Устройство для измерения толщины пленок

 

Изобретение относится к технике неразрушающих методов контроля и может быть использовано для измерения толщины электропроводящего покрытия на диэлектрическом основании и толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании. С целью расширения диапазона измерения толщин пленок в устройстве, содержащем источник 1 питания, генератор 2 сигналов, резисторы 3 . . . 7, конденсаторы 8 ... 13, диоды 14, 15, транзистор 16, индуктивный датчик 17, дроссель 18, индикатор 19, шину 20 нулевого потенциала, использована схема генератора 2, позволяющая эффективно использовать усилительные свойства транзистора 16 при преобразовании амплитуды возникающих колебаний в постоянный сигнал, подаваемый на индикатор 19 с выхода амплитудного детектора, реализованного на диодах 14, 15 и резисторе 5. 1 ил.

Изобретение относится к технике неразрушающих методов контроля и может быть использовано для измерения толщины электропроводящего покрытия на диэлектрическом основании и толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании.

Цель изобретения - расширение диапазона измерения за счет использования схемы включения генератора сигнала, в которой эффективно проявляются усилительные свойства транзистора.

На чертеже приведена блок-схема устройства.

Устройство содержит источник 1 питания, генератор 2 сигналов, в состав которого входят резисторы 3, 4, 5, 6, 7 конденсаторы 8, 9, 10, 11, 12, 13, диоды 14, 15, транзистор 16, индуктивный датчик 17, дроссель 18, а также индикатор 19 и шину 20 нулевого потенциала. Выводы датчика 17 подключены к конденсатору 9, резонансная частота полученного параллельного колебательного контура определяет частоту сигнала генератора 2, выход которого подключен к индикатору 19.

Устройство работает следующим образом.

Электромагнитное поле индуктивности датчика 17, по которому протекает переменный ток, взаимодействуя с электропроводящим объектом, изменяет полное электрическое сопротивление датчика 17 и напряжение на резонансном контуре, подключенном к базе транзистора 16. Это изменение переменного напряжения пропорционального толщине электропроводящего объекта. Для выделения приращения переменного напряжения при воздействии на датчик 17 электропроводящего объекта и преобразования результата к виду, удобному для регистрации, эмиттерная цепь транзистора 16 выполнена так, что постоянный ток коллектора протекает через дроссель 18 и резистор 4, а переменная составляющая тока усиленная транзистором 16, протекает через параллельные цепи, образованные диодом 14, конденсатором 11 и диодом 15, конденсатором 12, преобразуется в постоянную составляющую и с резистора 5 подается на индикатор 19. Конденсаторы 11, 12 совместно с резистором 5 выполняют роль сглаживающего фильтра.

Формула изобретения

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК, содержащее источник питания, транзистор, индуктивный датчик, два диода, три резистора, четыре конденсатора, индикатор, шину нулевого потенциала, первый вывод источника питания подключен к первому выводу первого резистора, первый вывод индуктивного датчика подключен к первому выводу первого конденсатора, первый вывод второго конденсатора подключен к аноду первого диода и катоду второго диода, катод первого диода через второй резистор подключен к аноду второго диода, первый вывод третьего конденсатора подключен к шине нулевого потенциала, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона измерения, в него введены дроссель, два дополнительных резистора и два дополнительных конденсатора, второй вывод первого резистора подключен к коллектору транзистора, эмиттер которого подключен к первому выводу второго конденсатора, второму выводу третьего конденсатора и через последовательно соединенные дроссель и третий резистор - к шине нулевого потенциала и первым выводом первого и второго дополнительного конденсаторов, вторые выводы которых подключены соответственно к катоду первого диода, первому входу индикатора и аноду второго диода, второму входу индикатора, второй вывод индуктивного датчика подключен к второму выводу первого конденсатора и через четвертый конденсатор - к второму выводу второго конденсатора, базе транзистора и первым выводам первого и второго дополнительных резисторов, вторые выводы которых подключены соответственно к первому выводу источника питания и первому выводу конденсатора, шина нулевого потенциала подключена к второму выводу источника питания и первому выводу первого конденсатора.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и повышает точность измерения за счет учета количества паров воды в газособирающем сосуде и сокращения временных интервалов в течение которых информация о снимаемом слое отсутствует

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в металлургическом производстве для контроля геометрических параметров поперечного сечения металлических труб

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения толщины покрытий неразрушающим электромагнитным методом

Изобретение относится к средствам контроля толщины покрытий и может быть использовано в неразрушающем контроле ферромагнитных материалов для измерения толщины упрочненного слоя

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины гальванических покрытий

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины различных покрытий на металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено в системах автоматического неразрушающего контроля толщины защитных покрытий изделий , используемых в машиностроительной , авиационной, радиотехнической, строительной и других отраслях промышленности

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх