Способ рентгенофлуоресцентного определения пробы золота

 

Способ рентгенофлуоресцентного определения пробы золота ювелирных изделий, включающий размещение исследуемого объекта в потоке рентгеновского излучения трубки с анодом из молибдена или родия, измерение спектра характеристического излучения на полупроводниковом детекторе либо на кристалланализаторе и последующий его анализ для установления пробы золота, отличающийся тем, что в качестве исследуемого объекта используют натир ювелирного изделия на пробирном камне в виде слоя поверхностной плотности m 0,05, г/см2, где - массовый коэффициент поглощения излучения анода рентгеновской трубки и характеристического излучения аналитической линии золота в материале изделия, см2/г, в качестве аналитической линии для золота выбирают L1 линию и определяют по результатам измерения спектра характеристического излучения элементов натира пробу золота по формуле где CAu - проба золота в ювелирном изделии; K - коэффициент размерности пробы золота; IAu - интенсивность потока фотонов аналитической линии (L1) золота в спектре характеристического излучения натира изделия; Ij - интенсивности всех присутствующих аналитических линий сопутствующих элементов в спектре характеристического излучения натира изделия; aoAu, aoAu - коэффициенты, постоянные для данной измерительной установки, определяемые регрессионным способом по результатам измерений натиров стандартных образцов многокомпонентных ювелирных сплавов.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к аналитической химии, в частности к рентгеноспектральному анализу материалов

Изобретение относится к рентгенофлуоресцентному анализу и может быть использовано при изучении поверхностного распределения содержаний элементов и толщин излучателей

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх