Способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
239639
Союз Сооотских
Социалистических
Республик
"- :---/
Кл. 42l, 3/08
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 10.I I.1968 (№ 1216861/23-5) с присоединением заявки №вЂ”
Приаритет
Опубликовано 18.Ill.1969. Бюллетень № 11
Дата опубликования описания 11 VIII.1969
МПК G Oln
УДК 678.012.4:620.186 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Мииистроо
СССР
Авторы изобретения В. А. Белый, А. И. Свириденок, В. Г. Савкин и М. И. Петроковец
Отдел механики полимеров АН Белорусской ССР
Заявитель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ДЕФОРМАЦИИ
НАДМОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР ПОЛИМЕРОВ
Известен способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем однаосного,растяжения пленочного образца с .последующим визуальным митсроскопическим определением в проходящем поляризованном свете, искомой величины.
Для усовершенствования известного способа и .повышения точности определения предлагается полимерную пленку наносить на оптичесии прозрачную подложку, а затем производить механическое воздействие с помощью оптически прозрачного инденгора. Изменение сгруктуры во времени фиксируется с,помощью фото- и киносъемки.
На чертеже пртсведена схема осуществления предлатавмого способа.
Исследуемый образец 1 в виде тонкой пленки .полимерного материала, нанесенной на оптически прозрачную подложку (предметное стекло), устанавливают и закрепляют на столике микроскопа 2. На полимерную пленку, например, со стараны осветителя микроскапа, с апределенным усилием воздействуют оптически прозрачным индентором 8 заданной формы. Применение оптически прозрачного,индентора обеспечивает беспрепятственное прохождение светового потока от осветителя микроскопа и необходимое освещение исследуемого объекта поляризованным светом. В результате воздействия и нденто р л ч а поли м е рную пленку происходят определенные изменения надмолекулярных структур изучаемого обьекта. Эти изменения наблюдают и фиксируют на фотопленке и фотапластинках .при помощи
5 оптической системы микроскопа и кино- или фогоа|п|парата 4. Задавая движение изучаемому объекту в горизонтальной плоскости с определенной скоростью при одновременном воздействии индентора, можно исследавать де10 формативность надмолекуля рных структур, например, в процессе трения скольжения.
Предлагаемый способ может найти применение в различных науччо-и сследовательских учреждениях и заводских лабораториях при
15 исследовании деформативности надмолекулярных структур .в лроцессе контактного воздействия на них индентара заданной формы и будет опособсгвовать более глубокому изучению физических процессав, происходящих в поли20 мерах отод дейсгвием внешних нагрузак. Способ можно .использавать как экспресс-метод для оценки механических свойств покрытий.
П р е д м е т и з о б,р е т е.н и я
Способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем механического воздействия на полимерную
;пленку с последующим микроскопическим
50 определением изменений структуры в проходя239639
Составитель E. Розанцева
Редактор Л. А. Новожилова Техред А. А. Камышникова Корректор А. А. Березуева
Заказ Р880,/!4 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серова, д. 4
Типография, пр. Сапунова, 2 щем поляризованном свете, отличающийся тсм, что, с целью усовершенствования способа и повышения точности определения, полимерную пленку наносят на оптически прозрачную подложку, механическое воздействие производят с IIQMOIIIblo оптически прозрачного индентора и изменение структуры:во,времени фиксируют с помощью фото- и .киносъемки.
J
