Способ изготовления омических контактов к моносульфиду самария

 

Использование: изобретение позволяет с высокой воспроизводимостью получать омические контакты к моносульфиду самария (МС) с низким сопротивлением, высокой стабильностью и большим сроком службы. Это важно для МС, чувствительного к механическим деформациям. Сущность: на МС в местах контактных площадок в течение 50 - 100 с со скоростью 10 - 20 в качестве геттера наносят титан. В качестве второго слоя в течение 300 - 400 с со скоростью 10 - 20 наносят никель. Формирование такой двуслойной металлической пленки проводится при 100 - 200°С. 1 ил., 7 табл.

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано при формировании металлизации полупроводниковых приборов на основе моносульфида самария. Цель изобретения уменьшение контактного сопротивления при увеличении стабильности и воспроизводимости характеристик контактов, увеличении срока службы контактов. Авторами изобретения обнаружено, что двухслойное покрытие, нанесенное по способу, описанному выше, обеспечивает контакт, характеризуемый высокой стабильностью и воспроизводимостью параметров, большим сроком службы. Новым по сравнению с прототипом и существенным для реализации способа являются следующие признаки: нанесение металлического покрытия в виде двухслойной металлической пленки; нанесение в качестве первого слоя непосредственно на подложку титана в течение 50-100 с со скоростью 10-20 /с; нанесение в качестве второго слоя никеля в течение 300-400 с со скоростью 10-20 /с; формирование двухслойного покрытия при температуре подложки 100-200оС. Сущность предлагаемого способа состоит в следующем. Моносульфид самария является материалом, очень чувствительным к механическим деформациям. Поэтому при формировании контакта необходимо до минимума уменьшить механические напряжения, возникающие при осаждении металлической пленки контактного материала. Для этого необходимо: 1) использовать пластические материалы; 2) проводить напыление при возможно более низких температурах; 3) исключить циклические термообработки. Кроме этого, моносульфид самария в присутствии кислорода окисляется, ввиду чего необходимо либо резко ограничить контакт с воздухом, либо использовать подслой сильного геттера. В качестве геттера нами использовался слой титана, напыленного со скоростью 10-20 /с в течение 50-100 с. Этот слой обеспечивает хорошую адгезию, низкое сопротивление и стабильность электрофизических характеристик. Геттерное действие титана заключается в снижении парциального давления кислорода при напылении, десорбции хемисорбированного слоя окисла на поверхности моносульфида самария в результате химической реакции с ней титана. Титан обладает также высокими пластическими свойствами. Однако он имеет довольно высокое сопротивление 54 мк Ом см при 20оС. Полученный в результате проведения режимных операций слой титана толщиной от 500 до 2000 при проявлении хороших геттерных свойств имеет небольшое сопротивление. В качестве второго слоя контакта нами выбран никель. Он является пластичным металлом, дает низкое сопротивление при толщинах от 3000 до 8000 , получаемых в результате проведения указанных в формуле режимных операций, не подвержен коррозии, хорошо паяется, при циклических механических нагрузках двухслойная металлизация титан никель не меняет своих электрофизических и механических характеристик. Напыление обоих слоев производится при температурах подложки 100-200оС. При более низких температурах резко ухудшалась адгезия контакта, а при более высоких увеличивается механическое напряжение, оказывающее воздействие на тензорезисторную пленку моносульфида самария. Использование двухслойного нанесения титан-никель позволило получить омический контакт с низким сопротивлением, высокой воспроизводимостью, стабильностью и повышенным ресурсом. Получение контактов по предлагаемому способу проводилось в вакуумной установке УВР-ЗМ при вакууме 510-6 торр. Моносульфид самария SmS напылялся на стеклянную подложку через маску с отверстиями в виде прямоугольников размерами 4х1 мм. Металлическое покрытие напылялось из молибденовых лодочек через маску так, что оставался чувствительный элемент из SmS размером 2х1 мм, а с двух сторон его были образованы контактные площадки 1х1 мм. Сначала через такую маску напылялся титан в течение 35-330 с со скоростью 5-60 /с, а затем никель в течение 130-670 с со скоростью 6-30 /с. Напыление металлов проводилось при температуре 80-240оС. Вольт-амперная характеристика структуры (Ni+Ti)-SmS представлена на чертеже. Здесь же показана зависимость от напряжения V дифференциального наклона в двойном логарифмическом масштабе = dlgJ/dlgV. Такая зависимость позволяет более тонко чувствовать особенности ВАХ и отклонения от омического закона, для которого 1. Из зависимости на чертеже следует, что диапазон омичности контакта от 0,01 В до 3,0 В. В таблице 1 приведены данные исследования влияния режимов напыления Ti при фиксированных режимах напыления никеля (время напыления tNi 350 с, скорость напыления VNi 15 /с, температура напыления Т 150оС) на сопротивление и разброс сопротивления макетов тензорезисторов. Измерение сопротивления макетов тензорезисторов с контактами проводилось при U 1. Для каждого режима определялось среднее значение сопротивления в партии Rобр по формуле Rобр Rобр, где n количество образцов в партии, Rобр сопротивление образца. Отклонение сопротивления R от среднего значения определялось по R [Rобр Rобр)/Rобр] 100% Среднее значение отклонения сопротивления определялось по следующей формуле: R R, Из данных табл.1 следует, что при скорости напыления титана 10-20 /с и времени напыления 50-100 с среднее сопротивление макетов и среднее значение отклонения сопротивления минимальны. В табл.2 приведены данные исследования влияния режимов напыления Ni при фиксированных режимах напыления титана (время напыления tTi 70 с, скорости напыления VTi 15 /с, температура напыления Т 150оС) на сопротивление и разброс сопротивления макетов тензорезисторов. Из данных табл.2 следует, что при скорости напыления никеля 10-20 /с и времени напыления 300-400 с среднее сопротивление макетов и среднее значение отклонения сопротивления минимальны. Исследование температурных режимов нанесения металлизации, приведенное в табл.3, показало диапазон от 100 до 200оС. Ниже приведено сопоставление воспроизводимости макетов тензорезисторов, полученных при металлизации контактов по одной из оптимальных технологий (табл.4) и по неоптимальной технологии (табл.5). Из данных табл. 4 и табл. 5 следует, что неоптимальность только для подслоя титана приводит к снижению воспроизводимости и увеличению сопротивления макетов. Исследование стабильности и срока службы макета тензорезистора с контактами, полученными по оптимальной технологии (VTi 15 /c, tTi 70 c, VNi 15 /c, tNi 350 c, Тподл. 150оС), представлены в табл.6 и табл.7. Здесь Rобр определяется по формуле: Rобр [(Rобр.t Rобр.о)/Rобр.о] 100% где Rобр.о начальное сопротивление образца, Rобр.t текущее сопротивление образца. Из приведенных таблиц видно, что в течение 8 ч уход сопротивления не превысил 0,4% (табл.6). Изменение сопротивления в течение 60 сут не превысило 0,46% (табл.7). Предложенный способ создания омического контакта, сохраняя технико-экономические преимущества способа-прототипа, обладает рядом следующих: более низкое сопротивление, высокая воспроизводимость, большой срок службы, высокая стабильность.

Формула изобретения

СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОМИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ К МОНОСУЛЬФИДУ САМАРИЯ, включающий нанесение металлического покрытия на пленку моносульфида самария, отличающийся тем, что, с целью уменьшения контактного сопротивления, увеличения стабильности и воспроизводимости характеристик, а также повышения срока службы контактов, на пленку моносульфида самария последовательно наносят слой титана в течение 50-100 с, слой никеля в течение 300 400 с, причем слои наносят со скоростью 10 20 при температуре подложки 100 - 200oС.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано в производстве полупроводниковых приборов различного назначения, в частности, при изготовлении межсоединений в транзисторах, интегральных микросхемах и других функциональных тонкопленочных устройствах с повышенными требованиями по адгезии и электросопротивлению

Изобретение относится к электронной технике и предназначено для изготовления полупроводниковых приборов и интегральных схем

Изобретение относится к электронной технике, к технологии селективного осаждения вольфрама, и может быть использовано в производстве сверхбольших интегральных схем

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при создании быстродействующих интегральных схем

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для плазмохимической обработки разводки алюминия и его сплавов при изготовлении интегральных микросхем

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при изготовлении СБИС с двумя уровнями металлизации

Изобретение относится к микроэлектронике и предназначено для изготовления полупроводниковых приборов и интегральных схем

Изобретение относится к MOS полупроводниковому запоминающему устройству, в частности к полупроводниковому устройству, повышающему высокотемпературную стабильность силицида титана, применяемого для изготовления вентильной линии полицида в DRAM (памяти произвольного доступа)

Изобретение относится к области тонкопленочной технологии и предназначено для использования в микроэлектронике и интегральной оптике

Изобретение относится к электронной технике, более конкретно - к технологии производства интегральных схем (ИС) на кремнии, и может быть использовано для изготовления выпрямляющих и омических контактов к мелкозалегающим p-n переходам и межсоединений

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано при изготовлении твердотельных приборов и их электродов

Изобретение относится к плазменной технологии производства изделий микроэлектроники и может быть использовано для процесса металлизации структур с субмикронными размерами элементов

Изобретение относится к области электронной техники, микроэлектроники и может быть использовано для формирования поверхностных омических контактов в тонкопленочных полевых транзисторах, элементах памяти, солнечных элементах на барьере типа Шоттки и др
Наверх