Микроскоп для измерения отражательной способности образца

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сова Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 42h, 14, 01

Заявлено 27,XI ll.1966 (№ 1121310/26-10) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 12 11!.1968. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 22.V.1968

МП1 6 02d

УДК 535.822.8(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Л. С. Агроскин

Заявитель

МИКРОСКОП ДЛЯ ИЗМЕРЕН ИЯ ОТРАЖАТЕЛЬНОЙ

СПОСОЬНОСТИ ОБРАЗЦА

Известные микроскопы для измерения отражательной способности образца, содержащие ветвь сравнения и измерительную ветвь с осветителем, объективом и регистрирующим приспособлением, не позволяют получить абсолютное значение отражательной способности образца и одновременно повысить точность измерения.

Предложенный микроскоп отличается от известных тем, что вго ветвь сравнения выполнена из отражательных элементов и двух встречно установленных объективов, идентичных одноименным элементам измерительной ветви, а .перед осветителем размещено разделительное приспособление, например установленная с возможностью качания вокруг оси, перпендикулярной оси освещающего пучка, плоскопараллельная, прозрачная пластинка, направляющая освещающий пучок попеременно в измерительную ветвь и ветвь сравнения.

1-1а чертеже дана принципиальная оптическая схема микроскопа.

Световой пучок из монохроматора 1 с помощью ахроматической линзы 2 и толстой наклонной пластинки 3 направляется в опак-иллюминатор микроскопа, где прямоугольная призма 4 отклоняет его в сторону микрооб.ьектива 5. Выходное отверстие б монохроматора, расположенное в фокусе линзы 2, изображается при этом микрообъективом 5 на поверхности исследуемого образца 7 в виде светового зонда (в схеме работают микрообъективы, рассчитанные на длину тубуса

«бесконечность»), Призма 4 расположена вблизи зрачка микрообъектива и занимает его половину.

Форма и размеры светового пучка, входящего в опак-иллюминатор, регулируются диаф10 рагмой 8, ограничивающей действующее отверстие монохроматора.

Отраженный от образца световой поток выходит из свободной части зрачка микрообъектива 5 в виде параллельного пучка и с

15 помощью линзы 9, пары призм 10 и 11 направляется,на приемник 12. При этом изображение выходного зр ачка микрообъектива образуется на поверхности фотокатода.

Для наблюдения и выбора фотометрируе20 лого участка применен дополнительный осветитель 18, включаемый призмой 14, и визуальная головка 15 с призмой 16. При необходимости в ход лучей могут быть введены поляризатор 17 и анализатор 18.

25 Ветвь сравнения образуют два установленных навстречу друг другу микрообъектива

19 и 20, идентичные рабочему объективу 5, вторая зрачковая призма 21, а также детали

22, 23 и 24, ана.погичные по конструкции и

30 назначению соответствующим деталям рабо2l3376

Предмет изобретения

t l

Составитель В. Ф. Ванторин

Редактор Л. А. Утехина Техред Л. Я. Бриккер Корректоры: Л. В. Наделяева и С. Ф. Гоптаренко

Заказ 1054/4 Тираж 500 Подписное

ЦИНИПИ Комитета по делам изооретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 чей ветви. Световой пучок в ветвь сравнения попадает при повороте пластинки 8, когда он перемещается параллельно самому себе ниже призмы 4.

При качании пластинки 8 монохроматический пучок попеременно попадает в обе ветви, а значит и на приемник. От ношение сигналов, которые можно выделить при соответствующей электрической коммутации, дает абсолютное значение отражательной способности исследуемого образца. При непрерывном изменении спектрального состава излучения, выходящсго из монохроматора, регистрирующий прибор может воспроизводить кривую абсолютной дисперсии отражательной 15 способности.

Этот эффект достигается благодаря выравниванию энергетических характеристик обеих ветвей (двойное прохождение света через однотипные микрообъективы, одинаковые 20 преломляющие и отражающие элементы, например призмы внутреннего отражения), а также благодаря использованию в обеих ветвях одного и того же начального потока.

Уменьшению уровня рассеянного света спо- 25 собствуют: освещение образца монохроматическим светом, зондовое освещение интересующего участка, применение опак-иллюминатора с призмой, работающей на половину зрачка, и попеременное освещение рабочей ветви и ветви сравнения.

Микроскоп для измерения отражательной способности образца, работающий по двухлучевому принципу, содержащий ветвь сравнения и измерительную ветвь с осветителем, объективом и регистрирующим приспособлением, оТ.:ãè÷àþãèèéñÿ тем, что, с целью получения абсолютного значения отражательной способности с одновременным повышением точности измерения, ветвь сравнения выполнена из отражательных элементов и двух встречно установленных объективов, идентичных одноименным элементам измерительной ветви, а перед осветителем размещено разделительное приспособление, например, установленная с возможностью качания вокруг оси, перпендикулярной оси освещающего пучка, плоскопараллельная прозрачная пластинка, направляющая освещающий пучок попеременно в измерительную ветвь и ветвь сравнения.

Микроскоп для измерения отражательной способности образца Микроскоп для измерения отражательной способности образца 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Изобретение относится к оптическим приборам, в частности к микроскопам, предназначенным для получения изображений следов на патронных гильзах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности, для идентификационных исследований в области криминалистики

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Изобретение относится к прикладной оптике и может быть использовано в оптическом приборостроении, в частности в микроскопии

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Микроскоп // 377714
Наверх