Устройство для измерения радиуса кривизны полированных полупроводниковых пластин
Изобретение предназначено для измерения радиуса кривизны полированных полупроводниковых пластин. Цель изобретения расширение диапазона измерений. С помощью микроскопа измеряют расстояние между световыми точками, являющимися проекциями на экран разделенных лучей, отраженных поочередно от исследуемой и эталонной пластин, располагаемых в держателе, установленном между системой призм, предназначенной для раздваивания лучей и экраном, и выполненным с теплообменником. 1 з. п. ф-лы, 1 ил.
Изобретение относится к устройствам для измерения радиусов кривизны пластин с зеркальными поверхностями, преимущественно полупроводниковых пластин.
Известно устройство для измерения радиуса кривизны полированных полупроводниковых пластин, содержащее корпус и установленные в нем узконаправленный источник света, систему призм, предназначенную для раздваивания лучей, держатель пластин и экран (1). Недостаток устройства ограниченный диапазон измерений, связанный с невозможностью измерения выпуклых поверхностей с большим радиусом кривизны. Цель изобретения расширение диапазона измерений. Для достижения цели устройство снабжено установленным с возможностью перемещения вдоль экрана микроскопом, а держатель пластин размещен по ходу лучей между системой призм и экраном. Кроме того, держатель пластины установлен горизонтально и выполнен с теплообменником. На чертеже изображено устройство для измерения радиуса кривизны полированных полупроводниковых пластин, содержащее корпус 1 с установленными в нем узконаправленным, например лазерным, источником 2 света, поляризатором 3, регулирующим его интенсивность, систему призм 4, 5, предназначенную для раздваивания лучей с приспособлением для линейного перемещения и разворота одной относительно другой, держатель 6 с теплообменником 7 в термостатированной камере 8 с прозрачным окном 9, полупрозрачный экран 10 для измерения расстояния А и В между двумя световыми точками проекциями лучей, отраженных поочередно от исследуемой и эталонной пластин 13 и 14 соответственно. Устройство работает следующим образом. Луч источника 2 через поляризатор 3 направляется на призмы 4 и 5, проходя через которые он раздваивается и оба луча направляются поочередно с помощью передвижения держателя 6 на поверхность эталонной и исследуемой пластин 14 и 13, соответственно, отражаясь от которых, лучи попадают на экран 10 и проектируются на нем в виде световых точек, расстояние А и В между которыми измеряется с помощью микроскопа 11. Радиус кривизны поверхности пластин определяется разностью расстояний Б-А между световыми точками при отражении от исследуемой и эталонной пластин 13 и 14. Чем больше эта разность, тем меньше радиус кривизны пластины 13. По знаку разности определяется характер кривизны поверхности пластин 13: выпуклая или вогнутая. При положительной разности поверхность пластины 13 выпуклая, при отрицательной вогнутая. Устройство позволяет измерять пластины с большими радиусом кривизны и проводить измерения при заданной температуре.Формула изобретения
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАДИУСА КРИВИЗНЫ ПОЛИРОВАННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН, содержащее корпус и установленные в нем узконаправленный источник света, систему призм, предназначенную для раздваивания лучей, держатель пластин и экран, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона измерений, оно снабжено установленным с возможностью перемещения вдоль поверхности экрана микроскопом с микрометрическим механизмом, а держатель пластин размещен по ходу лучей между системой призм и экраном. 2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что держатель пластин установлен горизонтально и выполнен с теплообменником.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Изобретение относится к измерительной технике, а именно оптике и технической физике, служащей для неразрушающего контроля промышленных изделий, и может быть использовано в машиностроении, приборостроении, оптической промышленности для контроля качества продукции
Изобретение относится к приборам и устройствам для обмера и контроля формы и размеров объекта, преимущественно стоп
Изобретение относится к области измерения и контроля параметров и формы изделий машиностроения, энергомашиностроения с чистотой поверхности, обеспечивающей зеркальный и зеркально-диффузный характер отраженного светового излучения
Изобретение относится к области измерения и контроля точности изготовления изделий с чистотой поверхности, обеспечивающей зеркальный и зеркально-диффузный характер отраженного светового излучения
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для контроля непрямолинейности, неплоскостности оптическим методом, и предназначено для контроля поверхностей круногабаритных объектов, а также для установки ряда объектов относительно референтной плоскости в станкостроении, судостроении, энергомашиностроении и других отраслях промышленности
Устройство для контроля формы поверхности // 1839848
Изобретение относится к авиационной космической технике, а именно к средствам контроля качества аэродинамической поверхности, и может быть использовано в процессах контроля контура аэродинамических поверхностей, образованных наружными поверхностями двух рядом расположенных элементов теплозащитной изоляции
Способ определения профиля сечения объекта // 1835485
Изобретение относится к анализу пространственных характеристик объектов, преимущественно к активным способам определения сечений по видеоинформации
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей , в частности пробных стекол
Устройство для контроля положения объекта // 1820203
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и используется для одновременного измерения угловых и линейных перемещений объекта в пространстве относительно неподвижной системы координат
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов
Способ контроля формы оптической поверхности // 2107903
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса