Устройство для наблюдения доменной структуры тонких ферромагнитных пленок

 

2OI54I

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Саветских

Социалистических

Респуолик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 21е, 37/10

21д, 37/01

Заявлено 02.Х1.1965 (№ 1035275/26-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Комитет по полам иаоСретений и открытий при Совете Министров

СССР

Л 1ПК G 01г

Н Oi

УДК 539.25:538.245 (088,8) Опубликовано 08.1Х.1967, Бюллетень №18

Дата опубликования описания 21.XI.19б7

Авторы изобретения

Г. В. Спивак, О. П. Павлюченко и В. И. Петров

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ ДОМЕННОЙ СТРУКТУРЫ

ТОНКИХ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ПЛЕНОК

Известны устройства для наблюдения доменной структуры тонких ферромагнитных пленок, выполненные в виде просвечивающего электронного микроскопа, работающего по методу расфокусированного теневого изображения и позволяющего наблюдать изображение статической доменной структуры, Описываемое устройство для наблюдения доменной структуры тонких ферромагнитных пленок отличается от известных тем, что намагничивающие катушки, размещенные в колонне микроскопа, питаются через резонансный усилитель от генератора синусоидального напряжения, подключенного через фазовращатель-усилитель к генератору прямоугольных строб-импульсов, причем выход последнего соединен с одним из входов осциллографа, на другой вход которого подано напряжение с указанных выше намагничивающих катушек, и с катодом и модулятором электронной пушки микроскопа через разделительный трансформатор, вторичная обмотка которого включена последовательно с батареей, запирающей электронную пушку микроскопа.

Это отличие позволяет получить резкое неподвижное изображение доменной структуры тонкой ферромагнитной пленки на определенной стадии быстрого перемагничивания, На чертеже представлена блок-схема описы в а ем ого уст р ой ств а.

Для наблюдения доменной структуры тонких ферромагнитных пленок во время быстрого пер емагничивания в просвечивающем электронном микроскопе 1 синусоидальное напряжение генератора 2 усиливается резонансным усилителем 8, в контур которого наряду с высокодобротной катушкой 4 включены находящиеся в колонне микроскопа перемагничивающие катушки 5, чем достигается

10 необходимая амплитуда переменного магнитного поля на образце б, которая регулируется изменением усиления усилителя 8 или расстройкой колебательного контура 7. Параллельно синусоидальное напряжение с генератора

15 2 через фазовращатель-усилитель 8 запускает в генератор 9 прямоугольные строб-импульсы, которые через импульсный трансформатор

10 поступают на модулятор 11 и отпирают электронную пушку 12, запертую напряжени20 ем батареи И, приложенным между катодом 14 и модулятором 11. Конденсатор 15 шунтирует батарею 13 по переменной составляющей, сопротивление lб — согласующее.

Определение момента наблюдения по отно25 шению к перемагничивающему процессу производится по осциллографу 17, для чего на клеммы 18 модулятора осциллографа 17 подается напряжение с генератора строб-импульсов 9, а перемагничивающее синусои30 дальное напряжение подается на клеммы 19 з вертикального усилителя осциллографа 17.

Изменение сдвига фазы в фазовращателе 8 позволяет наблюдать доменную структуру тонких ферромагнитных пленок на разных стадиях процесса перемагничивания при различных мгновенных значениях перемагничивающего поля. Резкость получаемых изображений зависит от скважности строб-импульсов и от степени повторяемости доменной структуры при перемагничивании, улучшаясь с уменьшением перемагничивающих полей.

Предмет изобретения

Устройство для наблюдения доменной структуры тонких ферромагнитных пленок, содержащее просвечивающий электронный микроскоп, отличающееся тем, что, с целью

201541 получения резкого неподвижного изображения доменной структуры на определенной стадии быстрого перемагничивания, намагничивающие катушки, размещенные в колонне

5 микроскопа, питаются через резонансный усилитель от генератора синусоидального напряжения, подключенного через фазовращательусилитель к генератору прямоугольных стробимпульсов, причем выход последнего соединен

10 с одним из входов осциллографа, на другой вход которого подано напряжение с указанных выше намагничивающих катушек, и с катодом и модулятором электронной пушки микроскопа через разделительный трансфор15 матор, вторичная обмотка которого включена последовательно с батареей, запирающей электронную пушку микроскопа.

Составитель С. С. Лукинская

Редактор В, Д. Пенькова Техред Т, П. Курилко Корректоры: О. Б. Тюрина и М. П. Ромашова

Заказ 3463/2 Тираж 535 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Севова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, д. 2

Устройство для наблюдения доменной структуры тонких ферромагнитных пленок Устройство для наблюдения доменной структуры тонких ферромагнитных пленок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю с использованием рентгеновского излучения и может быть использовано для контроля материалов и изделий радиационным методом в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии объекта и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта контроля и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к области радиационной техники, в частности к способам поперечной компьютерной томографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов

Изобретение относится к области дефектоскопии, в частности к неразрушающему контролю качества кольцевых сварных швов магистральных трубопроводов методом панорамного просвечивания проникающим излучением, и может быть эффективно использовано при строительстве газо- и нефтепроводов или их ремонте

Изобретение относится к компьютерной томографии, основанной на получении изображения объекта по малоугловому рассеянному излучению

Изобретение относится к устройствам для рентгеновских исследований с использованием малоуглового рассеянного излучения
Изобретение относится к области технологии коллиматоров, применяемых в гамма-камерах и других радиационных приборах

Изобретение относится к области дефектоскопии, в частности к неразрушающему контролю качества кольцевых сварных швов магистральных трубопроводов способом просвечивания проникающим излучением, и может быть использовано при строительстве газопроводов и нефтепроводов или их ремонте, находящихся под водой
Наверх