Устройство для испытания электроннолучевых приборов на механическую устойчивость

 

ОП ИСАНИ Е 2

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ .

Союз Советскиз

Сопиалистическил

Республин " л а 4с.Р

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 22.Х1.1967 (№ 1198730/26-25) Кл. 21g, 13/28 с присоединением заявки ¹

МПК H Olj

УДК 621.385.832 (088.8) Приоритет

Опубликовано 10.1.1969. Бюллетень ¹ 4

Дата опубликования описания 22Х.1969

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

В. А. Линов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ

ПРИБОРОВ НА МЕХАНИЧЕСКУЮ УСТОЙЧИВОСТЬ

Известно устройство для испытания электроннолучевых приборов на механическую устойчивость, основанное Hа наблюдении перемещения пятна на экране прибора QTHocIITe;Ir»но оболочки, содержащее объект:!в, закрепленный неподвижно относительно оболочки испытываемого прибора па расстоянии большем, чем фокусное расстояние объектива, причем и прибор, и объектив расположены на вибрациоином столе, я также индикаторную часть, выполненную, например, в виде проекционного экрана.

Чтобы уменьшить влияние перемещений стола испытательного стенда, необходимо обеспечить значительное увеличение пятна, проецируемого на экран, что в свою очередь приводит к необходимости раоотать при больших токах электронного пучка, а это снижает точность измерений, яркость же изображения получается крайне низкой, В связи с чем необходимо тщательно затемня1ь помещение.

Предложенное устройство отличается от изВестного тем, что фокяльняя плосlеость ООъектива совмещена с плоскостью наблюдаемого пятна, а индикаторная часть выполнена в виде настраиваемого на бесконечность визирного устройства, расположенного на отдельном столе.

Это позволяет весги испытания при размерах пятна на экране трубки О,1 — 0,5 лл и оонаруживать дрожание пятна меньшее 0,3 лл.

Ha rcpTeJI e ir3oop3iIIcHo lIpez,loIIiciiHoe устройство.

ОоъектиВ 1 неподВ11 Ir«lo aal peH lcrr oxrroclrтельно оболочки испытываемого прибора 2, причем и объектив, и прибор расположены па общем вибрациониом столе 8. Фокальная п loскость объект;!ва совмещена с плоскостью пятна на экра«с электро«нолучевого прибора.

10 Индикаторная часть в виде настраиваемого на бесконечность визирно1о устройства 4 расположена иа отдель!1ом столе 5.

15 Предмет изобретения стройство для испытания электроннолучеВЫ., HPIIOOPOB H3 1ЕХ311ИЧЕС1Л IO 3 СТОИЧИВОСТЪ, основанное иа:!аблюдеиии перемещений пят20 на на экране элскrpo«Hcлучевого прибора относительно оболочки прибора. содержащее объектив, закрепленныи неподвижно относительно оболочки испытываемого прибора, причем и объектив, и испытываемый прибор рас25 положены 13 общем вибрац1юпном столе, индикаторну!о часть, от1ичп Olrrcccч тем, что, с целью исключения влияния испыпгательного с т е и д я, а т я 1 ж е и О В ь! и; е и 11 я т О ч и О с т и 13 и е р ения перс1!ещени1! пятна н3 экране приоора, ЗО фокальная плоскость объектива совмещена с

234ДЗУ

Составитель И. Еремина

Редактор Б. Б. Федотов Тсхред Л. Я. Левина Корректор 3. И. Тарасова

Заказ 668,16 Тираж 465 Подписное

ЦИ11ИП1I Кгмитста по дсп".м изобрстеппй и открытий при Совете . Ьипстров СССР

Москва, Цсптр, пр. Ссрова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 плоскостью наблюдаемого пятна, а индикаторная часть выполнена в виде визирного устройства, настраиваемого на бесконечность, расположенного на отдельном столе.

Устройство для испытания электроннолучевых приборов на механическую устойчивость Устройство для испытания электроннолучевых приборов на механическую устойчивость 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх