Способ вакуумного напыления тонкой диэлектрической пленки

 

Использование: изобретение может быть использовано в пленарной технологии производства полупроводниковых приборов для получения пассивирующих покрытий в интегральных схемах, диэлектрических пленок тонкопленочных электролюминесцентных структур и т.п. Сущность: изобретение позволяет в результате введения кислорода в газовую аргоно-азотную смесь ВЧ магнетронного разряда при распылении кремниевой мишени с поддержанием соотношения газов соответственно Аг№,02 равным 40:53:7, получить высококачественные электролюминесцентные покрытия из оксинитрида кремния за счет обеспечения оптимального сочетания диэлектрических и механических свойств получаемой пленки Повышение качества пленок обеспечивается за счет увеличения пробивного напряжения (до 5,5.10 В/см), снижения диэлектрических потерь ( -л 008) при величине диэлектрической проницаемости не менее 6-7, а также способ по изобретению повышает стабильность этих свойств, уменьшает механические напряжения, yвeличивaeY адгезию. 4 ил. сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (st)s С 23 С 14/35

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4841109/21 (22) 12.07.90 (46) 30.08.92. Бюл.¹ 32 (71) Научно-исследовательский институт

"Платан" (72) А.В,Горин, В,Е,Дегтеяа, Е.У,Корницкий и В.А.Кыласов (56) Заявка Японии N 63-140077, кл. С 23 С

14/06, С 23 С 14/34, 1988.

Способ и установка для тонкой диэлектрической пленки.

J,Fujlta и др. Large Scole АС ТЫп РНп

Electrolumlnescent Olsplay Panel.- Japan

l3lsplay 83, р. 76-79.. (54) СПОСОБ ВАКУУМНОГО НАПЫЛЕНИЯ

ТОНКОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛЕНКИ (57} Использование: изобретение может быть использовано в планарнпй технологии производства полупроводниковых приборов для получения пассивирующих покрытий в интегральных схемах, диэлектрических пленок тонкопленочных электролюминесИзобретение относится к области пленочной микроэлектроники и может быть использовано в планарной технологий производства полуп ро водниковых и риборов для получения пассивирующих покрытий в интегральных схемах, диэлектрических пленок тонкопленочных электролюминесцентных структур, пленок для многокомпонентных композиций, применяемых в качестве элементов конструкций интегральной оптики.

В качестве прототипа выбран способ, посвященный получению диэлектрической пленки из оксидов, нитридов, карбидов, распылением мишеней из алюминия и кремния в различных реактивных средах, в част« .. Ж " 1758085 А1 центных структур и т.п. Сущность; изобретение позволяет в результате введения кислорода в газовую аргоно-азотную смесь ВЧ магнетронного разряда при распылении кремниевой мишени с поддержанием соотношения газов coOTBpTGTBBHHo Аг:М2;02 равным 40:53:7, получить высококачественные электролюминесцентные покрытия из оксинитрида кремния за счет обеспечения оптимального сочетания диэлектрических и механических свойств получаемой пленки.

Повышение качества пленок обеспечивается за счет увеличения пробивного напряжения (до 5,5.10 В/см), снижения диэлектрических потерь (tgh--0 008) при величине диэлектрической проницаемости не менее 6-7, а также способ по изобретению повышает стабильность этих свойств, уменьшает механические напряжения, увел ич и вает адгези ю. 4 ил. ности, упоминается и о получении пленки нитрида кремния (Рзй4) в смеси аргон-азот, пленки нитрида кремния, полученные этим способом, имеют хорошие диэлектрические и оптические свойства, но из-за больших механических напряжений, неудовлетворительной адгезии к различным материалам, а также из-за эффекта деградации диэлектрических свойств в процессе эксплуатации эти пленки не нашли применения в устройствах отображения информации на основе тонкопленочной электролюминесценции.

Цель изобретения — расширение технологических воэможностей за счет получения высококачественного электролюминесцентного покрытия из оксинитрида кремния.

1758085

Изобретение обеспечивает повышение качества пленок за счет увеличения пробивного напряжения (до 5,5.10 В/см), снижения диэлектрических потерь (щд =-0,008) при величине диэлектрической проницаемости не менее 6-7, повышение стабильности этих свойств, уменьшение механических напряжений, увеличение адгезии.

Поставленная цель достигается заменой аргоно-азотной смеси на аргоно-азотНо-кислородную и подбором соотношений газов. обеспечивающего оптимальное сочетание диэлектрических оптических и механических свойств получаемой пленки, Введение кислорода в пленку диэлектрика и оптимизация отношения парциальных давлений газовых компонент позволяет увеличить адгезию, резко уменьшить внутренние напряжения в пленке и получить оптимальное сочетание диэлектрических и оптических свойств получаемой пленки, На фиг.1 показана зависимость коэффициента поглощения пленки диэлектрика от содержания азота в смеси аргон-азот.

Зависимость .имеет явный минимум соответствующий 60% азота (40% Аг). Резкое повышение коэффициента поглощения с уменьшением содержания азота (с повышением содержания аргона), по-видимому, связано с появлением в пленке нестехиометрического кремния. При содержании азота более 60% коэффициент поглощения также возрастает, хотя и не так резко, что, по-видимому, связано с избытком азота в пленке. Таким образом, оптимальное соотношение аргон-реактивный газ 40%:60%.

На фиг,2 показана зависимость коэффициента поглощения от содержания в смеси 40% Ar-(60-х)% М2-х %02 кислорода. При содержании кислорода менее 6% коэффициент поглощения начинает резко возрастать, при увеличении кислорода более 7% возрастание незначительное, но при этом резко падает коэффициент преломления (фиг.3) и пленка диэлектрика вырождается в диоксид кремния с я =3,8-4,0.

На фиг.4 показана зависимость диэлектрических свойств пленки оксинитрида кремния от содержания кислорода в смеси.

При содержании кислорода в смеси равном

7% имеем максимум по электрической прочности (5,5.10 В/см) и минимум по потерям (суд < 0,01), при этом о= 6,5-6,8.

Таким образом, оптимизация диэлектрических и оптических свойств дает следующее соотношение компонент в газовой смеси; 40% Ar, 53% М, 7% 0, Приведем пример реализации предлагаемого способа получения оксинитридных

45 пленок, Пленку наносят распылением кремниевой мишени диаметром 200 мм.и толщиной 8 мм на вращающуюся стеклянную подложку размером 170х140 мм, покрытую прозрачной токопроводящей пленкой на основе смеси окислов индия и олова. При этом используется ВЧ-магнетронное устройство с диаметром магнитной системы 200 мм, выполненной на основе самарий-кобальтовых магнитов. Частота ВЧ-поля 13,56 МГц, величина магнитного поля над поверхностью мишени 0,08 Тл автоматическое смещение на мишени 700-800 В, Расстояние мишень-подложка составляет 200 мм, температура подложки в процессе нанесения поддерживается равной 200 С, Распыление кремниевой мишени производят в аргоноазотокислородной смеси при соотношении парциальных давлений компонент

Аг/Ng/02= 40/53/7 и общем давлении

3.10 мм рт.ст. Скорость осаждения напыляемых пленок 400-500 А/мин, толщина напыленных пленок 0,1-0,3 мкм. Установка содержала устройство оптического контроля позволяющее получить пленки заданной толщины.

Использование способа позволяет получать оксинитридные пленки на подложках сравнительно большой площади, обладающие следующими преимуществами по сравнению с пленками, получаемыми существующими способами (прямое азотирование, химическое и плазмохимическое осаждение, ВЧ-магнетронное распыление керамической мишени). оптимальные электрофизические характеристики (максимальная электрическая прочность, близкие к минимальным диэлектрические потери, достаточно высокая диэлектрическая проницаемость) при высокой -оптической прозрачности; высокая равномерность характеристик по площади подложки; высокая производительность и хорошая воспроизводимость параметров; низкие механические напряжения и хорошая адгезия к широкому классу диэлектрических и полупроводниковых материалов.

Формула изобретения

Способ вакуумного напыления тонкой диэлектрической пленки, включающий рас-. пыление кремниевой мишени в плазме высокочастотного магнетронного разряда ионами газовой смеси, содержащей аргон и азот, и осаждение распыленного материала на подложку, отличающийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей за счет получения высококачественного диэлектрического покрытия из

17r)A085 оксинитрида кремния, в газовую смесь дополнительно вводят кислород, а осаждение

45 Я ХХ бЮ H 7Р 75 g0 85

Ры(Ag

Д, Фр

g 1 Г .7 4 Х b 7 8 У 10 fI бобержанае тспорода, %

Fuze

7 б

5 ведут при соотношении газов Лг;Ир:(1;, равном 40:5З:7 соответственно.

1758085

Редактор М.Товтин

Заказ 2973 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская нэб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101

Е„/Ю, и/см

У 5 b 785 1011 Д

Сойрмкчие кислорода 9

СЬг 7

5 У 7 Р У а 11 а

Садержание кислорода, %

Составитель Т.Смирнова

Техред М.Моргентал Корректор О.Кравцова

Способ вакуумного напыления тонкой диэлектрической пленки Способ вакуумного напыления тонкой диэлектрической пленки Способ вакуумного напыления тонкой диэлектрической пленки Способ вакуумного напыления тонкой диэлектрической пленки 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вакуумному нанесению пленок методом ионного распыления материалов и может быть использовано в магнетронных установках

Изобретение относится к полупроводниковой технике и микроэлектронике и может быть использовано при производстве интегральных схем

Изобретение относится к нанесению покрытий в вакууме и может быть использовано для создания изделий электронной техники, радиотехники, оптики и др

Изобретение относится к пленочной микроэлектронике, в частности к магнетронным устройствам ионно-плазменного нанесения пленок материалов в производстве тонкопленочных элементов интегральных микросхем

Изобретение относится к технологии получения вакуумных покрытий и может быть использовано при нанесении защитных, износостойких и декоративных покрытий, в частности на керамические и стеклянные облицовочные плитки

Изобретение относится к области покрытия металлических материалов, а также других материалов металлическими и диэлектрическими материалами и может быть использовано при разработке устройств для вакуумного нанесения покрытий методом магнетронного распыления, а более конкретно магнитных систем планарного магнетрона в установках вакуумного нанесения покрытия на различные подложки, в том числе на полимерные пленки

Изобретение относится к рентгеновской оптике, в частности, к устройствам для отражения, поворота, деления, фокусировки и монохроматизации потока рентгеновского излучения и может быть использовано для проведения процессов рентгеновкой литографии, рентгеновской микроскопии, рентгеновской спектроскопии, а также в астрономии, физике, биологии, медицине и других областях технике, где используется рентгеновское излучение
Изобретение относится к области нанесения покрытий, в частности к магнетронному распылению электропроводящих покрытий в среде реактивных газов, и может быть использовано для получения прозрачных электродов и прозрачных электрообогревательных элементов

Изобретение относится к области тонкопленочной технологии и предназначено для использования в микроэлектронике и интегральной оптике

Изобретение относится к электрофизике, в частности к системам, служащим для получения потоков частиц, используемых, например, для вакуумного нанесения тонких пленок
Наверх