Оптическое устройство для осмотра внутренней поверхности труб

 

О П И С А Н И Е 257071

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства х

Кл. 42h, 34/12

Заявлено 13.XI I.1968 (Л" 1289364/25-28) с присоединением заявки ¹â€”

Приоритет

Опубликовано 11.XI.1969. Бюллетень ¹ 35.ЧПК G 025

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 531.715,27 (088.8) Дата опубликования описания 13.1% .1970

Авторы изобретения

Б. А. Иванов и В. А. Веснина

Заявитель C

ОПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСМОТРА ВНУТРЕННЕЙ

ПОВЕРХНОСТИ ТРУБ

Известны оптические устройства для осмотра внутренней поверхности труб, содержагцие источник света, конденсор, проектирующие линзы, микрообъсктив из двух двояl(oBblllóêлых линз и окуляр. Однако для осмотра внутренней поверхности трубы с помощью таких устройств необходимо произвести несколько поворотов устройства.

Описываемое устройство снабжено фигурной маркой, например, в;виде четырех пересекающихся дуг окружностей, расположенной в ходе световых лучей между конден сорохт и одной из проектирующих линз, и двумя многогранными пирамидами,,например четырехгранными, склеенными друг с другом основаниями и расположенными в ходе световых лучей симметрично относительно линз >микрообъектива так, что оптическая ось устройства проходит через вершины пирамид. >то позволяет повысить производительность осмотра труб.

На фиг. 1 представлена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — пластина с фигурной маркой; на фиг. 3 — изображение марки, видимое в окуляр.

Устройспво содержит источник света 1, конденсор 2, пластину 8 с фигурной маркой в виде четырех пересекающихся дуг 4 окружностей, проектирующую линзу 5 и микрообъектив, состоящий из двух двояковыпуклых линз б и 7, Пластина 8 расположена в ходе световых лучей между конденсором 2 и,просктпрующеи линзой 5. Устройство снабжено двумя многогранными пирамидами 8 и 9, напр имер четырехгранными, склеенными друг с другом основаниями А и расположенными в ходе световых лучей симметрично относительно линз б и 7 так, что оптическая ось устройства проходит через вершины Б и В пир амид.

Освещенная марка пластины 8 провктирует10 ся четырехгранной, пирамидой 8 на д ве пары диаметрально противоположных участков поверхности контролируемой трубы. Пирамидой

9, повернутой относительно пирамиды 8 на

180, изображение марки проектируется на

15 линзу 7 микрообъектива и далее на окуляр 10, в котором изображение марки наблюдается в виде четырех светящихся полос 11, расположенных по стсронам квадрата. О дефектах внутренней поверхности контролируемой тру20 бы судят по изогнутости светящихся:полос 11.

Предмет изобретения

Оптическое устройство для осмотра внутренней поверхности труб, содержащее источ25 ник света, конденсор, проектирующпе линзы, микрообъектив из двух двояковыпуклых линз и окуляр, отлика>оа>ееся тем, что, с целью повышения лроизводительности осмотра, оно снабжено фигурной маркой,,например, в виде четырех пересекающихся дуг окружностей, 257071

Составитель В. Иванова

Техред А. А, Камышникова

Корректор Г, С. Мухина

Редактор Громова

Заказ 712!1 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретешш и огкрытий при Совете Мшпгстров СССР

Москва Ж-35, Раушская иаб., д. 4,5

Типография, пр. Сапунова, 2 расположенной в ходе световых лучей между конденсором и одной из .проектирующих линз, и двумя многограяныхги пирамидами, например четырехгранными, склеенными, друг с дргохг основаниями и расположенными в ходе световых лучей симметрично относительно линз ми кроооъектива так, что оптическая ось устройства проходит через вершины пирамид.

Оптическое устройство для осмотра внутренней поверхности труб Оптическое устройство для осмотра внутренней поверхности труб 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх