Способ контроля качества соединений цифровых кмоп-устройств


G01R31 - Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R 1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H 71/04,H01H 73/12, H02B 11/10,H02H 3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L 21/66; испытание линий передачи энергии H04B 3/46)

 

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при допусковом контроле КМОП-устройств, а также при их диагностировании в процессе эксплуатации. Сущность изобретения заключается в том, что качество соединений КМОП-устройств контролируют по изменению среднего значения тока, потребляемого ими, относительно значения начального тока при воздействии электрической наводки на плате контролируемого КМОП-устройства путем его размещения в зазоре электромагнита, через катушку которого пропускают токовый сигнал гармонической формы. О качестве соединений КМОП-устройств судят по изменению среднего значения тока, потребляемого КМОП-устройством, относительно значения начального тока. Техническим результатом изобретения является упрощение и сокращение времени процесса допускового контроля. 3 ил.

Способ контроля качества соединений цифровых КМОП-устройств.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при допусковом контроле качества изготовления КМОП-устройств, а также при диагностировании КМОП-устройств.

Известные способы контроля качества соединений КМОП-устройств основаны на формировании входного возбуждающего сигнала импульсной формы и сравнении выходного кода с эталонным, например, с помощью логического анализатора (Кредендер Б. П. , Жердев П.К., Лучко Н.Н. Способ контроля логических схем. Авторское свидетельство СССР 840770, кл. G 01 R 31/28, опубл. 23.06.81 г., бюллетень 23; Кузнецов В. А. Измерения в электронике: Справочник. - М.: Энергоатомиздат, 1987 г.-С. 486-490).

Недостаток указанного способа заключается в сложности систем контроля, в большом объеме избыточной информации и малой производительности.

Известен также способ контроля, основанный на одновременной подаче возбуждающего импульсного сигнала на входы одинаковых плат контролируемого и образцового устройства и оценке идентичности их выходных сигналов (Кузнецов В.А. Измерения в электронике: Справочник. - М.: Энергоатомиздат, 1987 г.- С. 491).

Недостатком такого способа контроля является сложность и низкая производительность, так как время контроля увеличивается пропорционально сложности аппаратуры.

Наиболее близким по технической сущности является способ контроля качества цифровых устройств, основанный на формировании возбуждающего сигнала, подаваемого на входы контролируемого устройства, и сравнении выходного кода с заданным или известным значением (Калявин В.П., Мозгалевский А.В., Галка В.Л. Надежность и техническая диагностика судового электрооборудования и автоматики. -СПб.: Элмор, 1996 г.-C.89).

Недостатком этого способа является трудоемкость процесса контроля и сложность контролирующей аппаратуры, причем достоверность контроля понижается при возрастании количества входов устройства из-за влияния коммуникационных устройств или разъемов, через которые возбуждающий сигнал подводится к входам остальных микросхем.

Техническая задача изобретения - упростить и облегчить процесс допускового контроля.

Это достигается тем, что в способе контроля качества соединений цифровых КМОП-устройств предварительно измеряют начальный ток, потребляемый КМОП-устройством, формируют токовый сигнал гармонической формы, который пропускают через катушку электромагнита, размещают контролируемое КМОП-устройство в зазоре электромагнита для обеспечения электрической наводки на плате контролируемого КМОП-устройства, затем повторно измеряют ток потребляемый контролируемым КМОП-устройством, и судят о качестве соединений по изменению среднего значения тока, потребляемого КМОП-устройством, относительно значения начального тока.

На фиг.1 показана схема, реализующая способ контроля качества соединений цифровых КМОП-устройств; на фиг.2 - принципиальная схема логического инвертора, используемого в качестве примера КМОП-устройства; на фиг.3 - график зависимости сквозного тока Iск - протекающего через транзисторы инвертора, от входного напряжения UВХ.

Устройство, реализующее способ контроля качества соединений цифровых КМОП-устройств, включает источник синусоидальных колебаний 1, подключенный к катушке 2 электромагнита 3, сердечник которого имеет зазор, в котором размещена плата 4 с КМОП-микросхемами 5, подключенная к блоку питания 6 через микроамперметр 7.

В соответствии с предложенным способом устройство работает следующим образом. На катушку 2, размещенную на сердечнике 3 электромагнита, подается ток возбуждения от источника синусоидальных колебаний 1. Переменный ток, протекающий по обмотке 2, возбуждает в электромагните переменный магнитный поток Ф, который проходит через зазор с находящейся в нем контролируемой платой 4 с КМОП-микросхемами 5. При этом наводится напряжение UBX на входах логических микросхем 5, каждая из которых содержит МДП-транзистор с индуцированным n-каналом VT1 и МДП-транзистор с р-каналом VT2 (фиг.2). При изменении входного напряжения UBX от нулевого до порогового уровня UПОР2 транзистор VT1 открыт, а транзистор VT2 находится в закрытом состоянии, и потребляемая КМОП-устройствами мощность определяется только обратным током IОБР охранных диодов VD1 - VD3, служащих для защиты входа микросхемы от пробоя электрическим зарядом. При уменьшении напряжения UBX от уровня напряжения питания UП до уровня UПОР1 закрыт транзистор VT1, а VT2 находится в открытом состоянии.

Уровни открывания транзисторов VT1, VT2 практически не зависят от напряжения питания UП=(3...15)B и для микросхем К561, 564 и К176 серий составляют UПОР2=(0,8...0,9) В и UП-UПОР1=(1,1... 1,2) В.

При UПОР2<U<U - UПОР1 транзисторы VT1, VT2 (фиг.2) находятся в открытом состоянии и через них протекает сквозной ток IСК, достигающий максимального значения при UBX UП/2. Максимальное значение IМАКС сквозного тока (фиг.3) нелинейно зависит от напряжения питания и типа логического элемента, а изменение питающего напряжения UП в диапазоне от 3 до 15 В приводит к возрастанию IМАКС от единиц - сотен микроампер до (10...15) мА. Учитывая типовые свойства КМОП-устройств контроль качества соединений предложенным способом проводится в два этапа. Сначала на плату 4 с КМОП-устройством подают напряжение питания от источника 6 и микроамперметром 7 измеряют начальный ток, потребляемый КМОП-устройством IП.НАЧ.. Затем контролируемую плату 4 размещают между полюсами сердечника 3 электромагнита, на обмотку 2 которого подают токовый сигнал от источника 1. При этом в платах со 100%-ным качеством соединений входные сопротивления всех КМОП-элементов зашунтированы малыми выходными сопротивлениями других микросхем, либо низкими выходными сопротивлениями источников логических сигналов, размещенных на плате 4 КМОП-устройства, поэтому наводимое напряжение UBX мало и не превышает порога открывания КМОП-элементов. При отсутствии хотя бы одного соединения на плате КМОП-устройства входное сопротивление отключенного КМОП-элемента возрастает до десятков МОм. Поэтому резко возрастает амплитуда напряжения UBX, наводимого на разомкнутом входе микросхемы, значение которого может превышать напряжение питания UП. В процессе изменения UBX пo синусоидальному закону, при значении UПОР2<U<U - UПОР1 через микросхему протекают импульсы сквозного тока IСК. Это приводит к увеличению среднего значения тока, потребляемого КМОП-устройством, который измеряется микроамперметром 7, по изменению показаний микроамперметра относительно исходного значения IП.НАЧ. можно судить об отсутствии соединений на плате.

При построении устройства, реализующего предложенный способ, в качестве электромагнита можно использовать обычный сетевой трансформатор с разомкнутым магнитопроводом и использовать типовые источники постоянного и переменного напряжения и цифровой микроамперметр, например, типа D 830 В.

Формула изобретения

Способ контроля качества соединений цифровых КМОП-устройств, основанный на формировании сигнала, который подают на контролируемое КМОП-устройство, отличающийся тем, что предварительно измеряют начальный ток, потребляемый КМОП-устройством, формируют токовый сигнал гармонической формы, который пропускают через катушку электромагнита, размещают контролируемое КМОП-устройство в зазоре электромагнита для обеспечения электрической наводки на плате контролируемого КМОП-устройства, затем повторно измеряют ток, потребляемый контролируемым КМОП-устройством, и судят о качестве соединений по изменению среднего значения тока, потребляемого КМОП-устройством относительно значения начального тока.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам тестирования интегральных схем

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования судовых электрических средств автоматизации

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано на действующих технологических процессах предприятий, где необходим контроль достоверности показаний термодатчиков и контроль цепей измерения температур

Изобретение относится к схемам, которые используют структуру JTAG для сканирования поверхности раздела, в частности, к схемам, имеющим выход тракта передачи дискретных данных, управляемый посредством тестового регистра JTAG

Изобретение относится к области тестирования трактов передачи дискретных данных на печатной плате и может быть использовано для тестирования целостности двухточечных соединений на монтажной плате с использованием стандарта Международной объединенной группы по автоматизации тестирования (JTAG)

Изобретение относится к электронной технике, преимущественно для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества изготовления цифровых интегральных микросхем и оценки их температурных запасов

Изобретение относится к микроэлектронике и предназначено для разбраковки изделий электронной техники по заранее заданным уровням стойкости или надежности

Изобретение относится к устройствам тестирования интегральных схем

Изобретение относится к области электровакуумных приборов, в частности к разработке и изготовлению вакуумных флуоресцентных дисплеев (ВФД) в части измерения их электрических характеристик

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования судовых электрических средств автоматизации

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано на действующих технологических процессах предприятий, где необходим контроль достоверности показаний термодатчиков и контроль цепей измерения температур

Изобретение относится к разряднику защиты от перенапряжений для высокого или среднего напряжения

Изобретение относится к электротехнике, микропроцессорной технике и системам сбора, обработки и отображения информации и может быть использовано в системах центральной сигнализации электрических подстанций, оборудованных цифровыми или электрическими устройствами релейной защиты и автоматики, в различных отраслях ТЭК и промышленности

Изобретение относится к области электротехники и предназначено для диагностики и контроля состояния изоляции между листами электротехнической стали сердечников статоров электрических машин переменного тока

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано, в частности для проверки качества нескольких образцов поливинилхлоридной (ПФХ) изоляции электрических проводов и кабелей

Изобретение относится к электроиспытательной технике и может быть использовано для испытаний на исправность электрических мостиков пиросредств изделий ракетно-космической техники (РКТ), относящихся к особо опасным цепям, а также целостности цепей термопар, реле давлений, замкнутых электрических контуров и жил кабелей

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано для проверки работоспособности максимальных расцепителей тока автоматических выключателей
Наверх