Двойной микроскоп с поляризационной оптикой

 

Класс 42k, 48

421т, 14о1

K 124191

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Н, В. Королев

ДВОЙНОЙ МИКРОСКОП

Заявлено 30 мая 1958 г. за № 600785, 26 в Комитет по делам изобретений и открытий прп Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 22 за 1959 г.

Известны двойные микроскопы с поляризационной оптикой, предназначенные для изучения прозрачных шлифов в проходящем свете и непрозрачных (аншлифов) в отраженном свете.

Недостаткамн известных двойных микроскопов являются ограниченные возможности изучения оптических свойств микрозерен по методу

Друде, выявления микропрофиля зерен, определения отражательной способности поверхностей их, измерения толщины пленок интерференционным и др- методами.

В предлагаемом двойном микроскопе эти недостатки в значительной мере устраняются тем, что изучение зерен минералов и технических материалов в шли@ах и аншлифах проводится при больших углах падения лучей на изучаемую пове1рхность и тем, что в нем применена дополнительная диафрагма со щелью и цилиндрическая линза (в сочетании с поляризационной оптикой). Это и позволяет измерять оптические константы микрозерен по методу Друде или путем сравнения яркостей бликов, отраженных от границ шлиф-иммерсия, иммерсия-воздух, изучать микропрофиль зерен, наблюдая полосы равного наклона в тонкой пленке иммерсионной жидкости, нанесенной на исследуемую поверхность, измерять толщину окисных и солевых пленок интерференционным способом (для толщин пленок до 4 мк) и по оценке расстояний между изображениями щели (для толщин более 4 мк). Все это позволяет получать результаты оптических исследований, трудно достижимые другими известными методами и приборами.

На фиг. 1 изображена оптическая схема двойного миироскопа; на фиг. 2 — вид поля зрения микроскопа при введении цилиндрической линзы.

Яркий источник света 1 (ртутная лампа) посылает лучи через коллектор 2, светофильтр 8 и поляроид 4 и освещает горизонтальную щель

5. Изображение щели 5 через коллиматорный объектив б и микрообъектив 7 проектируется на поверхность изучаемого образца 8. Щель 9 шириной 1 мм, установленная в передней фокальной плоскости микрообъектива 7 перпендикулярно к щели б, задает плоскость падения лучей на поверхность шлифа. Изображение щели б на поверхности изучаемого образца можно рассматривать через второй микроскоп, состоящий из микрообъектива 10, поляризационного компенсатора Берека 11, объектива зрительной трубы 12, винтового окулярного микрометра с подвижной сеткой 18 и окуляром 14 и вращающегося поляроида анализатора 15.

Для измерения в ход лучей может вводиться линза 1б. Лучами, лежащими в плоскости, проходящей через оси микроскопов, эта линза изображает в плоскости сетки И заднюю фокальную плоскость микрообьектива 10. Лучами, лежащими в перпендикулярной плоскости, на сетку в этом случае по-прежнему изображается поверхность шлифа. Вид поля зрения микроскопа при введении цилиндрической линзы 1б характеризуется тем (фиг. 2), что в наблюдаемой освещенной площади каждой координате Х соответствует определенная точка на шлифе, а координато Y — определенный угол падения лучей на поверхность шлифа. В случае применения микрообъективов с апертурой 0,5 верх освещенной площади соответствует лучам с углом падения 15, а низ — лучам r» углом падения 75 .

Предмет изобретения

Двойной микроскоп с поляризационной оптикой, о тл и ч а ю щи йс я тем, что, с целью улучшения изучения оптических свойств микрозерен минералов и технических материалов в шлифах и аншлифах в от.раженном поляризованном свете при больших углах падения света (дс

75 ) к исследуемой поверхности, микроскоп снабжен дополнительной диафрагмой со щелью и цилиндрической линзой.

Фиг.Z

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор Н. С. Кутафина Гр. Пг, 170

Поди. к печ. 23.XI-59 r.

Тираж 640 Цена 25 коп.

Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 .п. л. Зак. 9939

Типографии Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Петровка, 14.