Устройство для сортировки шариков

 

290)59

ОГ1ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соеетскиз

Социалистические

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

МПК G 01Ъ 5/08

Заявлено 28.V11.1969 (№ 1353658/29-33) с присоединением заявки №

Приоритет

Комитет по делам изобретений и открытий ори Совете Министре

СССР

УЛ К 681.185 (088,8) Опубликовано 22.XII 1970. Бюллетень М 2 за 1971

Дата опубликования описания 12.II.1971

Авторы изобретения

В. А. Светлаков, В. И, Павлов и Б, H. Захаров

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СОРТИРОВКИ ШАРИКОВ

Предлагаемое устройство предназначено для использования на заводах стекловолокна, производящих стеклянные шарики, которые предназначены для их дальнейшей переработки в волокно.

Известные в настоящее время устройства для тех же целей содержат установленные в горизонтальной плоскости параллельно и с калибровочным зазором цилиндрические валики и разгрузочные лотки.

Однако известные устройства не обеспечивают хорошего качества шариков, поскольку в калибровочный зазор между валиками могут проходить шарики неправильной формы.

Целью данного изобретения является повышение точности сортировки шариков.

Это достигается тем, что на концах цилиндрических валиков выполнены винтовые нарезки противоположного хода, образующие калибровочные отверстия диаметром, равным диаметру шарика.

На чертеже показано предлагаемое устройство.

Устройство содержит два цилиндрических вала 1 и 2, которые своими концами закреплены в подшипниках качения 8 и 4, в свою очередь установленные в стойки 5. Концы цилиндрических валиков выполнены с винтовыми нарезками б и 7 противоположного хода, образующими калибровочные отверстия 8 радиусом, равным заданному радиусу шарика.

В стойках предусмотрен i зел 9 для установки заданного калибровочного зазора.

Вращающиеся по стрелкам валы, приняв шарики, придают пм постоянное подвижное состояние над щелью. Шарики, имеющие размер по малой оси меньше калибровочного зазора S, проходят в щель и отбираются как некондиционные.

Изделия, оставшиеся над щелью, подхватываются винтами 6 и 7 и калибруются по диаметру и форме шара согласно отверстиям 8.

Шарики правильной формы заданным радиусо» проходят через отверстия и отбираются

15 в специальный бункер как годные. Шарики, оставшиеся над отверстиями 8, транспортируются винтамп 6 и 7 далее и отбираются как некондиционные.

Предмет изобретения

Устройство для сортировки шариков по диаметру, содержащее установленные в горизонтальной плоскости параллельно и с калибровочным зазором цилиндрические валики и разгрузочные лотки, отлачающееся тем, что, с целью повышения точности сортировки, на концах цилиндрических валиков выполнены винтовые нарезки противоположного хода, образующие калибровочные отверстия диамет30 ром, равным заданному диаметр шарика.

290159

Составитель Ю. И. Каллагова

Тс. ред А. А. Камышникова Корректор T. А. Уманец

Редактор М. Макарова

Типография, пр. Сапунова, 2

Изд. № 135 Заказ 243,5 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для сортировки шариков Устройство для сортировки шариков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для активного контроля изделий в машиностроении при необходимости частой переналадки с одного контролируемого размера на другой

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники

Изобретение относится к нефтегазодобывающей промышленности и может быть использовано для замера диаметра трехлопастных элементов бурильной колонны

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к определению диаметров и отклонений от круглости крупногабаритных цилиндрических деталей типа обечаек

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения диаметров

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля шаров

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительным приборам

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в метрологических устройствах для измерения ошибок профиля, включая измерение отклонения от крутости
Наверх