектрического волновода, изогнутого по дуге окружности, на контролируемое покрытие, а в качестве измеряемого параметра выбирают отношение компонент ортогональных составляющих волны.

1753379 да, при этом ребра параллельны широким стенкам соответствующих согласующих переходов.

Составитель Н, Любецкий

Техред M. Моргентал Корректор А. Ворович

Редактор В. Данко

Заказ 2764 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного. комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

2, Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов, содержащее последовательно соединенные

СВЧ-генератор, первый согласующий переход, облучатель, вывефненный в виде отрезка диэлектрического волуовода, изогнутого по дуге окружности, второй согласующий переход и СВЧ-детектор, индикатор, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и чувствительности, облучатель снабжен СВЧ-фаэовращателем, введены последовательно соединенные переключатель, запоминающий блок и измеритель отношения напряжений, выход которого подключен к индикатору, а второй вход — к выходу введенного селективного усилителя, вход которого соединен с вторым выходом переключателя, вход которого соединен с выходом СВЧ-детектора, при этом диэлектрический волновод имеет квадратное сечение, а его концы выполнены в виде плавных переходов с двугранного клина на квадратное сечение диэлектрического волновода, а ребра клиньев лежат в одной плоскости и во взаимно ортогональных диагональных плоскостях сечения диэлектрического волново5 . 3. Устройство по п.2, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что СВЧ-фаэовращатель выполнен в виде отрезка полого диэлектрического волновода квадратного сечения, внутреннее квадратное отверстие которого равно сече10 we диэлектрического волновода, а диэлектрические проницаемости материалов отрезка полого диэлектрического волновода и диэлектрического волновода равны, при этом отрезок полого диэлектрического

15 волновода установлен с возможностью перемещения вдоль диэлектрического волновода, а одна из стенок отрезка полого диэлектрического волновода установлена с возможностью перемещения от поверхно20 сти диэлектрического волновода параллельно ей на расстоянии до Л/2, где Л вЂ” длина волны излучения, причем зта стенка с внутренней стороны имеет металлическое покрытие.

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к созданию материалов с заданными свойствами с помощью радиотехнических средств, переносящих данные свойства электромагнитными методами, что может найти применение в электронике, металлургии, биологии, медицине} оптике и других отраслях, где требуются материалы с новыми физическими свойствами и улучшенными характеристиками

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для СВЧ-дефектоскопии материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может бьп -., использовано для измерения влажности неоднородных волокнистых материалов, например хлопка-сырца и т.д

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в авиационной промышленности для определения количества связующего и направления углеродных нитей однослойных композиционных материалов

Изобретение относится к измерительной технике сверхвысоких частот и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения и коэффициента стоячей волны в СВЧ-тракте

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного и контактного измерения различных физических параметров объектов

Изобретение относится к дефектоскопии диэлектрических изделий и материалов, Т в частности к способам обнаружения предметов в оптически непрозрачных диэлектрических средах, например бетоне, грунте и т.д

Изобретение относится к радиолокации, а именно к способам исследования подповерхностных слоев различных объектов

Изобретение относится к созданию материалов с заданными свойствами при помощи электрорадиотехнических средств, что может найти применение в химической, металлургической, теплоэнергетической, пищевой и других отраслях промышленности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам измерения влажности, и может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства, где влажность является контролируемым параметром материалов, веществ и изделий

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может использоваться для томографического исследования объектов и медицинской диагностики при различных заболеваниях человека, а также для лечения ряда заболеваний и контроля внутренних температурных градиентов в процессе гипертермии

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к исследованию объектов, процессов в них, их состояний, структур с помощью КВЧ-воздействия электромагнитных излучений на физические объекты, объекты живой и неживой природы и может быть использован для исследования жидких сред, растворов, дисперсных систем, а также обнаружения особых состояний и процессов, происходящих в них, например аномалий структуры и патологии в живых объектах

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения сплошности потоков диэлектрических неполярных и слабополярных сред, преимущественно криогенных
Наверх