Патент ссср 198692

 

ОПИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

1 л. 42b, 12/03

Заявлено 03.II.1966 (№ 1053157 25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 28.VI.1967. Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 24Х11!.1967

Комитет по делам иаобретений и открытий при Сосете Министров

СССР

МПК G OIb

УДК 531.717.521(088,8) 1:, .4 ; !

: 7!Я(с,."-., !

3 "I >OTE)",т

Автор изобретения

С. А. Спектор

Заявитель

ТОЛ ЩИ НОМЕР

Известен толщиномер для измерения толщины листов из ферромагнитных материалов при одностороннем доступе к измеряемому объекту. Он содержит магнитопровод с обмоткой, питаемой постоянным током, с магнитопроводом контактирует измеряемый лист, и измерительную цепь с усилительным устройством и датчиками Холла, включенными навстречу один другому, напряжение на которых зависит от толщины измеряемого листа.

Предлагаемый толщиномер отличается от известного тем, что на магнитопроводе дополнительно установлена обмотка обратной связи, включенная в измерительную цепь. Она компенсирует изменения магнитного потока при измерениях. Этот толщиномер повышает точность измерения.

На фиг. 1 изображена структурная схема описываемого толщиномера; на фиг. 2 — преобразователь толщиномера с цилиндрическим магнитопроводом.

Толщиномер содержит магнитопровод 1 с двумя воздушными зазорами, куда помещаются датчики Холла ДХ1 и ДХ, обмотку 2, питаемую постоянным током для создания постоянного магнитного поля, измерительную цепь для получения разностной э.д.с. датчиков Холла, усилитель 8 (усилительное устройство) и выпрямитель 4, компенсационную обмотку 5 обратной связи, указывающий прибор б, который непосредственно градуируется в единицах толщины измеряемого объекта (листа) 7.

5 При отсутствии измеряемого объекта магнитная индукция в зазорах с датчиками Холла ДХ>, ДХ одинакова, разность э.д.с. Е, Е> датчиков Холла равна нулю и равен нулю также ток в компенсационной обмотке. При

10 наличии же измеряемого объекта магнитный поток и индукция в воздушном зазоре увеличиваются пропорционально толщине измеряемого объекта, что вызывает появление разностной э.д.с, на входе усилителя и компен15 сирующего постоянного тока в обмотке 5.

Последняя включена таким образом, чтобы создаваемый при ее помощи магнитный поток был бы направлен навстречу основному магнитному потоку, создаваемому обмоткой

20 2 или постоянным магнитом № 5. Ток в компенсационной обмотке увеличивается до тех пор, пока магнитная индукция в воздушных зазорах станет практически одинаковой, а величина тока, измеряемого прибором б, при

25 этом пропорциональна толщине измеряемой детали.

Предмет изобретения

Толщиномер для измерения толщины ли30 стов из ферромагнитных материалов при

198692

C>l/3. /

Составитель Г. Ф. Корчагина

Редактор Л. М, )Каворонкова Текред Л. Я, Бриккер Корректорь В. В. Крылова и Е. Ф. Полионова

Заказ 2710 9 Тира>к 535 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 одностороннем доступе к измеряемому объекту, содержащий магнитопровод с обмоткой, питаемой постоянным током, с которым контактирует измеряемый лист, и измерительную цепь с усилительным устройством и датчиками Холла, включенными навстречу один другому, напряжение на которых зависит от толщины измеряемого листа, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, на магнитопроводе дополнительно установлена включенная в измерительную цепь обмотка обратной связи, которая компенсирует изменения магнитного потока, возникающие при наличии измеряемого объекта.

Патент ссср 198692 Патент ссср 198692 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх