Устройство для настройки прибора, измеряющего толщину покрытий

 

I86I45

ОПИСАНИЕ

ИЗО ГЕ ЕНИ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Ь;л, 42Ь, 12/03

48а, 5/68

Заявлено 09.И1.1965 (№ 1021389/22-2) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 12.1Х.1966. Бюллетень ¹ 18

Дата опубликования описания 13.Х.1966

МПК 6 Olb

С 23b

УДК 531.717.521:621.

357.7 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытии при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

В. К. Король

Московский опытный завод «Контрольприбор»

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ HACTPOAKH ПРИБОРА, ИЗМЕРЯ К) 1ЦЕГО ТОЛ 1ЦИ НУ П ОКРЬ1ТИ Й

Известны устройства для настройки приборов, измеряющих толщину гальванических покрытий, выполненные в виде специальных эталонов. Эти эталоны представляют собой образцы с нанесенными на пих точными покрытиями определенной толщины. Однако т акие эталоны быстро изнашиваются и снижают точность измерения прибора.

С целью повышения точности измерения и увеличения срока службы прибора, устройство выполнено в виде оправки из изоляционнсго материала с отверстием для датчика и металлического или ферромагнитного регулирующего элемента, надетого на оправку.

На фиг. 1 и 2 схематически изображено предложенное устройство. Оно выполнено в виде оправки 1 из изоляционного материала с отверстиями для датчика 2, на которую надет металлический или ферромагнитный регул ирующий элемент т .

Датчик прибора вставляют внутрь оправки и, перемещая регулирующий элемент по отношению к оправке, добиваются на стрелочном индикаторе прибора тех же показаний, что и при установке на гальваническом покрытии данной толщины. Затем регулирующий элемент закрепляют.

Изготовление таких устройств дешевле и технологически проще, чем изготовление эталонов.

Предмет изобретения

Устройство для настройки прибора, измеряющего толщину покрытий, например гальванических, и действующего на основе вих15 ревых токов, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и увеличения срока службы прибора, оно выполнено в виде оправки из изоляционного материала с отверстием для датчика и металлического или фер20 ромагнитного регулирующего элемента, надетого на оправку.

7 2 3 фиг 1

Составитель Е. Шехтман

Редактор Н. И. Белявская Техред Т. П, Курилко Корректоры: Е. Д. Курдюмова и С. М. Белугина

Заказ 3026 10 Тираж 2350 Формат бум. 00 90 /8 Обьем 0,13 изд. л. 11одписиос

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типографии, пр. Сапунова, 2

Устройство для настройки прибора, измеряющего толщину покрытий Устройство для настройки прибора, измеряющего толщину покрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх