Способ бесконтактного измерения толщины

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в легкой промышленности для автоматизации процесса сортировки кож. Цель изобретения - повышение точности измерений путем исключения погрешностей, вызванных неконтролируемым наклоном объекта. На контролируемый объект с двух противоположных сторон направляют расположенные на одной прямой опорные зондирующие пучки излучения и дополнительный зондирующий пучок, ориентированный параллельно опорным пучкам и расположенный от них на заданном расстоянии. Пучки излучения отражаются от контролируемого объекта и образуют световые пятна в плоскостях изображения оптических систем, установленных соответственно с двух противоположных сторон контролируемого объекта. Замеряют координаты образованных световых пятен, по результатам измерений определяют методом триангуляции длины отрезков опорных и дополнительных пучков от проекций на них центров оптических систем до контролируемого объекта и вычисляют толщину h контролируемого объекта по формуле h=(l1-l2-l3)cos(arctg) где lo - проекция расстояния между центрами оптических систем на линию опорных пучков; l1, l2 - длины отрезков опорных пучков от проекций на них центров соответствующих оптических систем до контролируемого объекта; l3 - длина отрезка дополнительного пучка от проекции на него центра соответствующей оптической системы до контролируемого объекта: d - расстояние между направлениями дополнительного l3 и соответствующего опорного l1 пучков (заранее задано). При контроле подвижных рулонных и листовых материалов располагают дополнительный пучок так, что проходящая через него и опорные пучки плоскость ориентирована параллельно направлению перемещения материала. Способ обладает расширенными технологическими возможностями и позволяет измерять толщину жестких кож в автоматическом режиме. 1 з.п.ф-лы. 2 ил.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в легкой промышленности для автоматизации процесса сортировки кож. Цель изобретения повышение точности измерений путем исключения погрешностей, вызванных неконтролируемым наклоном объекта. На фиг.1 приведена схема устройства, реализующего способ бесконтактного измерения толщины объекта, вариант; на фиг. 2 вывод формульной зависимости для расчета толщины объекта. Измеряемый материал (кожа) 1 подается в зону измерения с помощью валков 2. Верхний лазерный источник 3 направляет пучок излучения на полупрозрачное зеркало 4 и параллельно ему расположенное по ходу луча зеркало 5 к (вместо них можно использовать плоско-параллельную склеенную пластину). Нижний лазерный источник 6 направляет пучок излучения на зеркало 7. Зеркала 5 и 7 направляют по одной прямой верхний и нижний опорные зондирующие пучки (по направлениям I1 и I2 соответственно). Зеркало 4 направляет дополнительный зондирующий пучок по направлению I3 параллельно опорным пучкам. Верхний линейный фотоприемник 9 снабжен оптической системой 10, оптическая ось которой составляет с опорным лучом угол . Подобным образом расположен нижний линейный фотоприемник 11 с оптической системой 12. Расстояние между опорным пучком от зеркала 5 и дополнительным пучком от зеркала 4 равно d. Плоскость, в которой лежат направления I1, I3 и фотоприемник 9, ориентирована параллельно направлению смещения материала 1 валками 2. Способ бесконтактного измерения толщины объектов реализуется следующим образом. Зондирующие пучки, направляемые зеркалами 5, 7, образуют световые пятна на поверхности объекта 1. С помощью оптических систем 10, 12 изображения этих пятен строятся на поверхностях линейных позиционно-чувствительных фотоприемников 9 и 11. По положению этих пятен на поверхности фотоприемника рассчитывают расстояние от точки проекции центра оптической системы на пучок до поверхности объекта по направлению данного пучка. Опорный пучок от зеркала 5 создает изображение пятна на фотоприемнике 9, расположенное на расстоянии п1 от оптической оси. Соответственно дополнительный пучок от зеркала 4 создает изображение с координатой пз. Расстояние до поверхности объекта по направлению опорного пучка I1 и расстояние по направлению дополнительного пучка I3 по координатам изображения точек на фотоприемнике 11, по формулам: где D расстояние от оптического центра системы 10 до опорного пучка. f расстояние от оптического центра системы 10 до фотоприемника 9, - угол наклона оптической оси к направлению пучков, n расстояние изображения светового пятна от оптической оси. Аналогично определяются расстояния I2. Из фиг.2 видно, что определение толщины по опорному пучку. В реальности имеется наклон поверхности под углом к нормали в плоскости верхнего фотоприемника 9. Тогда справедливо выражение: h=(lo-l1-l2)cos Из фиг. 2 следует также, что: Таким образом, по данным измерения I1, I2, I3, рассчитывают толщину h:
Перекрытие полей зрения фотоприемников 9, 11 позволяет обеспечить геометрические условия фиг. 2 при произвольном смещении объекта в направлении пучков. Таким образом, способ позволяет точно измерять толщину при произвольном положении листового материала (кожа), что расширяет возможности метода и позволяет измерять толщину жестких кож в автоматическом режиме.


Формула изобретения

1. Способ бесконтактного измерения толщины объекта, заключающийся в том, что направляют на контролируемый объект с двух противоположных сторон лежащие на одной прямой зондирующие опорные пучки излучения, принимают отраженное от объекта излучение при помощи оптических систем, измеряют координаты каждого светового пятна в плоскости изображений соответствующей оптической системы и по результатам измерений вычисляют толщину объекта методом триангуляции, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения погрешностей, вызванных неконтролируемым наклоном объекта, направляют с одной из сторон на объект дополнительный зондирующий пучок, ориентированный параллельно опорным пучкам и расположенный от них на заданном расстоянии, принимают отраженный контролируемым объектом дополнительный пучок излучения при помощи оптической системы, принимающей соответствующий опорный пучок, измеряют координаты образованного дополнительным пучком светового пятна в плоскости изображений оптической системы, по результатам измерений определяют методом триангуляции длины отрезков опорных и дополнительного пучков от проекций на них центров соответствующих оптических систем до контролируемого объекта и вычисляют толщину h контролируемого объекта по формуле

где l0 проекция расстояния между центрами оптических систем на линию опорных пучков;
l1, l2 длины отрезков опорных пучков от проекций на них центров соответствующих оптических систем до контролируемого объекта;
l3 длина отрезка дополнительного пучка от проекции на него центра соответствующей оптической системы до контролируемого объекта;
d расстояние между направляющими дополнительного l3 и соответствующего опорного l1 пучков (заранее задано). 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений при контроле подвижных рулонных, листовых материалов, располагают дополнительный пучок так, что проходящая через него и опорные пучки плоскость ориентирована параллельно направлению перемещения материала.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в легкой промышленности для автоматизации процесса сортировки кож

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины плоского проката и ленточных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в самолетных системах контроля загрязнения нефтью морской поверхности и в очистных сооружениях портов и промышленных предприятий

Изобретение относится к измерениям с использованием оптичебких средств

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения толщины полупроводниковых слоев (прозрачных пленок) в электронной промышленности, в частности для измерения толщины мембран в тензодатчиках, и может быть использовано в приборостроении и машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении плотности объектов

Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для неразрушающего контроля толщин слоев при изготовлении покрытий на оптических деталях

Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для неразрушающего контроля толщин слоев при изготовлении покрытий на оптических деталях

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх